公开(公告)号：CN102812373B

公开(公告)日：2014-12-10

申请号：CN201180014113.1

申请日：2011-03-14

申请人： 国立大学法人九州工业大学 ,  国立大学法人奈良先端科学技术大学院大学 ,  公立大学法人首都大学东京

发明人： 佐藤康夫 ,  梶原诚司 ,  井上美智子 ,  米田友和 ,  李贤彬 ,  三浦幸也

IPC分类号： G01R31/28 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04

CPC分类号： G01R31/2884 ,  G01R31/2856 ,  G01R31/3016

摘要： 本发明提供一种半导体装置等，即使是在测试环境变动的情形下，也能更高精度地判断半导体集成电路的动作性能。一种半导体装置，能检测半导体集成电路所产生的劣化，包含：测定单元，测定温度及电压；决定单元，在各测试动作频率下对检测对象电路部判别测试内容是否在容许测试时序内被执行，决定所执行的最大的测试动作频率；算出单元，将最大测试动作频率换算成基准温度及基准电压下的最大测试动作频率并且也算出表示劣化的状态的劣化量，半导体集成电路具有监控区块电路，该监控区块电路监控用于供测定单元测定温度及电压的值的值，测定单元具有根据监控区块电路监控的值估计检测对象电路部的温度及电压的值的估计单元，算出单元使用估计单元所估计的温度及电压的值。

公开(公告)号：CN102812373A

公开(公告)日：2012-12-05

申请号：CN201180014113.1

申请日：2011-03-14

申请人： 国立大学法人九州工业大学 ,  国立大学法人奈良先端科学技术大学院大学 ,  公立大学法人首都大学东京

发明人： 佐藤康夫 ,  梶原诚司 ,  井上美智子 ,  米田友和 ,  李贤彬 ,  三浦幸也

IPC分类号： G01R31/28 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04

CPC分类号： G01R31/2884 ,  G01R31/2856 ,  G01R31/3016

摘要： 本发明提供一种半导体装置等，即使是在测试环境变动的情形下，也能更高精度地判断半导体集成电路的动作性能。一种半导体装置，能检测半导体集成电路所产生的劣化，包含：测定单元，测定温度及电压；决定单元，在各测试动作频率下对检测对象电路部判别测试内容是否在容许测试时序内被执行，决定所执行的最大的测试动作频率；算出单元，将最大测试动作频率换算成基准温度及基准电压下的最大测试动作频率并且也算出表示劣化的状态的劣化量，半导体集成电路具有监控区块电路，该监控区块电路监控用于供测定单元测定温度及电压的值的值，测定单元具有根据监控区块电路监控的值估计检测对象电路部的温度及电压的值的估计单元，算出单元使用估计单元所估计的温度及电压的值。

公开(公告)号：CN101828121A

公开(公告)日：2010-09-08

申请号：CN200880112186.2

申请日：2008-10-16

申请人： 国立大学法人九州工业大学

发明人： 宫濑纮平 ,  温晓青 ,  梶原诚司

IPC分类号： G01R31/3183 ,  G01R31/28 ,  H03K19/23

CPC分类号： H03K19/23 ,  G01R31/318371

摘要： 本发明提供一种能够指定不会降低测试的检出能力的未定值位、并在短时间内决定该未定值位的逻辑值的逻辑值决定方法及逻辑值决定程序。对组合电路(11)的相对应的外部输入线与外部输出线之间的相异逻辑值的总数进行调整的未定值位的逻辑值决定方法，包括第一逻辑值决定作业、第二逻辑值决定作业和第三逻辑值决定作业，所述第一逻辑值决定作业，在外部输出线为逻辑值而外部输入线为未定值的情况下，将未定值位的逻辑值设定为外部输出线的逻辑值；所述第二逻辑值决定作业，在外部输出线为未定值而外部输入线为逻辑值的情况下，通过合理化操作得到未定值位的逻辑值；所述第三逻辑值决定作业，在外部输入线及外部输出线为未定值的情况下，计算外部输出线取逻辑值0的概率和取逻辑值1的概率，基于其概率差来决定外部输入线的未定值位的逻辑值；所述逻辑值决定方法重复第三逻辑值决定作业，直到相异逻辑值的总数达到目标值。

