集成检测装置
    2.
    发明公开
    集成检测装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN110542628A

    公开(公告)日:2019-12-06

    申请号:CN201910809333.1

    申请日:2015-08-31

    IPC分类号: G01N15/02

    摘要: 本申请涉及集成检测装置。该检测装置形成在具有第一面、第二面和腔的半导体材料的本体中。检测区域形成在腔中,并且气泵集成在本体中并且被配置成迫使气体朝向检测区域运动。光学型检测系统或者阿尔法粒子检测器至少部分地布置在检测区域中。

    集成检测装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105466816B

    公开(公告)日:2019-11-26

    申请号:CN201510548269.8

    申请日:2015-08-31

    IPC分类号: G01N15/00

    摘要: 本申请涉及集成检测装置。该检测装置形成在具有第一面、第二面和腔的半导体材料的本体中。检测区域形成在腔中,并且气泵集成在本体中并且被配置成迫使气体朝向检测区域运动。光学型检测系统或者阿尔法粒子检测器至少部分地布置在检测区域中。

    集成检测装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105466816A

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201510548269.8

    申请日:2015-08-31

    IPC分类号: G01N15/00

    摘要: 本申请涉及集成检测装置。该检测装置形成在具有第一面、第二面和腔的半导体材料的本体中。检测区域形成在腔中,并且气泵集成在本体中并且被配置成迫使气体朝向检测区域运动。光学型检测系统或者阿尔法粒子检测器至少部分地布置在检测区域中。

    集成光电子器件和光电子系统

    公开(公告)号:CN204613453U

    公开(公告)日:2015-09-02

    申请号:CN201420860754.X

    申请日:2014-12-30

    IPC分类号: G02B6/42

    摘要: 提供了一种集成光电子器件和光电子系统以克服现有技术不能形成基于光学通信并且包括更多器件的三维系统的缺点。集成电子器件由第一表面和第二表面界定,并且包括:由半导体材料制成的本体,在本体内部形成在探测器和发射器之间选择的至少一个光电子部件;以及光学路径,该光学路径至少部分地为引导类型的并且在第一表面和第二表面之间延伸,光学路径穿过本体。光电子部件通过光学路径光学耦合到自由空间的第一部分和自由空间的第二部分,该自由空间的第一部分和第二部分被分别布置在第一表面上方和第二表面下方。根据本公开的实施例的光电子器件和光电子系统可以形成基于光学通信并且包括更多器件的三维系统。