-
公开(公告)号：CN119024012A
公开(公告)日：2024-11-26
申请号：CN202410557487.7
申请日：2024-05-07
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种探针座位置调整方法，包括有提供测试机，测试机具有探针固定部、第一探针座以及第二探针座，第一探针座具有第一探针，第一探针包括有多个第一侦测针体，相邻的第一侦测针体的针尖具有第一间距，第二探针座具有第二探针，第二探针包括有多个第二侦测针体，相邻的第二侦测针体的针尖具有第二间距。接着抓取第一探针座，使第一探针座连接探针固定部。然后以视觉辨识模块撷取多个第一侦测针体的第一影像，使多个第一侦测针体的针尖位于第一影像内。接着根据第一影像调整第一探针座的位置，以调整多个第一侦测针体的针尖的水平位置。利用上述方法本发明还提供一种可换探针座的测试机用以对应具有不同间距的接点的待测物。
-
公开(公告)号：CN113495176B
公开(公告)日：2024-12-20
申请号：CN202110326823.3
申请日：2021-03-26
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 本发明提出一种探针卡及其探针模组。所述探针卡包含第一补强板、固定框体、探针模组及滑动框体。第一补强板包含上表面、下表面与安装孔，安装孔的内壁具有内侧凸缘。固定框体设置于第一补强板的上表面且环绕安装孔。探针模组设置于安装孔中，其包含上表面、下表面以及位于上表面与下表面之间的外侧凸缘。外侧凸缘包含实体区及多个缺口区，且外侧凸缘的实体区抵靠第一补强板的内侧凸缘。滑动框体设置于固定框体的内壁且可沿一轴向滑动于释放位置与固定位置之间。滑动框体的内壁设置有多个压制部，当滑动框体位于释放位置时，各压制部分别地对应探针模组的外侧凸缘的各缺口区，当滑动框体位于固定位置时，各压制部压制探针模组的外侧凸缘的实体区。
-
公开(公告)号：CN114355150A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202111156641.2
申请日：2021-09-30
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种电路板检测设备，其包含有承载一电路板且能转动的一置料载台、能各自沿三轴向移动的二探针装置，以及一能沿三轴向移动以对位电路板的电性接点的影像捕获设备。各所述探针装置包含有一安装座、一探针单元、一转接座及至少一传输线。所述探针单元包含有一能转动地设置于安装座且与转接座相对固定的探针座，以及设于探针座的至少一探针。所述传输线具有一与探针电性导通地连接于探针单元的第一接头，以及一固定于转接座的第二接头。所述传输线用于供另一传输线连接于第二接头，此传输线连接方式能使量测稳定性佳，所述置料载台的转动便于检测的进行。
-
公开(公告)号：CN112611916A
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN202011028953.0
申请日：2020-09-25
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种可调式探针装置，包含有一固定探针及一活动探针，且至少其中之一为具有同轴结构的讯号探针，活动探针能线性滑移地以其接地单元抵接于固定探针的接地单元。本发明揭示另一种可调式探针装置，包含有一用于接地的第一活动探针以及具有同轴结构的一固定探针及一第二活动探针，且能选择性地以二活动探针其中的任一作为一作用探针，使得作用探针与固定探针的点触端位于同一平面以同时点触待测物的二导电接点，且作用探针能线性滑移地以其接地单元抵接于固定探针的接地单元。由此，本发明的探针间距可调整，因此可降低电路板阻抗测试设备的成本。
-
公开(公告)号：CN111044764A
公开(公告)日：2020-04-21
申请号：CN201910773442.2
申请日：2019-08-21
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种具有微机电探针的探针模块及其制造方法，包含有一电路基板以及至少一通过微机电制程形成于电路基板一植针表面的微机电探针，微机电探针包含有一针身以及一针尖，针身包含有第一、二端部以及一纵长部，纵长部具有面向相反的第一、二方向的第一、二表面，针尖自针身朝第一方向延伸而出且更经由镭射切割成渐缩状而具有一尖端，第一、二端部至少其中之一具有一朝第二方向凸出于第二表面的支撑座，支撑座连接于植针表面而使纵长部及针尖悬空于植针表面上方；由此，微机电探针的针尖的尖端微小而可适用于微小电子元件的检测，且制造方法省时并具有高合格率。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114355150B
