产品定位方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110188756B

    公开(公告)日:2021-02-05

    申请号:CN201910471702.0

    申请日:2019-05-31

    IPC分类号: G06K9/32

    摘要: 本申请揭示一种产品定位方法,包括采集产品图像;对产品图像进行积分图计算;根据计算的积分图,采用差分计算方式获取产品图像中各个顶点的坐标。本申请将积分图算法应用于产品定位中,这样在产品图像质量不高如图像模糊不便于采用图像边缘算法或模板匹配算法对产品进行定位时,采用积分图算法可以快速划分出产品图像与背景区域,从而对产品进行定位,而不会受到图像质量不高的限制。

    产品定位方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110188756A

    公开(公告)日:2019-08-30

    申请号:CN201910471702.0

    申请日:2019-05-31

    IPC分类号: G06K9/32

    摘要: 本申请揭示一种产品定位方法,包括采集产品图像;对产品图像进行积分图计算;根据计算的积分图,采用差分计算方式获取产品图像中各个顶点的坐标。本申请将积分图算法应用于产品定位中,这样在产品图像质量不高如图像模糊不便于采用图像边缘算法或模板匹配算法对产品进行定位时,采用积分图算法可以快速划分出产品图像与背景区域,从而对产品进行定位,而不会受到图像质量不高的限制。

    电芯检测打光装置
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN215263172U

    公开(公告)日:2021-12-21

    申请号:CN202120967240.4

    申请日:2021-05-07

    IPC分类号: G01N21/88 G01N21/01

    摘要: 本申请公开一种电芯检测打光装置。电芯检测打光装置包括反射组件、打光组件以及成像装置。反射组件的中央区域限定检测工位,检测工位用于放置电芯。打光组件设于反射组件的上方,打光装置的中央位置形成有成像孔。成像装置设于打光组件的上方,被配置为通过成像孔对电芯进行成像。打光组件被配置为向检测工位分别提供第一打光束和第二打光束。第一打光束作用于电芯的表面,配合成像装置以对电芯的表面进行成像;第二打光束作用于反射组件且经反射组件反射后作用于电芯的侧面,配合成像装置对电芯的侧面进行成像。本申请提供的技术方案能够解决现有技术中的检测电芯时间长且效率低的问题。

    电芯检测装置
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN215263185U

    公开(公告)日:2021-12-21

    申请号:CN202121012442.X

    申请日:2021-05-12

    IPC分类号: G01N21/892 G01N21/01

    摘要: 本申请公开一种电芯检测装置。电芯检测装置包括输送机构、第一检测组件和第二检测组件。输送机构形成有检测镂空区域,输送机构用于输送电芯,且电芯的背面暴露于检测镂空区域。第一检测组件设置于输送机构的上方,用于对电芯的正面进行检测。第二检测组件设于输送机构的下方且对应检测镂空区域,用于对电芯的背面进行检测。本申请提供的技术方案能够解决现有技术中需停机对电芯正面和背面进行检测的问题。