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公开(公告)号：CN112154336A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201980034415.1
申请日：2019-03-21
申请人： 明导公司
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/28 , G01R31/3185
摘要： 用于测试电路的系统，包括：扫描链、被配置为基于子测试向量信息来生成比特位反转信号的控制器、以及比特反转电路，所述比特反转电路被耦合至该控制器并被配置为在移位操作期间基于该比特位反转信号来反转与多个移位时钟周期相关联的父测试向量的比特位以生成子测试向量。这里，用于比特位反转的所述多个移位时钟周期在每m个移位时钟周期发生一次，并且所述子测试向量信息包括m的信息和移位操作中所述多个移位时钟周期的位置。
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公开(公告)号：CN102906580B
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201180024530.4
申请日：2011-03-16
申请人： 明导公司
IPC分类号： G01R31/319
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R31/2851 , G01R31/318335 , G01R31/318547 , G01R31/31921
摘要： 本发明公开了用于在测试压缩环境中进行测试调度和测试访问的方法、装置和系统的代表性实施例。用于测试一个电路中多个核心的测试模式群集根据包括压缩测试数据、相应测试器信道要求和关联核心的测试信息形成。测试模式群集形成之后进行测试器信道分配。可以采用一种最佳拟合方案或平衡拟合方案生成信道分配信息。可以根据信道分配信息来设计用于动态信道分配的测试访问电路。
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公开(公告)号：CN101663648A
公开(公告)日：2010-03-03
申请号：CN200880011686.7
申请日：2008-02-12
申请人： 明导公司
IPC分类号： G06F11/00
CPC分类号： G01R31/318575
摘要： 以下所公开的是在集成电路测试期间降低功率消耗的方法、装置、和系统的典型实施例。本发明技术的实施例可用于提供一个低功耗测试方案，并可和各种压缩硬件结构集成在一起(例如，一个嵌入式确定性测试(“EDT”)结构)。在本发明的实施例中，集成电路包含可编程测试激励选择器、可编程扫描使能电路、可编程时钟使能电路、可编程移位使能电路、和/或可编程复位使能电路。同时公开的是测试矢量生成方法，这些方法可用于生成测试矢量并与本发明的任一实施例一同使用。
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公开(公告)号：CN103430155B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201280013717.9
申请日：2012-01-17
申请人： 明导公司
IPC分类号： G06F11/263 , G01R31/3183 , G01R31/319 , G06F11/07 , G06F11/22
CPC分类号： H04L43/50 , G01R31/318335 , G06F11/263
摘要： 本发明公开了一种用于测试基于电路的系统中的多个核心的测试调度的方法、装置和系统的代表性实施例。测试数据被编码以导出需要少量核心输入信道的压缩测试模式。每个压缩测试模式的核心输入/输出信道要求信息被相应地确定。压缩模式被分组成测试模式类别。在测试模式类别的形成之后，对电路输入和输出信道以及测试应用时隙进行分配，可包括将互补的测试模式类别合并成可与特定的测试访问机制一起工作的簇。该测试访问机制可独立于测试数据而被设计。
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公开(公告)号：CN102906580A
公开(公告)日：2013-01-30
申请号：CN201180024530.4
申请日：2011-03-16
申请人： 明导公司
IPC分类号： G01R31/319
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R31/2851 , G01R31/318335 , G01R31/318547 , G01R31/31921
摘要： 本发明公开了用于在测试压缩环境中进行测试调度和测试访问的方法、装置和系统的代表性实施例。用于测试一个电路中多个核心的测试模式群集根据包括压缩测试数据、相应测试器信道要求和关联核心的测试信息形成。测试模式群集形成之后进行测试器信道分配。可以采用一种最佳拟合方案或平衡拟合方案生成信道分配信息。可以根据信道分配信息来设计用于动态信道分配的测试访问电路。
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公开(公告)号：CN101933098A
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200880116522.0
申请日：2008-09-18
申请人： 明导公司
CPC分类号： G11C29/56 , G11C29/40 , G11C29/44 , G11C29/56008 , G11C2029/1208
摘要： 本发明所公开内容为在存储器内建自测试环境中对失败的存储器测试的测试响应标记进行暂时压缩的方法和器件，其目的是即使在检测到多个与时间相关的存储器测试故障时也能够进行存储器内建自测试操作。在本发明的一些实施例中，被压缩的测试响应标记在自动化测试设备器件上与存储器位置信息一起给出。根据本发明的各种实施例，带有嵌入式存储器(204)的集成电路以及存储器BIST控制器(206)还包括用作标记寄存器的线性反馈结构(410)，可在存储器测试的某一测试步骤中对来自嵌入式存储器阵列的测试响应标记进行暂时压缩。在各种实施例申，集成电路还可能包括失效字计数器(211)、失效列指示器(213)和/或失效行指示器(214)，用以对失败的测试响应收集存储器位置信息。
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公开(公告)号：CN112154338A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201980034422.1
申请日：2019-03-21
申请人： 明导公司
发明人： 贾纳兹·拉杰斯基 , 黄宇 , 塞尔韦斯特·米莱夫斯基 , 杰吉·泰泽尔
IPC分类号： G01R31/3185
摘要： 一种用于测试电路的系统，包括扫描链、控制器和切换保持电路。切换保持电路被配置为根据由控制器生成的控制信号，允许当测试向量正被移入扫描链中时，扫描链中的一些扫描链以全切换模式运行，扫描链中的一些其他扫描链以切换保持模式运行。所述控制信号还包含以切换保持模式运行的扫描链的切换保持向量的信息。在测试向量正被移入扫描链中时，切换保持向量重复多次。
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公开(公告)号：CN103430155A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201280013717.9
申请日：2012-01-17
申请人： 明导公司
IPC分类号： G06F11/263 , G01R31/3183 , G01R31/319 , G06F11/07 , G06F11/22
CPC分类号： H04L43/50 , G01R31/318335 , G06F11/263
摘要： 本发明公开了一种用于测试基于电路的系统中的多个核心的测试调度的方法、装置和系统的代表性实施例。测试数据被编码以导出需要少量核心输入信道的压缩测试模式。每个压缩测试模式的核心输入/输出信道要求信息被相应地确定。压缩模式被分组成测试模式类别。在测试模式类别的形成之后，对电路输入和输出信道以及测试应用时隙进行分配，可包括将互补的测试模式类别合并成可与特定的测试访问机制一起工作的簇。该测试访问机制可独立于测试数据而被设计。
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公开(公告)号：CN101663648B
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN200880011686.7
申请日：2008-02-12
申请人： 明导公司
IPC分类号： G06F11/00
CPC分类号： G01R31/318575
摘要： 以下所公开的是在集成电路测试期间降低功率消耗的方法、装置、和系统的典型实施例。本公开技术的实施例可用于提供一个低功耗测试方案，并可和各种压缩硬件结构集成在一起(例如，一个嵌入式确定性测试(“EDT”)结构)。在本公开的实施例中，集成电路包含可编程测试激励选择器、可编程扫描使能电路、可编程时钟使能电路、可编程移位使能电路、和/或可编程复位使能电路。同时公开的是测试矢量生成方法，这些方法可用于生成测试矢量并与本公开的任一实施例一同使用。
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