芯片上间隙测量
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111465821A

    公开(公告)日:2020-07-28

    申请号:CN201880080468.2

    申请日:2018-10-10

    IPC分类号: G01C19/5726 G01C25/00

    摘要: MEMS陀螺仪包括以驱动频率驱动的悬挂弹簧质块系统的检测质块。在驱动运动期间,检测质块相对于感测电极移动,使得检测质块和感测电极的重叠变化。科里奥利力导致检测质块相对于感应电极移动。感测由于科里奥利力而引起的重叠和移动,并且基于由于重叠以及科里奥利力的变化而产生的信号的幅度来确定角速度。