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公开(公告)号：CN108957301A
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201710389552.X
申请日：2017-05-27
申请人： 深圳市中兴微电子技术有限公司
发明人： 黄超
IPC分类号： G01R31/317 , G01R31/3183 , G01R31/3185 , G01R31/3187
CPC分类号： G01R31/31704 , G01R31/3183 , G01R31/318371 , G01R31/318583 , G01R31/3187
摘要： 本文公布了一种测试方法、测试装置及可测试芯片内置电路。测试方法包括：在芯片的异步数据路径上插入时序隔离单元，使得相应数据路径的接收端在扫描测试模式下为固定值；配置低速测试时钟，读入插入时序隔离单元后所述芯片的布局布线PR网表，在自动测试向量发生器ATPG环境中产生测试向量；其中，在所述扫描测试模式下所述时序隔离单元输出信号恒为所述固定值。本申请有效平衡了低速stuck‑at的测试向量数目与PR对低速测试模式TIMING的收敛时间，不仅可减少测试成本，而且可加快测试进展，为芯片实现后续环节节省大量时间。
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公开(公告)号：CN104635141B
公开(公告)日：2018-07-03
申请号：CN201510052924.0
申请日：2015-01-30
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2884 , G01B7/20 , G01R27/08 , G01R31/28 , G01R31/3183
摘要： 本发明实施例公开了一种集成电路检测方法、装置及系统，涉及电子领域，解决了能够检测处于上电状态下的印制电路板上的集成电路的电气参数的问题。具体方案为N个检测电路，每个所述检测电路连接一个不同的集成电路，所述检测电路设置有第一检测点和第二检测点，所述检测电路用于检测与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数，所述N为大于等于1的整数。本发明用于检测印制电路板上的集成电路的电气参数的过程中。
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公开(公告)号：CN104969083B
公开(公告)日：2017-08-25
申请号：CN201480007271.8
申请日：2014-01-20
申请人： 阿尔卡特朗讯
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/3183 , G01R31/318307 , G01R31/318357 , G01R31/318544 , G01R31/318558 , G06F11/3664 , G06F11/3688 , G06F17/5022 , G06F17/5036 , G06F17/5045 , G06F2217/14 , G06F2217/78 , G06F2217/80
摘要： 用于动态地修改针对被测系统的扫描操作的调度的系统和方法包括处理模块，该处理模块被配置为基于扫描操作、经由测试访问端口将输入测试数据应用至被测系统，并且包括调度器，该调度器适于向处理模块提供针对多个扫描操作的调度。调度器包括被测系统的电路模型。该电路模型包括至少一个属性，至少一个属性提供针对被测系统的至少一部分的增强信息。调度器适于基于电路模型来调度扫描操作，并且基于至少一个属性来修改该调度。处理模块被配置为接收经修改的被调度的扫描操作，并且基于经修改的被调度的扫描操作来将输入测试数据应用至被测系统。
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公开(公告)号：CN104635141A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201510052924.0
申请日：2015-01-30
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2884 , G01B7/20 , G01R27/08 , G01R31/28 , G01R31/3183
摘要： 本发明实施例公开了一种集成电路检测方法、装置及系统，涉及电子领域，解决了能够检测处于上电状态下的印制电路板上的集成电路的电气参数的问题。具体方案为N个检测电路，每个所述检测电路连接一个不同的集成电路，所述检测电路设置有第一检测点和第二检测点，所述检测电路用于检测与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数，所述N为大于等于1的整数。本发明用于检测印制电路板上的集成电路的电气参数的过程中。
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公开(公告)号：CN101073016B
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN200580041810.0
申请日：2005-12-08
申请人： 株式会社爱德万测试
IPC分类号： G01R31/3183 , G06F9/40 , G01R31/319
CPC分类号： G06F9/44 , G01R31/3183 , G01R31/318307 , G01R31/318314 , G01R31/319 , G01R31/31907 , G01R31/31908 , G06F8/61
摘要： 本发明揭示一种用于管理模块化测试系统中的多个硬件测试模块版本、软件组件和测试器操作系统(TOS)版本的方法。所述方法包含在档案中安装与所述模块化测试系统兼容的所述TOS版本，和在所述档案中安装对应于所述硬件测试模块版本的卖方软件组件。所述方法进一步包含：创建用于描述对应于所述硬件测试模块版本和所述TOS版本发明的卖方软件组件的系统简档；为所述模块化测试系统选择系统简档，其中所述系统简档包含一组兼容的卖方软件组件和用于测试特定硬件测试模块版本的选定TOS；和激活所述模块化测试系统上的所述选定TOS。
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公开(公告)号：CN101025746A
公开(公告)日：2007-08-29
申请号：CN200710003108.6
申请日：2007-01-31
