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公开(公告)号：CN109581473A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811524655.3
申请日：2018-12-13
申请人： 四川理工学院 , 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 , 西南科技大学 , 成都理工大学
IPC分类号： G01T3/00
摘要： 本发明公开一种涂硼微孔中子成像探测器及其测量方法，解决现有技术制作工艺复杂、穿丝工艺繁琐、工作可靠性受阳极丝稳定性影响较大，微孔表面涂硼工艺难度大及中子探测效率低的问题。本发明成像探测器包括场笼，阴极板，GEM膜，WSA阳极，石英玻璃片，探测器主体，石英玻璃片设狭缝和硼层。本发明测量方法为中子与硼发生核反应并生成带电粒子。带电粒子进入工作气体电离产生电子，在场笼电场的作用下电子漂移到GEM膜上进行电子信号倍增，并被WSA阳极获取，得到中子位置信息，进行信号探测。本发明制作过程工艺简便，采用玻璃作为涂硼中子探测器的基体材料，减少中子散射对中子测量造成的影响，使中子位置测量结果更加准确。
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公开(公告)号：CN107272049B
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201710569098.6
申请日：2017-07-13
IPC分类号： G01T5/02
摘要： 本发明公开了一种基于脉冲宽度的数字n‑γ甄别方法，包括：在混合辐射场中采用探测器和采集卡进行自触发式数字波形Sn采样并存储；将采样数字波形Sn进行三次样条插值处理，获得4倍采样点的数字波形S4n；数字波形S4n经一阶导数法处理，获得数字波形S4n的峰值点P和峰值Vp；计算最大白噪音Vn与触发阈值VT的比值R，且还为脉冲起止点幅值Vs与峰值Vp的比值；利用比值R，反推获得起止点幅值Vs，并确定脉冲的起始点K和截止点Q；起始点K与截止点Q之间的宽度即为脉冲宽度W，利用脉冲宽度W获得n‑γ甄别结果。该甄别方法具有计算简便、排除主观参数设定影响、甄别准确等优点，在辐射探测技术领域具有很高的实用价值和推广价值。
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公开(公告)号：CN107272049A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710569098.6
申请日：2017-07-13
IPC分类号： G01T5/02
CPC分类号： G01T5/02
摘要： 本发明公开了一种基于脉冲宽度的数字n-γ甄别方法，包括：在混合辐射场中采用探测器和采集卡进行自触发式数字波形Sn采样并存储；将采样数字波形Sn进行三次样条插值处理，获得4倍采样点的数字波形S4n；数字波形S4n经一阶导数法处理，获得数字波形S4n的峰值点P和峰值Vp；计算最大白噪音Vn与触发阈值VT的比值R，且还为脉冲起止点幅值Vs与峰值Vp的比值；利用比值R，反推获得起止点幅值Vs，并确定脉冲的起始点K和截止点Q；起始点K与截止点Q之间的宽度即为脉冲宽度W，利用脉冲宽度W获得n-γ甄别结果。该甄别方法具有计算简便、排除主观参数设定影响、甄别准确等优点，在辐射探测技术领域具有很高的实用价值和推广价值。
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公开(公告)号：CN109581473B
公开(公告)日：2020-10-09
申请号：CN201811524655.3
申请日：2018-12-13
申请人： 四川理工学院 , 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 , 西南科技大学 , 成都理工大学
IPC分类号： G01T3/00
摘要： 本发明公开一种涂硼微孔中子成像探测器及其测量方法，解决现有技术制作工艺复杂、穿丝工艺繁琐、工作可靠性受阳极丝稳定性影响较大，微孔表面涂硼工艺难度大及中子探测效率低的问题。本发明成像探测器包括场笼，阴极板，GEM膜，WSA阳极，石英玻璃片，探测器主体，石英玻璃片设狭缝和硼层。本发明测量方法为中子与硼发生核反应并生成带电粒子。带电粒子进入工作气体电离产生电子，在场笼电场的作用下电子漂移到GEM膜上进行电子信号倍增，并被WSA阳极获取，得到中子位置信息，进行信号探测。本发明制作过程工艺简便，采用玻璃作为涂硼中子探测器的基体材料，减少中子散射对中子测量造成的影响，使中子位置测量结果更加准确。
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公开(公告)号：CN109118947A
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：CN201810804933.4
申请日：2018-07-20
IPC分类号： G09F3/02
摘要： 本发明公开了一次成型制作目标防伪图案的核孔防伪薄膜的方法，解决了现有技术中工艺复杂，防伪膜机械性能不好，防伪力度差的问题。本发明的方法，利用金属Gd对热中子吸收特性，在塑料薄膜前放置具有镂空防伪图案的Gd mask薄片后，放于热中子束流上进行辐照，在所述塑料薄膜得到核孔组合形成的防仿图案。本发明基于热中子束流辐照，利用金属Gd对热中子吸收特性，一次成型制备核孔防伪膜图案。本发明提高了防伪膜制作门槛，降低了核孔防伪膜图案制作的复杂程度，提高了核孔防伪膜的机械强度，更利于应用。
