等离子蚀刻法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100442452C

    公开(公告)日:2008-12-10

    申请号:CN200480035546.5

    申请日:2004-11-26

    Abstract: 本发明之目的为:提供一种不仅能够同时满足对沟槽形状的要求和对深径比的要求,而且还能够形成具有平滑形状侧壁之沟槽的等离子蚀刻法。本发明将硅基片装载在下电极(120)上,通过气体导入口(140)供应蚀刻气体,再由排气口(150)排气,并从高频电源(130a、130b)分别向上电极(110)以及下电极(120)供应高频电力,然后利用ICP法将蚀刻气体等离子化,生成活性种,对硅基片进行蚀刻,作为蚀刻气体,使用一种混合气体:以SF6气体作为主要成分,里面添加了O2气体以及He气体。

    等离子体处理装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101351871B

    公开(公告)日:2010-08-18

    申请号:CN200680050274.5

    申请日:2006-11-01

    CPC classification number: H01J37/32082

    Abstract: 等离子体处理装置具备配置于与基板(2)对置的腔室(3)的上部开口的梁状间隔件(7)。梁状间隔件(7)具备:由腔室(3)支撑其下表面(7d)的环状外周部(7a);在俯视的情况下位于由外周部(7a)包围的区域的中央的中央部(7b);从中央部(7b)以放射状延伸至外周部(7a)的多个梁部(7c)。电介体板(8)被梁状间隔件(7)均一地支撑其整体。能够确保将腔室(3)内减压时用于支撑大气压的机械强度,同时,能够薄型化电介体板(8)。

    等离子蚀刻法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1886824A

    公开(公告)日:2006-12-27

    申请号:CN200480035546.5

    申请日:2004-11-26

    Abstract: 本发明之目的为:提供一种不仅能够同时满足对沟槽形状的要求和对深径比的要求,而且还能够形成具有平滑形状侧壁之沟槽的等离子蚀刻法。本发明将硅基片装载在下电极(120)上,通过气体导入口(140)供应蚀刻气体,再由排气口(150)排气,并从高频电源(130a、130b)分别向上电极(110)以及下电极(120)供应高频电力,然后利用ICP法将蚀刻气体等离子化,生成活性种,对硅基片进行蚀刻,作为蚀刻气体,使用一种混合气体:以SF6气体作为主要成分,里面添加了O2气体以及He气体。

    等离子处理装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104425202A

    公开(公告)日:2015-03-18

    申请号:CN201410440345.9

    申请日:2014-09-01

    Abstract: 本发明提供一种等离子处理装置,抑制等离子处理中的、对环状框架造成的热影响,还防止该热影响所导致的罩的损伤。对保持在由环状的框架(7)和保持片(6)构成的搬运托架(5)上的基板(2)实施等离子处理。等离子处理装置具备:腔室(4),其具有能够减压的内部空间;等离子源(12),其在腔室(4)内产生等离子;工作台(11),其设置在腔室(4)内,并载置搬运托架(5);罩(28),其载置在工作台(11)的上方,覆盖保持片(6)和框架(7),且具有以在厚度方向上贯通的方式形成的窗部(32)。罩(28)由导热性优异的材料构成,暴露于等离子的表面中的、至少窗部(32)侧由保护部(28a)覆盖,保护部(28a)由与等离子反应的反应性低的材料构成。

    等离子体处理装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101351871A

    公开(公告)日:2009-01-21

    申请号:CN200680050274.5

    申请日:2006-11-01

    CPC classification number: H01J37/32082

    Abstract: 等离子体处理装置具备配置于与基板(2)对置的腔室(3)的上部开口的梁状间隔件(7)。梁状间隔件(7)具备:由腔室(3)支撑其下表面(7d)的环状外周部(7a);在俯视的情况下位于由外周部(7a)包围的区域的中央的中央部(7b);从中央部(7b)以放射状延伸至外周部(7a)的多个梁部(7c)。电介体板(8)被梁状间隔件(7)均一地支撑其整体。能够确保将腔室(3)内减压时用于支撑大气压的机械强度,同时,能够薄型化电介体板(8)。

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