申请人： 韦瑞吉(新加坡)私人有限公司
发明人： 克里斯丁·诺尔·卡斯特顿 , 卡利·康纳利 , 伊彦·莱斯曼
CPC分类号： G01R31/31703 , G01R31/3183 , G01R31/318314
摘要： 在一个实施例中，公开了一种用于推断测试结果之间的关系的方法，包括：1)从对多个被测器件执行测试的测试仪接收有序测试数据；2)当接收到DUT标识符时，确定对于所述DUT标识符之一所标识的DUT是否存在数据结构；3)当确定所述数据结构不存在时，创建所述数据结构并且将i)与所述DUT标识符之一相关联的任何测试结果与ii)所述数据结构相关联；以及4)当确定所述数据结构存在时，创建子数据结构作为所述数据结构的子，并且将i)与所述DUT标识符之一相关联的任何测试结果与ii)所述子数据结构相关联，其中所述子数据结构推论性地指示出与之相关联的测试结果是再次测试的结果。其他实施例也被公开。
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公开(公告)号：CN104321655B
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201380022743.2
申请日：2013-05-10
申请人： 德克萨斯仪器股份有限公司 , 德克萨斯仪器日本有限公司
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/318555 , G01R31/3177 , G01R31/3183 , G01R31/318533 , G01R31/318536 , G01R31/318544 , G01R31/318569 , G01R31/318594
摘要： 提供能够生成用于通过(例如集成电路中的)扫描链进行扫描测试的测试模式控制信号的方法和集成电路的各种实施例。该集成电路包括测试图案检测块(202)、计数器电路(204)和控制电路(206)。该测试图案检测块经配置以接收检测图案(208)，并基于该检测图案检测对应于测试图案的移位阶段的第一图案和对应于测试图案的捕捉阶段的第二图案，并基于该图案的检测而生成触发信号。控制电路基于计数状态生成并控制测试模式控制信号。计数器电路经配置以基于所检测的图案，生成对应于移位阶段、捕捉阶段和时钟信号(209)中的一种的一个或更多个计数状态。
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公开(公告)号：CN104969083A
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201480007271.8
申请日：2014-01-20
申请人： 阿尔卡特朗讯
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/3183 , G01R31/318307 , G01R31/318357 , G01R31/318544 , G01R31/318558 , G06F11/3664 , G06F11/3688 , G06F17/5022 , G06F17/5036 , G06F17/5045 , G06F2217/14 , G06F2217/78 , G06F2217/80
摘要： 用于动态地修改针对被测系统的扫描操作的调度的系统和方法包括处理模块，该处理模块被配置为基于扫描操作、经由测试访问端口将输入测试数据应用至被测系统，并且包括调度器，该调度器适于向处理模块提供针对多个扫描操作的调度。调度器包括被测系统的电路模型。该电路模型包括至少一个属性，至少一个属性提供针对被测系统的至少一部分的增强信息。调度器适于基于电路模型来调度扫描操作，并且基于至少一个属性来修改该调度。处理模块被配置为接收经修改的被调度的扫描操作，并且基于经修改的被调度的扫描操作来将输入测试数据应用至被测系统。
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公开(公告)号：CN104321655A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201380022743.2
申请日：2013-05-10
申请人： 德克萨斯仪器股份有限公司 , 德克萨斯仪器日本有限公司
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/318555 , G01R31/3177 , G01R31/3183 , G01R31/318533 , G01R31/318536 , G01R31/318544 , G01R31/318569 , G01R31/318594
摘要： 本发明提供能够生成用于通过(例如集成电路中的)扫描链进行扫描测试的测试模式控制信号的方法和集成电路的各种实施例。该集成电路包括测试图案检测块(202)、计数器电路(204)和控制电路(206)。该测试图案检测块经配置以接收检测图案(208)，并基于该检测图案检测对应于测试图案的移位阶段的第一图案和对应于测试图案的捕捉阶段的第二图案，并基于该图案的检测而生成触发信号。控制电路基于计数状态生成并控制测试模式控制信号。计数器电路经配置以基于所检测的图案，生成对应于移位阶段、捕捉阶段和时钟信号(209)中的一种的一个或更多个计数状态。
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公开(公告)号：CN101027566B
公开(公告)日：2010-10-27
申请号：CN200580032272.9
申请日：2005-09-21
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G06F17/5022 , G01R31/3183 , G01R31/318357 , G06F11/263
摘要： 本发明提供一种测试模拟器，其用来模拟半导体装置的测试，此测试模拟器包括：测试图样(pattern)保持组件，其保持着应施加至半导体装置的既存的测试图样；装置输出保持组件，其在施加既存的测试图样至半导体装置中时预先保持着应由半导体装置所得到的输出；测试图样产生组件，其产生应施加至半导体装置中的新的测试图样；测试图样判断组件，其判断“新的测试图样是否与既存的测试图样相同”；以及模拟跳过(skip)组件，在新的测试图样与既存的测试图样相同的情况下，不对半导体装置施加新的测试图样，借由装置输出保持组件中的输出被读出，以作为由半导体装置对新的测试图样所发出的输出，以跳过此模拟测试的至少一部份。
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