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公开(公告)号:CN107109309A
公开(公告)日:2017-08-29
申请号:CN201680006678.8
申请日:2016-01-05
申请人: 戴纳洛伊有限责任公司
CPC分类号: C11D7/3209 , C11D3/2068 , C11D7/261 , C11D7/263 , C11D7/3218 , C11D7/3263 , C11D11/0047 , G03F7/425 , H01L21/02068 , H01L21/0275 , H01L21/31133 , H01L24/11 , H01L24/13 , H01L24/14 , H01L2224/11002 , H01L2224/1132 , H01L2224/1146 , H01L2224/1147 , H01L2224/11849 , H01L2224/131 , H01L2224/14181 , H01L2224/16145 , H01L2224/16227 , H01L2924/00012 , H01L2924/014 , H01L2924/00014
摘要: 本公开涉及用于从基板上除去物质的溶液和方法。任选地,该物质可包括在半导体晶片上的光致抗蚀剂。该溶液可包含氢氧化季铵、第一胺、第二胺和第三胺,其中胺总量不大于该溶液的总重量的大约95重量%。另外,溶液可包含至少一种胺、氢氧化季铵和水并且不含非水的极性溶剂,其中该溶液具有不大于大约60厘泊的动态粘度。