管道壁厚的检测装置及检测方法

    公开(公告)号:CN110836648B

    公开(公告)日:2021-06-04

    申请号:CN201911197797.8

    申请日:2019-11-28

    申请人: 天津大学

    IPC分类号: G01B15/02

    摘要: 一种管道壁厚的检测装置及检测方法,该检测装置包括环形架;带电小球;环设于被测管道外的线圈,其通电后产生的磁场使带电小球以管道外径和小球半径之和为半径做圆周运动;设置在环形架外部的两个平行金属板,用于提供电场并与通电后的线圈作用使带电小球绕管道做匀速圆周运动;设置在环形架上的探测单元,用于采集灰度图像;以及管道支承单元,用于支撑被测管道两端。本发明的检测方法有效快速、高效准确,无需管道旋转,就能获得精确管壁厚度,实现测量管道内壁厚度的同时,还可以分析密度变化即是否有腐蚀发生。

    基于传感器阵列的有机气体检测识别芯片

    公开(公告)号:CN111912877A

    公开(公告)日:2020-11-10

    申请号:CN201910386617.4

    申请日:2019-05-09

    申请人: 天津大学

    IPC分类号: G01N27/00

    摘要: 本发明公开基于传感器阵列的有机气体检测识别芯片,在反应腔体两侧设置气体输入通道和气体输出通道;在反应腔体内,自气体输入通道至气体输出通道的方向上设置石墨烯、硫化钼、碲化钼和硫化铼,在石墨烯、硫化钼、碲化钼和硫化铼的两侧均设置金电极,一侧接地,一侧从反应腔体内伸出,构成检测电路。本发明的技术方案在气体传感上,表现出了极高的灵敏度,实现超低浓度的有机气体检测,通过该阵列传感单元对不同有机气体的交叉灵敏度,可以建立有机气体的传感响应数据库,利用线性判别算法,对气体传感数据库进行有效学习,从而有效识别待测有机气体的类型和浓度。

    一种二维纳米半导体材料掺杂方法

    公开(公告)号:CN111900091A

    公开(公告)日:2020-11-06

    申请号:CN201910368584.0

    申请日:2019-05-05

    申请人: 天津大学

    IPC分类号: H01L21/385 H01L29/34

    摘要: 本发明公开一种二维纳米半导体材料掺杂方法,利用紫外光照和局部电场联合作用,实现了对二维纳米材料的可控性掺杂,可以形成单极性的n型器件和p型器件,且掺杂后的p型和n型器件;掺杂可逆,掺杂速度超快,掺杂周期在100ms以内;掺杂是非易失的,掺杂后的器件可在空气环境下稳定工作,且没有任何迟滞现象。该光电掺杂工艺与传统的CMOS工艺兼容:即利用传统的紫外光刻工艺,就可以实现二维纳米材料的空间选择性p型和n型掺杂。

    一种超薄原子力显微镜测头

    公开(公告)号:CN110045153B

    公开(公告)日:2020-10-27

    申请号:CN201910280691.8

    申请日:2019-04-09

    申请人: 天津大学

    IPC分类号: G01Q60/24 G01Q60/38

    摘要: 本发明公开了一种超薄原子力显微镜测头,该原子力显微镜测头采用一种超薄探针固定模块,探针固定模块包括:悬臂梁探针、压电陶瓷、探针夹持器、第一反射面、第一反射装置和第二反射装置,悬臂梁探针安装在探针夹持器中,悬臂梁探针的针尖位于探针固定模块的最低处,第一反射面位于悬臂梁探针的一侧,第一反射装置位于悬臂梁探针和第一反射面之间,第二反射装置位于悬臂梁探针和激光器之间,第三激光束被第二反射装置反射后从探针固定模块射出并形成第四激光束。本发明原子力显微镜测头中探针固定模块的Z向有效厚度仅为数毫米,可直接安装在工作距离大于该厚度的光学或电子显微镜下实现不同设备的集成联用。

