基于正交色散谱域干涉仪的高精度间距测量系统和方法

    公开(公告)号:CN104655032A

    公开(公告)日:2015-05-27

    申请号:CN201510063182.1

    申请日:2015-02-06

    申请人: 浙江大学

    IPC分类号: G01B11/14

    摘要: 本发明公开了一种基于全量程正交色散谱域干涉仪的高精度间距测量系统和方法。本发明基于谱域干涉仪布局,通过参考臂中设置的快速位移装置在多幅干涉光谱之间引入位相差,并利用实际检定的相位差来重建复干涉信号,基于复干涉信号的逆傅里叶变换获取高保真样品信息。在探测臂上使用基于虚像相控阵列和光栅的超高光谱分辨率的正交分光光谱仪进行探测,大幅提高测量量程。采用优化多通道光谱位相的光程测量方法,显著提高测量精度,并避免单通道测量可能导致的误差放大,实现快速高精度大量程的间距测量。

    一种同时基于节点属性以及结构关系相似度的聚类方法

    公开(公告)号:CN103106279A

    公开(公告)日:2013-05-15

    申请号:CN201310055977.9

    申请日:2013-02-21

    申请人: 浙江大学

    IPC分类号: G06F17/30

    摘要: 本发明公开了同时基于节点属性以及结构关系相似度的聚类方法,首先,根据节点属性和拓扑结构关系提出了统一距离估算模型。然后,针对节点属性以及结构的权重设定问题,提出了权重自调整算法。接着,提出了基于十字链表的稀疏矩阵计算和存储优化方法以提高本聚类方法的性能。最后,不断变化的网络对聚类方法造成大量重复计算以及不能实时更新聚类结果的问题,提出了自适应的聚类方法。本发明解决了复杂网络统一模型和性能问题,以及避免了大量重复计算并且满足了实时获取聚类结果的要求,提高了本聚类方法的实际应用性。

    一种具有输出电流纹波抵消作用的对称整流电路

    公开(公告)号:CN101505104A

    公开(公告)日:2009-08-12

    申请号:CN200910096499.X

    申请日:2009-03-12

    申请人: 浙江大学

    IPC分类号: H02M3/24 H02M1/14

    CPC分类号: Y02E10/76

    摘要: 本发明公开了一种具有输出电流纹波抵消作用的对称整流电路,包括一个带有四个二次侧绕组的功率变压器,两个飞跨平衡电容及两个整流二极管。本发明不需增加任何有源辅助器件,利用变压器对称的二次侧绕组和飞跨辅助平衡电容有效地抵消输出电流纹波,使输出滤波电容容值与体积得到极大的降低;抑制了二次侧整流管输出结电容上的电压寄生振荡,将整流管的电压应力箝位在两倍的输出电压,降低整流管耐压等级,减小整流管的通态损耗;另外变压器二次侧绕组内的电流有效值降低,减小了二次侧绕组损耗。因此本发明能有效地提高变流器的整体变换效率和功率密度,同时兼顾生产成本。

    基于正交色散谱域干涉仪的高精度间距测量系统和方法

    公开(公告)号:CN104655032B

    公开(公告)日:2017-05-17

    申请号:CN201510063182.1

    申请日:2015-02-06

    申请人: 浙江大学

    IPC分类号: G01B11/14

    摘要: 本发明公开了一种基于全量程正交色散谱域干涉仪的高精度间距测量系统和方法。本发明基于谱域干涉仪布局,通过参考臂中设置的快速位移装置在多幅干涉光谱之间引入位相差,并利用实际检定的相位差来重建复干涉信号,基于复干涉信号的逆傅里叶变换获取高保真样品信息。在探测臂上使用基于虚像相控阵列和光栅的超高光谱分辨率的正交分光光谱仪进行探测,大幅提高测量量程。采用优化多通道光谱位相的光程测量方法,显著提高测量精度,并避免单通道测量可能导致的误差放大,实现快速高精度大量程的间距测量。

    基于移动光栅空间载频谱域OCT全量程成像方法及系统

    公开(公告)号:CN103267732A

    公开(公告)日:2013-08-28

    申请号:CN201310189388.X

    申请日:2013-05-21

    申请人: 浙江大学

    IPC分类号: G01N21/25

    摘要: 本发明公开了一种基于移动光栅空间载频的谱域OCT全量程成像方法和系统。采用移动光栅取代传统谱域OCT中的参考反射镜,在横向扫描方向引入无需光程调制的空间载频。将探测得到的干涉光谱信号先进行沿横向扫描方向的傅里叶变换,然后实施以空间载频量为中心的带通滤波,接着对滤波信号进行逆傅里叶变换,最后再对信号沿轴向作傅里叶变换,就能获得样品消镜像后的全量程OCT图像。本发明能够在不引入任何附加光程差的前提下,获得全量程谱域OCT成像,避免了传统空间载频方法中累积光程差导致的灵敏度下降。

