一种超低损耗抗弯光纤及其制备方法

    公开(公告)号:CN117950108A

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202410160565.X

    申请日:2024-02-05

    摘要: 本发明公开了一种超低损耗抗弯光纤及其制备方法,所述光纤包括从内到外依次设置的纤芯层、第一内包层、第二内包层和外包层,所述纤芯层的相对折射率差Δn1为0.28%~0.36%,第一内包层的相对折射率差Δn2为‑0.03%~‑0.09%,第二内包层的相对折射率差Δn3为‑0.04%~‑0.1%,外包层的相对折射率差Δn4为‑0.01%~‑0.06%。本发明的纤芯层相对折射率差径向由Δn1线性降低为Δn2,可以降低弯曲状态下折射率剖面的畸变程度;优化了第一内包层和第二内包层的相对折射率差,可以提高产品的宏弯性能;优化了芯包层的掺杂浓度,可以减少芯/包层的界面上缺陷和断键,从而可以大大降低光纤的衰减系数;优化了芯包层的直径,可以减少外包层中的羟基扩散至纤芯层,从而可以进一步降低光纤的衰减系数。

    预测光纤衰减的方法
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107607297B

    公开(公告)日:2019-07-19

    申请号:CN201711050833.9

    申请日:2017-10-31

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明涉及一种预测光纤衰减的方法,其从拟用于制备光纤预制棒的芯棒上取样进行拉丝,制备出包含芯层和至少部分包层的检测用光纤,检测获得检测用光纤对波长为1310、1383和1550nm的光的实测衰减系数,计算这三种实测衰减系数两两之间的实测衰减系数差值,将这些实测衰减系数差值与对应的标准衰减系数差值进行比较,如果至少一个实测衰减系数差值与对应的标准衰减系数差值不一致,则判断采用该芯棒制备出的光纤衰减不合格。本发明能够提前预测出某些芯棒将制备出衰减不合格的光纤,以便将不合格芯棒剔除,避免因采用这些芯棒生产不合格光纤,进而避免浪费在后续不合格产品生产中的人力、物力、财力和时间,降低生产成本,提高生产效率。