-
公开(公告)号：CN107850641A
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201680032730.7
申请日：2016-06-06
Applicant: 小利兰·斯坦福大学理事会 , 伊利诺斯大学理事会
Abstract: 公开了用于验证集成电路，尤其是由其构成的片上系统的改进的方法和结构。我们的方法——我们称为快速错误检测——硬件(QED-H)——有利地快速检测和修复SoC硬件部件内的异常(漏洞)——并且特别地定制的不必是软件可编程的SoC硬件部件。进一步有利地，本公开的方法与现有的快速错误检测(QED)技术兼容，并且还可扩展至目标软件可编程部件。与现有方法强烈对比，本公开的方法表示新系统验证方法，其在软件和硬件部件中无缝且系统地建立验证检查，因而使整个SoC的所有数字部件的极快速错误检测和定位能够有利地产生生产率和上市时机收益。
-
公开(公告)号：CN107850641B
公开(公告)日：2020-08-21
申请号：CN201680032730.7
申请日：2016-06-06
Applicant: 小利兰·斯坦福大学理事会 , 伊利诺斯大学理事会
Abstract: 公开了用于验证集成电路，尤其是由其构成的片上系统的改进的方法和结构。我们的方法——我们称为快速错误检测——硬件(QED‑H)——有利地快速检测和修复SoC硬件部件内的异常(漏洞)——并且特别地定制的不必是软件可编程的SoC硬件部件。进一步有利地，本公开的方法与现有的快速错误检测(QED)技术兼容，并且还可扩展至目标软件可编程部件。与现有方法强烈对比，本公开的方法表示新系统验证方法，其在软件和硬件部件中无缝且系统地建立验证检查，因而使整个SoC的所有数字部件的极快速错误检测和定位能够有利地产生生产率和上市时机收益。
-
公开(公告)号：CN107710166A
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201680034767.3
申请日：2016-06-06
Applicant: 小利兰·斯坦福大学理事会 , 纽约大学
IPC: G06F11/273 , G06F11/30 , H01L21/66
CPC classification number: G06F11/3466 , G06F11/2236 , G06F11/3003 , G06F11/3024 , G06F11/3079
Abstract: 公开了用于验证集成电路的改进的方法和结构，特别是由其构造的片上系统。我们将根据本公开的方法和结构称为符号快速错误检测或符号QED。符号QED的说明性特征包括：1)适用于任何片上系统(SoC)设计，只要包含至少一个可编程处理器；2)广泛适用于处理器内核、加速器和非内核组件内的逻辑漏洞；3)不需要故障复现；4)漏洞定位期间不需要人工干预；5)不需要跟踪缓冲区；6)不需要断言；和7)使用称为“变化检测器”的硬件结构，仅引入小面积占用。符号QED展示了：1)在设计阶段嵌入“变化检测器”的系统的(和自动的)方法；2)快速错误检测(QED)测试，以较短的错误检测延迟和高覆盖率检测漏洞；和3)形式化技术，根据漏洞检测实现漏洞定位和生成最小漏洞跟踪。
-
公开(公告)号：CN107710166B
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN201680034767.3
申请日：2016-06-06
Applicant: 小利兰·斯坦福大学理事会 , 纽约大学
IPC: G06F11/273 , G06F11/30 , H01L21/66
Abstract: 公开了用于验证集成电路的改进的方法和结构，特别是由其构造的片上系统。我们将根据本公开的方法和结构称为符号快速错误检测或符号QED。符号QED的说明性特征包括：1)适用于任何片上系统(SoC)设计，只要包含至少一个可编程处理器；2)广泛适用于处理器内核、加速器和非内核组件内的逻辑漏洞；3)不需要故障复现；4)漏洞定位期间不需要人工干预；5)不需要跟踪缓冲区；6)不需要断言；和7)使用称为“变化检测器”的硬件结构，仅引入小面积占用。符号QED展示了：1)在设计阶段嵌入“变化检测器”的系统的(和自动的)方法；2)快速错误检测(QED)测试，以较短的错误检测延迟和高覆盖率检测漏洞；和3)形式化技术，根据漏洞检测实现漏洞定位和生成最小漏洞跟踪。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.049 seconds)