    自循环测量垂直和水平渗透系数的综合渗透仪

    公开(公告)号:CN101285754A

    公开(公告)日:2008-10-15

    申请号:CN200810061712.9

    申请日:2008-05-14

    申请人: 浙江大学

    IPC分类号: G01N15/08 G01N33/36

    摘要: 本发明公开了一种测量垂直和水平渗透系数的综合渗透仪,它具有恒压水箱,连通两只供水管,一只供水管连通上压力室,上压力室顶部设有气压表和放气孔,侧面设有打气装置,上压力室经装配构件与下压力室相连通,下压力室上部设有排气泡孔,下压力室下部经出水管、测量阀与量筒相连通;另一只供水管连接装配构件左侧,装配构件经出水管、测量阀与量筒相连通,装配构件由防渗膜、硅胶片、带有V型槽板和受压塑料薄膜组成。优点:(1)受压塑料薄膜能快速、精准、均匀地传递法向压力给试样,防渗膜防止侧壁渗漏;(2)水流从V型槽均匀入渗;(3)设置硅胶片减少边界效应;(4)一套仪器实现对垂直和水平渗透系数的测量,精准、简洁、高效、实用,便于操作。

    一种同时基于节点属性以及结构关系相似度的聚类方法

    公开(公告)号:CN103106279B

    公开(公告)日:2018-06-15

    申请号:CN201310055977.9

    申请日:2013-02-21

    申请人: 浙江大学

    IPC分类号: G06F17/30

    摘要: 本发明公开了同时基于节点属性以及结构关系相似度的聚类方法,首先,根据节点属性和拓扑结构关系提出了统一距离估算模型。然后,针对节点属性以及结构的权重设定问题,提出了权重自调整算法。接着,提出了基于十字链表的稀疏矩阵计算和存储优化方法以提高本聚类方法的性能。最后,不断变化的网络对聚类方法造成大量重复计算以及不能实时更新聚类结果的问题,提出了自适应的聚类方法。本发明解决了复杂网络统一模型和性能问题,以及避免了大量重复计算并且满足了实时获取聚类结果的要求,提高了本聚类方法的实际应用性。

    一种位相增强型薄膜厚度测量方法和系统

    公开(公告)号:CN104655029B

    公开(公告)日:2017-07-25

    申请号:CN201510063388.4

    申请日:2015-02-06

    申请人: 浙江大学

    IPC分类号: G01B11/06 G02B27/28

    摘要: 本发明公开了一种位相增强型薄膜厚度测量方法和系统。该系统采用宽带扫频光源,其测量光路和参考光路中分别设置有测量子循环腔和参考子循环腔,利用测量光和参考光在两个子循环腔中的高速(光速)光循环,能够对待测薄膜样品同一横向位置处的薄膜位相进行累积放大测量(放大倍数等于测量光和参考光的光循环级次),从而增强薄膜位相探测的灵敏度。并且,由于该系统在对薄膜位相进行累积放大测量的过程中,测量光束始终照射于待测薄膜样品的同一横向位置,因而不同于利用测量光束在待测薄膜样品中多次反射进而求取薄膜反射率的光谱方法,该薄膜位相增强方法不会牺牲系统对待测薄膜样品的横向分辨能力。

    一种位相增强型薄膜厚度测量方法和系统

    公开(公告)号:CN104655029A

    公开(公告)日:2015-05-27

    申请号:CN201510063388.4

    申请日:2015-02-06

    申请人: 浙江大学

    IPC分类号: G01B11/06 G02B27/28

    摘要: 本发明公开了一种位相增强型薄膜厚度测量方法和系统。该系统采用宽带扫频光源,其测量光路和参考光路中分别设置有测量子循环腔和参考子循环腔,利用测量光和参考光在两个子循环腔中的高速(光速)光循环,能够对待测薄膜样品同一横向位置处的薄膜位相进行累积放大测量(放大倍数等于测量光和参考光的光循环级次),从而增强薄膜位相探测的灵敏度。并且,由于该系统在对薄膜位相进行累积放大测量的过程中,测量光束始终照射于待测薄膜样品的同一横向位置,因而不同于利用测量光束在待测薄膜样品中多次反射进而求取薄膜反射率的光谱方法,该薄膜位相增强方法不会牺牲系统对待测薄膜样品的横向分辨能力。