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公开(公告)号：CN118957730A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411100146.3
申请日：2024-08-12
申请人： 天津大学四川创新研究院 , 四川天瓴创新科技集团有限公司 , 四川莱仪特天瓴科技有限公司
摘要： 本发明公开了聚合物辅助双相浸渍提拉生长连续有机单晶的方法及应用，包括以下步骤：在室温下，将清洁的衬底垂直浸入双相溶液中，当衬底全部浸入双相溶液中时，将衬底以5‑20μm/s的速度从提拉溶液中垂直移出，待衬底完全从中拉出时，在衬底上得到连续生长有机单晶，所述双相溶液的下层为聚乙烯醇水溶液，上层为有机半导体溶液，上下两层溶液互不相溶，所述聚乙烯醇的浓度为0.1‑10 mg/mL，所述有机半导体的浓度为0.1‑1 mg/mL。本发明成功规避了传统单相浸渍提拉中高浓度均相成核所带来的负面影响，PVA的引入有助于半导体分子在基板上的粘附，减少了流体不稳定和传质紊乱，有效地促进了有机单晶的高质量连续生长。
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公开(公告)号：CN118797446A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202411259903.1
申请日：2024-09-10
申请人： 天津大学四川创新研究院 , 四川莱仪特天瓴科技有限公司
IPC分类号： G06F18/241 , G06F18/2135 , G06F18/10 , G06N3/006 , G06N3/126 , G01B11/06
摘要： 本发明是一种基于太赫兹检测的涂层分层厚度测量方法，涉及太赫兹波技术领域，包括以下步骤：实验样品准备；太赫兹信号预处理；提取时频域特征；采用核主成分分析进行降维；对数据集进行划分和均值归一化处理；分类器训练；训练支持向量机分类模型；层数判定；厚度测量。本发明通过预先对涂层样品进行分层处理，为后续厚度测量提供准确的模型构建依据；通过精确的太赫兹信号预处理和特征提取，提高测量精度；利用核主成分分析进行降维，优化计算效率和分类器性能；采用改进型麻雀搜索算法对支持向量机进行优化，提高分类器的分类准确率；结合广义的Rouard方法和色散衰减改进的遗传算法，准确计算了各层的厚度，保证测量的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN118758193A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202411140608.4
申请日：2024-08-20
申请人： 天津大学四川创新研究院 , 四川莱仪特天瓴科技有限公司
摘要： 本发明涉及曲面多层结构厚度测量技术领域，公开了一种基于太赫兹时域光谱的曲面多层结构厚度测量方法机系统，其方法包括：对厚度测量装置进行校准，所述厚度测量装置包括机械臂、太赫兹发射器、太赫兹接收器和激光传感器；设定所述厚度测量装置的测量参数和待测样品的样品信息；根据所述测量参数和样品信息控制所述厚度测量装置对待测样品进行测量，获得待测样品的太赫兹时域光谱数据；对所述太赫兹时域光谱数据进行核主成分分析，并基于改进型麻雀搜索算法优化的支持向量机确定待测样品的涂层层数和厚度。本发明允许在可变条件下实现高精度和强鲁棒性，术能够实现多层厚度的实时、精确监测。
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公开(公告)号：CN117711517A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311764735.7
申请日：2023-12-21
申请人： 天津大学四川创新研究院 , 四川莱仪特天瓴科技有限公司
IPC分类号： G16C20/20 , G06F16/906 , G16C20/90 , G06F18/23213
摘要： 本发明涉及太赫兹数据库定量分析技术领域，具体公开了一种太赫兹数据库定量分析方法及系统，该方法包括：获取待分析样品的光谱数据和分子结构，对光谱数据进行处理获得目标数据；根据待分析样品分子结构构建数据索引式，提取数据库中对应标准分子结构光谱数据；基于数据库中各分子结构光谱数据，建立拟合模型。通过对比拟合模型与目标数据的光谱关系，判断其一致性。若匹配，拟合模型的分子结构比例即视为待分析样品的比例；若不匹配，对拟合模型进行调整，直至光谱数据与目标数据相一致。通过光谱数据分析、建模、拟合以及迭代优化，实现了对待分析样品内部分子结构比例的精确定量分析，为复杂样品的化学成分分析提供了快速可靠的解决方案。
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公开(公告)号：CN117153296A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202311232957.4
申请日：2023-09-22
申请人： 天津大学四川创新研究院 , 四川莱仪特天瓴科技有限公司
摘要： 本发明涉及光谱数据库技术领域，具体公开了一种太赫兹数据库的结构，包括：登录模块负责获取登录者身份信息，确保合法用户的访问。访问模块与登录模块相连，对登录者进行操作访问，记录操作信息包括数据上传和浏览。其中，上传模块通过连接访问模块和数据库，实现对登录者上传的数据的审核、分类归档。浏览模块与登录、访问模块及数据库相连接，获取登录者的数据浏览索引条件，从数据库中检索出相应的存储数据信息。此外，浏览模块还获取存储数据的权限信息，并据此与登录者身份的权限信息相比较，判断是否允许登录者进行数据浏览。综上该结构提供了完善的数据管理及访问机制，确保数据安全、权限合规，为各类用户提供高效、可靠的数据操作体验。