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN202111156641.2
申请日：2021-09-30
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种电路板检测设备，其包含有承载一电路板且能转动的一置料载台、能各自沿三轴向移动的二探针装置，以及一能沿三轴向移动以对位电路板的电性接点的影像捕获设备。各所述探针装置包含有一安装座、一探针单元、一转接座及至少一传输线。所述探针单元包含有一能转动地设置于安装座且与转接座相对固定的探针座，以及设于探针座的至少一探针。所述传输线具有一与探针电性导通地连接于探针单元的第一接头，以及一固定于转接座的第二接头。所述传输线用于供另一传输线连接于第二接头，此传输线连接方式能使量测稳定性佳，所述置料载台的转动便于检测的进行。
-
公开(公告)号：CN118362860A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202311462828.4
申请日：2023-11-06
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 一种电路板检测设备，其包含基座、卡盘组件、第一龙门支架以及第一探针组件。卡盘组件设置于基座的上表面，其包含设置于基座的上表面的线性驱动模块、设置于线性驱动模块上的旋转马达、以及设置于旋转马达上的承载盘。承载盘用以承载电路板且可受线性驱动模块驱动而沿第一轴向移动，此外还可受旋转马达驱动而相对于第一旋转轴旋转。第一龙门支架固设于基座的上表面且包含第一横梁。第一横梁沿垂直于第一轴向的一第二轴向延伸而横跨于线性驱动模块之上且包含一第一探针导轨。第一探针组件设置于第一探针导轨而可沿第二轴向移动。
-
公开(公告)号：CN119024020A
公开(公告)日：2024-11-26
申请号：CN202410652269.1
申请日：2024-05-24
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种快接式探针座，用于测试电路基板，快接式探针座包括基座、同轴接头、机械固定接头以及探针夹持部。其中，基座具有第一表面以及对应的第二表面，同轴接头设置于基座，且其一端位于第一表面侧，同轴接头与测试机台耦接用以传输高频信号。机械固定接头设置于第一表面，用以与测试机台连接，其中机械固定接头相较于同轴接头更靠近基座的中心，探针夹持部与第二表面连接，探针夹持部的一端用于连接有对应其中一种间距的电性接点的高频探针，其与同轴接头电性连接。
-
公开(公告)号：CN112611916B
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202011028953.0
申请日：2020-09-25
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种可调式探针装置，包含有一固定探针及一活动探针，且至少其中之一为具有同轴结构的讯号探针，活动探针能线性滑移地以其接地单元抵接于固定探针的接地单元。本发明揭示另一种可调式探针装置，包含有一用于接地的第一活动探针以及具有同轴结构的一固定探针及一第二活动探针，且能选择性地以二活动探针其中的任一作为一作用探针，使得作用探针与固定探针的点触端位于同一平面以同时点触待测物的二导电接点，且作用探针能线性滑移地以其接地单元抵接于固定探针的接地单元。由此，本发明的探针间距可调整，因此可降低电路板阻抗测试设备的成本。
-
公开(公告)号：CN113495176A
公开(公告)日：2021-10-12
申请号：CN202110326823.3
申请日：2021-03-26
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 本发明提出一种探针卡及其探针模组。所述探针卡包含第一补强板、固定框体、探针模组及滑动框体。第一补强板包含上表面、下表面与安装孔，安装孔的内壁具有内侧凸缘。固定框体设置于第一补强板的上表面且环绕安装孔。探针模组设置于安装孔中，其包含上表面、下表面以及位于上表面与下表面之间的外侧凸缘。外侧凸缘包含实体区及多个缺口区，且外侧凸缘的实体区抵靠第一补强板的内侧凸缘。滑动框体设置于固定框体的内壁且可沿一轴向滑动于释放位置与固定位置之间。滑动框体的内壁设置有多个压制部，当滑动框体位于释放位置时，各压制部分别地对应探针模组的外侧凸缘的各缺口区，当滑动框体位于固定位置时，各压制部压制探针模组的外侧凸缘的实体区。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
10
records
(took 0.025 seconds)
