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公开(公告)号：CN100375182C
公开(公告)日：2008-03-12
申请号：CN200510066029.0
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器动态参数的测试方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；力矩器在正弦信号的驱动下产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在上述频率f的正弦信号激励下的位移响应信号；分别绘制力矩器的幅值频率和相位频率特性曲线，在幅值频率和相位特性曲线上，得到力矩器动态参数。本发明的方法，测试速度快、测试精度高、可以测试低频至高频各个频段的动态特性，全面高精度地测试力矩器的动态性能曲线，用于评价力矩器的工作性能，实用性强。
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公开(公告)号：CN1188855C
公开(公告)日：2005-02-09
申请号：CN02153871.9
申请日：2002-12-06
申请人： 清华大学
IPC分类号： G11B17/28
摘要： 光盘阵列库结构，属于海量光存储技术领域中的存储设备制造领域。本发明是为了在设备结构简单，成本较低的条件下，实现光盘的同步加载/卸载，解决一个光盘库中机械手的竞争问题。本发明公开了一种光盘阵列库结构，包括光盘架、驱动器和机械手，其特征在于：该结构包括由光盘架驱动装置驱动的光盘架，在所述光盘架上均匀排列的光盘夹，以垂直于光盘架方向放置于光盘夹中的光盘和至少2对一一对应的机械手和驱动器；所述机械手和驱动器分布在所述光盘架的旁边，所述机械手位于与其对应的驱动器和光盘架之间。本发明中机械手与驱动器一一对应，使光盘阵列库结构大大简化，实现了单光盘库内对应光盘的同时加载/卸载，从而提高了效率，降低了成本。
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公开(公告)号：CN100369139C
公开(公告)日：2008-02-13
申请号：CN200510066030.3
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线，并得到力矩器聚焦线圈和循迹线圈的一阶共振频率；根据力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线判断力矩器的轴向旋转缺陷。本发明提出的光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，用于及时改进生产工艺，保证产品质量。
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公开(公告)号：CN1687989A
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200510066029.0
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器动态参数的测试方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；力矩器在正弦信号的驱动下产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在上述频率f的正弦信号激励下的位移响应信号；分别绘制力矩器的幅值频率和相位频率特性曲线，在幅值频率和相位特性曲线上，得到力矩器动态参数。本发明的方法，测试速度快、测试精度高、可以测试低频至高频各个频段的动态特性，全面高精度地测试力矩器的动态性能曲线，用于评价力矩器的工作性能，实用性强。
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公开(公告)号：CN100375175C
公开(公告)日：2008-03-12
申请号：CN200510066028.6
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种多状态测试光学头力矩器动态参数的方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先使力矩器处于自由状态；在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈或循迹线圈的幅值频率和相位频率特性曲线，得到力矩器聚焦线圈或循迹线圈的各项动态参数；在力矩器聚焦线圈和循迹线圈上施加不同的偏置电压，分别测试力矩器的动态参数。本发明的方法，更贴近力矩器的实际工作状态，测试结果更全面、准确地反映力矩器的实际工作性能。
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公开(公告)号：CN1687990A
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200510066030.3
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线，并得到力矩器聚焦线圈和循迹线圈的一阶共振频率；根据力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线判断力矩器的轴向旋转缺陷。本发明提出的光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，用于及时改进生产工艺，保证产品质量。
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公开(公告)号：CN1585004A
公开(公告)日：2005-02-23
申请号：CN200410046358.4
申请日：2004-06-07
申请人： 清华大学
IPC分类号： G11B7/09
摘要： 本发明涉及一种基于光斑偏移的光学头驱动单元中盘片倾角的调整方法，属于光存储技术领域。首先获取由光盘反射得到的原始反射光斑；将其按直角坐标系分成四部分；分别对四部分光强进行光电转换，得到四个电压；并对其进行四则运算和归一化处理得到四个光斑区的光强差电压及光强和电压；在以原始反射光斑的位置为原点的直角坐标系中，以上述光强差电压为横坐标、光强和电压为纵坐标，纵、横坐标的交点即为当前反射光斑位置；根据光斑位置与原点的位置关系，调整光盘的倾角，使光斑与中心点重合。本发明的调整方法，由于动态调整是在DVD小机芯实际工作状态下进行的，因此可以实时反映调整的效果，与静态调整方式相比，提高了调整的精度和可靠性。
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公开(公告)号：CN100383885C
公开(公告)日：2008-04-23
申请号：CN200410046357.X
申请日：2004-06-07
申请人： 清华大学
IPC分类号： G11B20/18
摘要： 本发明涉及一种数字通用光盘的光学读取头驱动单元性能评价调整方法，属于光存储技术领域。首先从光学读取头驱动单元得到信号，并将其分为聚焦误差信号、循迹误差信号、盘片信息层信号、反射光斑信号及电机阻尼信号；对五类信号分别进行处理；将处理后的信号输出，与相应的设定标准值进行比较和评价，根据评价值，调整光学读取头驱动单元中的相应部件，完成评价调整。本发明的评价调整方法，采用分布式计算机控制技术、高速数据采集技术、可编程I/O接口技术和精密控制技术，对光学头驱动单元性能进行评价和调整。用本发明的方法指导光学读取头驱动单元的生产，有利于关键物料质量控制和工艺优化，从而提高生产直通率及产品一致性。
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公开(公告)号：CN1687988A
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200510066028.6
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种多状态测试光学头力矩器动态参数的方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先使力矩器处于自由状态；在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈或循迹线圈的幅值频率和相位频率特性曲线，得到力矩器聚焦线圈或循迹线圈的各项动态参数；在力矩器聚焦线圈和循迹线圈上施加不同的偏置电压，分别测试力矩器的动态参数。本发明的方法，更贴近力矩器的实际工作状态，测试结果更全面、准确地反映力矩器的实际工作性能。
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公开(公告)号：CN1585023A
公开(公告)日：2005-02-23
申请号：CN200410046357.X
申请日：2004-06-07
申请人： 清华大学
IPC分类号： G11B20/18
摘要： 本发明涉及一种数字通用光盘的光学读取头驱动单元性能评价调整方法，属于光存储技术领域。首先从光学读取头驱动单元得到信号，并将其分为聚焦误差信号、循迹误差信号、盘片信息层信号、反射光斑信号及电机阻尼信号；对五类信号分别进行处理；将处理后的信号输出，与相应的设定标准值进行比较和评价，根据评价值，调整光学读取头驱动单元中的相应部件，完成评价调整。本发明的评价调整方法，采用分布式计算机控制技术、高速数据采集技术、可编程I/O接口技术和精密控制技术，对光学头驱动单元性能进行评价和调整。用本发明的方法指导光学读取头驱动单元的生产，有利于关键物料质量控制和工艺优化，从而提高生产直通率及产品一致性。
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