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公开(公告)号：CN118777253A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202411283932.1
申请日：2024-09-13
申请人： 天津大学四川创新研究院 , 四川莱仪特天瓴科技有限公司
IPC分类号： G01N21/3586
摘要： 本发明是一种利用光泵浦太赫兹探测表征氮化镓载流子迁移率的方法，涉及太赫兹信号探测技术领域，包括以下步骤：选择合适尺寸和质量的氮化镓材料作为待测试样品；搭建光泵浦太赫兹探测系统；对待测试的样品进行探测，太赫兹探测装置探测到的信号传输至数据处理系统进行处理和分析，计算得到氮化镓材料中的载流子迁移率和光电导率；缺陷评估，根据得到的氮化镓材料载流子迁移率和光电导率，结合已知的氮化镓材料性能参数和缺陷对性能的影响规律，间接评估氮化镓材料中的缺陷情况。本发明可以高精度地获取载流子迁移率和光电导率的数据，更准确地反映材料内部的电学性质，进而更精确地评估氮化镓材料中的缺陷情况。
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公开(公告)号：CN117309801A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202311232914.6
申请日：2023-09-22
申请人： 天津大学四川创新研究院 , 四川莱仪特天瓴科技有限公司
IPC分类号： G01N21/3581 , G16C60/00
摘要： 本发明涉及物质结构预测技术领域，具体公开了一种物质结构与太赫兹光谱数据之间的可逆预测方法，包括：首先获取待测物质的实验光谱数据和晶体结构，然后基于晶体结构建立晶体模型，并使用DFT(密度泛函理论Density Functional Theory)进行模拟，生成模拟光谱数据。接下来，对模拟光谱数据进行数据处理，与实验光谱数据进行对比分析。如果模拟数据与实验数据不匹配，系统会对晶体模型进行调整，并再次进行DFT模拟，直到匹配。一旦模拟数据与实验数据一致，就会提取特征峰和共振频率，并将它们与太赫兹数据库中的特征峰进行聚合，以预测待测物质的分子结构。这个方法结合了晶体结构模拟和光谱数据分析，以高度准确的方式识别待测物质的分子结构。
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公开(公告)号：CN117942062B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410353625.X
申请日：2024-03-27
申请人： 天津大学四川创新研究院 , 四川天瓴创新科技集团有限公司
IPC分类号： A61B5/0507 , G06T7/00 , G06N20/00 , G16H50/20 , A61B5/00
摘要： 本发明公开了一种基于太赫兹波段的皮肤屏障破损检测系统及方法。方法包括以下步骤：S1.建立太赫兹皮肤检测模型；S2.获取皮肤数据信号；S3.将皮肤数据信号导入太赫兹皮肤检测模型进行分析处理并生成光谱图像；S4.生成皮肤屏障破损诊断结果。系统包括皮肤数据信号采集模块、分析处理模块、光谱及成像模块、皮肤屏障破损诊断模块。本发明利用太赫兹波段（包括连续波和脉冲波）对太赫兹皮肤屏障结合光谱与成像的相关技术手段，对皮肤屏障进行检测和诊断，解决现有无损皮肤检测手段对于环境和个体差异敏感的问题。
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公开(公告)号：CN117942062A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202410353625.X
申请日：2024-03-27
申请人： 天津大学四川创新研究院 , 四川天瓴创新科技集团有限公司
IPC分类号： A61B5/0507 , G06T7/00 , G06N20/00 , G16H50/20 , A61B5/00
摘要： 本发明公开了一种基于太赫兹波段的皮肤屏障破损检测系统及方法。方法包括以下步骤：S1.建立太赫兹皮肤检测模型；S2.获取皮肤数据信号；S3.将皮肤数据信号导入太赫兹皮肤检测模型进行分析处理并生成光谱图像；S4.生成皮肤屏障破损诊断结果。系统包括皮肤数据信号采集模块、分析处理模块、光谱及成像模块、皮肤屏障破损诊断模块。本发明利用太赫兹波段（包括连续波和脉冲波）对太赫兹皮肤屏障结合光谱与成像的相关技术手段，对皮肤屏障进行检测和诊断，解决现有无损皮肤检测手段对于环境和个体差异敏感的问题。
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公开(公告)号：CN117452675A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202311626248.4
申请日：2023-11-30
申请人： 天津大学 , 四川莱仪特天瓴科技有限公司
摘要： 本发明涉及光电子的太赫兹脉冲产生技术领域，公开了一种基于双色场相位锁定的太赫兹场产生方法，包括：通过光学系统搭建，使用扩束镜组对光路中的条纹光斑进行放大。获取放大后的光斑频率图和相位图，提取其周期频率点。分析周期频率点的相位变化信息，与预期相位变化阈值对比，判断是否需要对压电陶瓷位置进行调整。若相位变化信息在阈值范围内，认定不需调整；反之，则对压电陶瓷位置进行调整移动。这一过程通过对光场相位进行精确控制，提高脉冲的稳定性的同时，简化整体结构，降低太赫兹磁场产生的成本。
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