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公开(公告)号：CN118395921A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410581822.7
申请日：2024-05-11
IPC分类号： G06F30/333
摘要： 本发明公开了一种端口仲裁功能的构建方法、装置、设备及存储介质，属于电子设计自动化验证领域，考虑到在构建不同待测设计的端口仲裁功能时，除了存在差异的几个特定参数外，所需数据基本相同，因此本发明中可预先通过硬件验证语言构建多个仲裁功能模板，那么在为参考模型构建与待测设计相同的端口仲裁功能时，一方面通过待测设计的端口仲裁功能的类型（第一目标类型）选择出仲裁功能模板，另一方面通过第一预设对应关系确定出构建待测设计的端口仲裁功能的所需参数，通过将所需参数与仲裁功能模板结合便可以快速得到构建端口仲裁功能的基础数据，通过对于仲裁功能模板的预构建与查找，可降低人工精力投入，从而提升了待测设计的验证效率。
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公开(公告)号：CN117331776A
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN202311269496.8
申请日：2023-09-27
摘要： 本申请公开了一种基于粒子群算法的芯片验证方法、装置、设备及介质，涉及芯片验证技术领域，包括：若待验证芯片的初始功能覆盖率小于预设功能覆盖率则确定一组约束条件；基于预设惯性权重计算策略确定本次迭代的惯性权重，基于预设学习因子计算策略计算本次迭代的学习因子的值；根据惯性权重和学习因子的值计算粒子群中的每一粒子在约束条件下的位置，并基于目标位置对待验证芯片进行仿真验证，然后基于仿真验证结果得到本次迭代的覆盖率文件；根据本次迭代的覆盖率文件以及之前每一次迭代的覆盖率文件判断当前功能覆盖率是否小于预设功能覆盖率；若是则进行下一次迭代，否则退出迭代。可见，本申请能够提高芯片验证时的覆盖率收敛速度和准确性。
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公开(公告)号：CN117521568A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311606363.5
申请日：2023-11-28
IPC分类号： G06F30/33 , G06F30/327
摘要： 本发明公开了一种参考模型生成方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片验证技术领域，包括：基于功能覆盖点建立寄存器传输级内部变量与激励内部变量之间的目标映射关系；根据获取到的目标寄存器传输级内部变量读取出目标寄存器传输级文件，对目标寄存器传输级文件进行分析以确定目标寄存器传输级内部变量所参与的目标运算逻辑算法；根据目标映射关系确定获取到的目标激励内部变量与目标运算逻辑算法之间的联系；根据外部输入的目标信息和上述联系生成验证平台所需的目标参考模型。本发明通过激励内部变量与寄存器传输级内部变量的映射，生成参考模型，从而节省模块级验证时编写参考模型所需的时间和人力成本，提高了芯片验证的效率。
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公开(公告)号：CN117331775A
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN202311265667.X
申请日：2023-09-27
IPC分类号： G06F11/26
摘要： 本发明公开了一种参考模型调用方法、装置、设备及存储介质，涉及计算机技术领域，包括：从待测子系统的输入端获取初始事务，将初始事务进行解析处理以确定待调用的模块级参考模型；将初始事务传输至待调用的模块级参考模型以便待调用的模块级参考模型利用初始事务进行模拟测试得到模拟测试后事务，将模拟测试后事务发送至计分板；从待测子系统的输出端获取待测子系统利用初始事务进行测试得到的实际测试后事务，将实际测试后事务发送至计分板以便计分板基于模拟测试后事务和实际测试后事务判断当前测试是否满足测试预期。本发明通过调用验证完成的模块级参考模型，避免重新编写子系统级参考模型，节省时间和人力成本，提高了芯片的验证效率。
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公开(公告)号：CN117076342A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311095083.2
申请日：2023-08-29
摘要： 本发明提出了闪存写操作中兼容不连续地址的方法、系统、设备和介质，该方法包括：接收地址调用指令，将目标闪存的不连续地址存入数组中；随机选取数组索引值作为目标闪存中字线地址；将块地址随机；存储第一写操作的字线地址和块地址。一次写操作完成后，继续接收地址调用，如果判断块地址小于块地址阈值，且目标闪存地址不连续，则块地址加一，字线地址不变，在块地址到达最大值后块地址归零，索引值加一获取对应的字线地址，存储多次写操作的字线地址和块地址。基于该方法，还提出了闪存写操作中兼容不连续地址的系统、设备和介质。本发明实现了不连续地址的写操作，增强了地址管理方法的兼容性，多笔操作的地址累加处理可以对闪存全面的测试。
