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公开(公告)号：CN112611916B
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202011028953.0
申请日：2020-09-25
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种可调式探针装置，包含有一固定探针及一活动探针，且至少其中之一为具有同轴结构的讯号探针，活动探针能线性滑移地以其接地单元抵接于固定探针的接地单元。本发明揭示另一种可调式探针装置，包含有一用于接地的第一活动探针以及具有同轴结构的一固定探针及一第二活动探针，且能选择性地以二活动探针其中的任一作为一作用探针，使得作用探针与固定探针的点触端位于同一平面以同时点触待测物的二导电接点，且作用探针能线性滑移地以其接地单元抵接于固定探针的接地单元。由此，本发明的探针间距可调整，因此可降低电路板阻抗测试设备的成本。
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公开(公告)号：CN113495176A
公开(公告)日：2021-10-12
申请号：CN202110326823.3
申请日：2021-03-26
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 本发明提出一种探针卡及其探针模组。所述探针卡包含第一补强板、固定框体、探针模组及滑动框体。第一补强板包含上表面、下表面与安装孔，安装孔的内壁具有内侧凸缘。固定框体设置于第一补强板的上表面且环绕安装孔。探针模组设置于安装孔中，其包含上表面、下表面以及位于上表面与下表面之间的外侧凸缘。外侧凸缘包含实体区及多个缺口区，且外侧凸缘的实体区抵靠第一补强板的内侧凸缘。滑动框体设置于固定框体的内壁且可沿一轴向滑动于释放位置与固定位置之间。滑动框体的内壁设置有多个压制部，当滑动框体位于释放位置时，各压制部分别地对应探针模组的外侧凸缘的各缺口区，当滑动框体位于固定位置时，各压制部压制探针模组的外侧凸缘的实体区。
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公开(公告)号：CN113495176B
公开(公告)日：2024-12-20
申请号：CN202110326823.3
申请日：2021-03-26
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 本发明提出一种探针卡及其探针模组。所述探针卡包含第一补强板、固定框体、探针模组及滑动框体。第一补强板包含上表面、下表面与安装孔，安装孔的内壁具有内侧凸缘。固定框体设置于第一补强板的上表面且环绕安装孔。探针模组设置于安装孔中，其包含上表面、下表面以及位于上表面与下表面之间的外侧凸缘。外侧凸缘包含实体区及多个缺口区，且外侧凸缘的实体区抵靠第一补强板的内侧凸缘。滑动框体设置于固定框体的内壁且可沿一轴向滑动于释放位置与固定位置之间。滑动框体的内壁设置有多个压制部，当滑动框体位于释放位置时，各压制部分别地对应探针模组的外侧凸缘的各缺口区，当滑动框体位于固定位置时，各压制部压制探针模组的外侧凸缘的实体区。
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公开(公告)号：CN118584162A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410238561.9
申请日：2024-03-01
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开一种可调点测位置的探针装置及其固定探针、活动探针，可调点测位置的探针装置包括有具有第一边与第二边的固定探针、第一活动探针及第二活动探针。固定探针具有第一针芯、第一介电层及第一外导体层的第一同轴结构。第一活动探针设置在固定探针的第一边，包括有接地针芯及第一延伸结构，其具有第一平面结构、第一上表面及第一下表面，第一活动探针经由第一位移运动使第一平面结构与固定探针电性接触。第二活动探针设置在固定探针的第二边，包括有第二针芯、第二介电层及第二外导体层的第二同轴结构，以及第二延伸结构，其具有第二平面结构、第二上表面及第二下表面，第二活动探针经由第二位移运动使第二平面结构与固定探针电性接触。
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公开(公告)号：CN112611916A
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN202011028953.0
申请日：2020-09-25
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种可调式探针装置，包含有一固定探针及一活动探针，且至少其中之一为具有同轴结构的讯号探针，活动探针能线性滑移地以其接地单元抵接于固定探针的接地单元。本发明揭示另一种可调式探针装置，包含有一用于接地的第一活动探针以及具有同轴结构的一固定探针及一第二活动探针，且能选择性地以二活动探针其中的任一作为一作用探针，使得作用探针与固定探针的点触端位于同一平面以同时点触待测物的二导电接点，且作用探针能线性滑移地以其接地单元抵接于固定探针的接地单元。由此，本发明的探针间距可调整，因此可降低电路板阻抗测试设备的成本。
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