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公开(公告)号：CN110703307A
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201910987134.X
申请日：2019-10-17
IPC分类号： G01T1/36
摘要： 本发明公开了一种核废物包装体双模同步扫描检测装置，包括转动平台，转动平台连接有转动驱动机构；转动平台的周围设置有第一升降平台、第二升降平台以及第三升降平台，第一升降平台上设置有平移平台，平移平台连接有平移驱动机构，且平移平台上设置有单HPGe探测器系统；第二升降平台上设置有透射源和准直器组件；第三升降平台上设置有矩阵探测器系统；矩阵探测器系统的矩阵探测器、透射源和准直器组件以及单HPGe探测器系统的单HPGe探测器均朝向转动平台。本发明与现有的单HPGe探测器相比，工作效率显著提高，与现有的阵列式的HPGe探测器相比，造价低，在兼顾经济性和普适性的同时，可显著提升TGS的扫描效率，缩短测量时间，提高层析γ扫描速度。
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公开(公告)号：CN110376638A
公开(公告)日：2019-10-25
申请号：CN201910655353.8
申请日：2019-07-19
摘要： 本发明公开了一种能够确保寻峰的准确性、提高寻峰的有效性的基于反卷积迭代射线能谱分辨率增强的寻峰方法。该基于反卷积迭代射线能谱分辨率增强的寻峰方法首先通过蒙特卡罗模拟探测器对射线能谱的响应，得到不同能量射线的响应能谱，建立响应矩阵H；探测器测量获得能谱向量y；然后在采用Gold反卷积迭代进行计算，将Gold反卷积迭代后得到的能谱采用一阶导数寻峰法进行寻峰。采用该基于反卷积迭代射线能谱分辨率增强的寻峰方法能够提高射线能谱的能量分辨率，减弱其不对称的严重程度，保证寻峰的准确性。
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公开(公告)号：CN102608649B
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201210052742.X
申请日：2012-03-02
申请人： 成都理工大学
IPC分类号： G01T1/36
摘要： 本发明为统计分布式γ或X射线能谱解谱方法，解决已有方法通用性差、工作量大、精度差的问题。本发明针对γ或X射线全能峰中的高斯部分，建立了多个根据γ或X射线探测特点得到的具有各自物理意义的参数，并阐明了这些参数的求解过程。其技术特点是在γ或X射线探测仪器稳定或模拟条件不变的情况下，只需计算一次参数，便可长期利用这些参数进行能谱拟合，使解谱实现过程简单化、通用化，避免了传统能谱拟合函数或模拟能谱展宽函数解谱方法中参数值多变和意义缺乏的不足，同时提高了γ或X射线能谱分析的分析速度和精度。
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公开(公告)号：CN117405707A
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202311401713.4
申请日：2019-10-17
摘要： 本发明公开了一种核废物包装体双模同步扫描检测装置，包括转动平台，转动平台连接有转动驱动机构；转动平台的周围设置有第一升降平台、第二升降平台以及第三升降平台，第一升降平台上设置有平移平台，平移平台连接有平移驱动机构，且平移平台上设置有单HPGe探测器系统；第二升降平台上设置有透射源和准直器组件；第三升降平台上设置有矩阵探测器系统；矩阵探测器系统的矩阵探测器、透射源和准直器组件以及单HPGe探测器系统的单HPGe探测器均朝向转动平台。本发明与现有的单HPGe探测器相比，工作效率显著提高，与现有的阵列式的HPGe探测器相比，造价低，在兼顾经济性和普适性的同时，可显著提升TGS的扫描效率，缩短测量时间，提高层析γ扫描速度。
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公开(公告)号：CN113418943A
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN202110683070.1
申请日：2021-06-21
IPC分类号： G01N23/20066
摘要： 本发明公开了一种康普顿背散射墙体空鼓检测系统，包括阵列探测器和控制器，还包括一准直器和一罩体、一二维平移机构。本发明用圆环形的阵列探测器探测伽马射线与墙体中的物质相互作用产生康普顿背散射信号，根据背散射信号差异检测出墙体中的空鼓，可利用阵列探测器的数据与二维平移机构的位移数据相互匹配，进一步定量测量墙体空鼓的具体位置和空鼓大小，即实现墙体空鼓的定量测量。用户可自由选择手持和自动化两种检测方式，采集到的信号和处理数据可实时传输到手机等终端机，实现空鼓在线和离线检测。本发明的检测系统及检测方法，在提高空鼓检测效率的同时兼顾特殊位置的空鼓检测，兼具便携性和易操作性，利于设备推广使用。
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