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公开(公告)号：CN116302967A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310091743.3
申请日：2023-02-03
摘要： 本发明提出了一种NVMe模型构建及测试方法及系统，其中，方法包括：由NVMe模型构建及测试平台实现的以下步骤：定义功能指令，定义的所述功能指令为程序空壳；下发对所述功能指令的编写任务，并接收返回的对应所述功能指令的逻辑代码；基于定义的所述功能指令构建NVMe模型；对所述NVMe模型进行分步编译；对所述NVMe模型进行仿真测试。本发明的有益效果包括：本发明的方法通过利用宏定义能够被反复编译并以最后一次编译结果为准的特点结合分步编译能够使得测试平台的测试环境具有更强的拓展性、更容易merge，方便多人协作以及方便进行test注错，并且能够提升仿真测试效率，缩短NVMe模型的开发周期。
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公开(公告)号：CN116126244A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202310089353.2
申请日：2023-02-03
摘要： 本发明涉及一种NVMe命令分层处理方法、验证方法、设备及介质。NVMe命令分层处理方法将NVMe命令所做的处理总结归纳为相应的事务模块，所述事务模块配置与外界交互的TLM端口；并将NVMe命令处理结构分层为执行层、调动层和连接层，所述调动层能够模式化的调动执行层的事务模块来进行命令处理和注错，支持拓展性强、可移植性强的NVMC验证。验证方法对基于NVMe命令分层处理方法NVMC进行验证，既能正向验证能够实现协议规定的逻辑功能，又能灵活注错检验是否存在漏洞缺陷。本申请基于NVMe命令分层处理方法、验证方法的设备和存储介质，同样能实现上述效果。
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公开(公告)号：CN115692234A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211447017.2
申请日：2022-11-18
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/027
摘要： 本申请公开了一种提高晶圆图案套刻精度的量测方法、系统及终端，该方法包括：定义芯片中包括多种光刻胶；对涂覆有任一光刻胶的晶圆进行原子层沉积和CD‑SEM测量，获取参考线宽；对涂覆有光刻胶的另一晶圆进行CD‑SEM测量，通过调整量测参数，使任一光刻胶的实际线宽相比于参考线宽的收缩尺寸为1‑3nm；记录与任一光刻胶相匹配的量测参数；汇总芯片中每种光刻胶所匹配的量测参数构建量测参数数据库；根据量测参数数据库进行光刻胶图案测量。该系统包括：定义模块、参考线宽获取模块、收缩尺寸限定模块、量测参数记录模块、量测参数数据库构建模块以及光刻胶图案测量模块。通过本申请，能够消除相邻层的光刻胶之间由于CD‑SEM量测所导致的误差，从而大大提高套刻精度。
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公开(公告)号：CN118964153A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202410954314.9
申请日：2024-07-16
摘要： 本申请实施例提供了一种芯片业务性能的测试方法，其中，该方法包括：在响应目标测试请求为目标测试用例筛选运行参数的过程中，根据目标芯片的参考运行信息以及参考运行参数为目标测试用例预测目标运行参数；控制服务器按照目标运行参数对目标芯片运行目标测试用例，得到目标芯片的目标运行信息；根据目标运行信息预测目标运行参数和目标测试请求之间的目标匹配信息；在目标匹配信息用于指示目标运行参数和目标测试请求之间满足目标匹配条件的情况下，控制服务器调用目标测试用例和目标运行参数测试目标芯片在目标业务模式下的目标业务性能。通过本申请，解决对芯片业务性能的测试效率较低问题，达到提高对芯片业务性能的测试效率的效果。
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公开(公告)号：CN118504484A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410667568.2
申请日：2024-05-27
IPC分类号： G06F30/33 , G06F30/327
摘要： 本申请实施例提供了一种芯片设备的验证方法、装置、存储介质和电子设备，其中，该方法包括：从验证器上提取报错信息，其中，验证器被设置为在产生了报错信息时继续执行芯片设备的验证过程；在从验证器上提取到当前产生的目标报错信息的情况下，根据目标报错信息所指示的目标验证错误的目标错误类型和目标错误类型所对应的目标报错条件，检测目标报错信息在目标芯片设备的验证过程中所对应的目标报错状态；根据目标报错状态控制验证器继续处理验证过程。通过本申请，解决了芯片设备的验证效率较低的问题，进而达到了提高芯片设备的验证效率的效果。
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