    一种旋涂工艺制备薄膜的在线光学测量系统与方法

    公开(公告)号:CN111665202A

    公开(公告)日:2020-09-15

    申请号:CN202010529973.X

    申请日:2020-06-11

    申请人: 天津大学

    IPC分类号: G01N21/25 G01N21/01

    摘要: 本发明公开了一种旋涂工艺制备薄膜的在线光学测量系统及方法,包括依次连接的光源模块(100)、入射光束调节模块(200)、反射光束调节模块(300)、光束收集模块(400)和光谱采集模块(500),所述光源模块(100)输出复色非偏振光,经所述入射光束调节模块(200)形成具有设定照明面积的照明光束;由照明光束产生的反射光束经所述反射光束调节模块(300)调整传播方向,经由所述光束收集模块(400)耦合到所述光谱采集模块(500)。与现有技术相比,本发明通过调整光谱仪的采样频率,匹配不同转速的旋涂工艺设备;并且,采用大口径光纤准直器与粗芯径多模光纤的配合使用,有效地提高了样品反射光束的收集能力;光路结构简单,扩展性好,光器件互换性好。

    基于彩色相机的二维材料形貌快速表征系统和方法

    公开(公告)号:CN110793942A

    公开(公告)日:2020-02-14

    申请号:CN201910970207.4

    申请日:2019-10-12

    申请人: 天津大学

    IPC分类号: G01N21/55 G01B11/24 G01B11/06

    摘要: 本发明涉及一种基于彩色相机的二维材料形貌快速表征系统及方法,包括三色光源模块、分束器、测量光路、彩色成像模块与数据处理模块,其中:三色光源模块,用于整个系统的照明;分束器,用于将三色光源模块产生的照明光束分成两路光束,分别为测量光束与参考光束;彩色成像模块,分时控制光路通断,使用彩色相机分别对待测样品和标准样品进行成像;将两次成像时的光强图像按照感光面元上红、绿、蓝三个通道分别读出,获得样品三色光下的显微光强图像;数据处理模块,使用差分反射的计算方法,得到对应于红光、绿光、蓝光下被测样品的显微差分反射信号;利用模型反演与数据拟合的方法,获得各像素被测二维材料的厚度,结合像素排布,完成对二维材料形貌的表征。

    基于螺线模体的X射线硬化伪影归一化校正的方法

    公开(公告)号:CN109813739A

    公开(公告)日:2019-05-28

    申请号:CN201811648544.3

    申请日:2018-12-30

    申请人: 天津大学

    IPC分类号: G01N23/046

    摘要: 本发明涉及两种具有同样发明构思的模体,并基于模体给出X射线CT射束硬化校准方法。其中的一种X射线CT射束硬化校准模体,包括上下部分,上部分为测量结构,主体为柱体,柱体底面外边缘为阿基米德螺线,中心有台阶状圆孔,相邻层圆孔直径等于或略大于螺线最大半径与最小半径之差,外螺线参数以及内层层数根据实际测量需求进行修改;下部分为辅助结构,从上到下分为持握区、对中区和夹持区,持握区表面粗糙便于操作;对中区为光滑圆柱,用于进行探测器对中操作;在操作过程中,根据所需穿透距离选择对应的内层半径,先将辅助结构中的对中区置于视场中央进行对中,之后下移模体将测量结构中的所选半径对应的内层台阶置于视场中央做360度扫描。

    基于二维光学点阵的漫反射型表面形貌测量方法

    公开(公告)号:CN109579747A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811173059.5

    申请日:2018-10-09

    申请人: 天津大学

    IPC分类号: G01B11/30 G01N21/88

    CPC分类号: G01B11/30 G01N21/88

    摘要: 本发明涉及一种基于二维光学点阵的漫反射型表面形貌测量方法,包括:搭建生成二维光学点阵的光路系统,由此光路系统生成的二维光学点阵被整体放大后照射到被测物体表面,经由充当“小孔成像”的“小孔”的漫反射成像透镜后由相机完成图像采集,保存的图像用于后续的表面形貌解算;将标准平面样品放置在被测物体位置上,二维光学点阵会投射到其表面并进行漫反射成像,利用相机采集成像结果;采集完标准平面的点阵图像后,将被测物体放在同样位置,利用相同方法对被测物体表面进行测量;经过图像处理提取出二维光学点阵中各个点元素的位置偏移量;求解出被测形貌。