公开(公告)号：CN102144167B

公开(公告)日：2014-03-12

申请号：CN200980134361.2

申请日：2009-07-30

申请人： 国立大学法人九州工业大学

发明人： 宫濑纩平 ,  温晓青 ,  梶原诚司 ,  大和勇太

IPC分类号： G01R31/3183 ,  G01R31/28 ,  G06F11/22

CPC分类号： G01R31/318547

摘要： 本发明的目的在于，着眼于内部信号线，即使是实际速度扫描测试，也不对测试数据量、故障检测率、性能、电路设计产生影响，即使是如测试压缩的情况那样输入位中的不定值(自由)位较少的情况，也能够减小载入跳变以及成品率损失风险，进而也能够实现测试中的功耗的削减。转换装置1具备：特定内部信号线抽取部3；特定内部信号线区别部5；确定部7，其确定输入位中的输入不定值位以及输入逻辑位；和分配部9，其对包含所确定的输入不定值位的输入位中的不定值位分配逻辑值1或者逻辑值0。确定部7，具备输入不定值位确定部11和输入逻辑位确定部13。

公开(公告)号：CN102144167A

公开(公告)日：2011-08-03

申请号：CN200980134361.2

申请日：2009-07-30

申请人： 国立大学法人九州工业大学

发明人： 宫濑纩平 ,  温晓青 ,  梶原诚司 ,  大和勇太

IPC分类号： G01R31/3183 ,  G01R31/28 ,  G06F11/22

CPC分类号： G01R31/318547

摘要： 本发明的目的在于，着眼于内部信号线，即使是实际速度扫描测试，也不对测试数据量、故障检测率、性能、电路设计产生影响，即使是如测试压缩的情况那样输入位中的不定值(自由)位较少的情况，也能够减小载入跳变以及成品率损失风险，进而也能够实现测试中的功耗的削减。转换装置1具备：特定内部信号线抽取部3；特定内部信号线区别部5；确定部7，其确定输入位中的输入不定值位以及输入逻辑位；和分配部9，其对包含所确定的输入不定值位的输入位中的不定值位分配逻辑值1或者逻辑值0。确定部7，具备输入不定值位确定部11和输入逻辑位确定部13。

公开(公告)号：CN101828122A

公开(公告)日：2010-09-08

申请号：CN200880112187.7

申请日：2008-10-16

申请人： 国立大学法人九州工业大学

发明人： 宫濑纮平 ,  温晓青 ,  梶原诚司

IPC分类号： G01R31/3183 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318307 ,  G01R31/3183 ,  G01R31/318544 ,  G01R31/318594

摘要： 本发明提供一种能够在保证因依次施加于组合电路的输入线的第一输入向量、第二输入向量而被敏化的组合电路内的路径的前提下，从第一输入向量、第二输入向量提取无关位的无关位提取方法及无关位提取程序。所述无关位提取方法是从第一输入向量(V1)、第二输入向量(V2)提取第一无关位(X1)、第二无关位(X2)的无关位提取方法，所述第一输入向量(V1)、第二输入向量(V2)由0和1的逻辑值位的组合构成，并被依次施加于进行了扫描设计的时序电路内的组合电路或单独的组合电路(10)的输入线，所述无关位提取方法具有提取工序，该提取工序在保证因第一输入向量(V1)、第二输入向量(V2)的施加而被敏化的组合电路(10)内的一部分或者全部路径(Pi)的敏化的前提下，从第一输入向量(V1)、第二输入向量(V2)提取第一无关位(X1)、第二无关位(X2)。