探测太赫兹信号的装置、系统、方法、介质和程序产品

    公开(公告)号:CN113777072B

    公开(公告)日:2022-02-25

    申请号:CN202111335790.5

    申请日:2021-11-12

    IPC分类号: G01N21/3581 G01N21/01

    摘要: 本发明提供了一种探测太赫兹信号的装置、系统、方法、介质和程序产品,可以应用于太赫兹探测技术领域。本发明实施例的探测太赫兹信号的装置包括多个滤波器,多个滤波器中至少部分滤波器分别具有不同的透射频段,其中,至少部分滤波器各自的金属镂空结构中镂空部分的最大尺寸与透射频段的中心频段和频段带宽之间正相关;检测器,检测器包括天线,天线被配置为接收太赫兹波;以及位置调节器,设置于天线的一侧,被配置为驱动多个滤波器运动,以改变多个滤波器的位置;其中,通过改变多个滤波器的位置使得多个滤波器中的至少一个滤波器对准天线,以由对准天线的滤波器对来自探测对象的太赫兹波进行滤波,使得检测器能够获取与经滤波的太赫兹波对应的太赫兹信号。

    校准装置、成像装置、校准方法及图像重建方法

    公开(公告)号:CN117687100A

    公开(公告)日:2024-03-12

    申请号:CN202311695565.1

    申请日:2023-12-11

    IPC分类号: G01V3/12 G01V8/10 G01V13/00

    摘要: 一种校准装置、成像装置、校准方法及图像重建方法,该校准装置包括:辐射计阵列,包括多个辐射计通道,辐射计通道适用于对接收的信号波进行探测;在辐射计阵列所处的环境温度变化超过预设阈值的情况下,信号生成机构按时序发出第一驱动信号和第二驱动信号;校准板的温度能够在第一温度和第二温度之间切换;驱动机构被配置为根据第一驱动信号驱动具有第一温度的校准板遮挡辐射计阵列的辐射计通道,使得辐射计阵列的多个辐射计通道对随具有第一温度的校准板发出的信号波分别进行探测,以及根据第二驱动信号驱动具有第二温度的校准板遮挡辐射计阵列的辐射计通道。

    探测频段可调的太赫兹探测装置及制造方法、成像设备

    公开(公告)号:CN113782666A

    公开(公告)日:2021-12-10

    申请号:CN202111335814.7

    申请日:2021-11-12

    IPC分类号: H01L39/02 H01L39/24 G01J1/42

    摘要: 本发明提供了一种探测频段可调的太赫兹探测装置及制造方法、太赫兹成像设备,可以应用于太赫兹检测技术领域。该探测频段可调的太赫兹探测装置,包括:衬底基板,具有相对设置的第一表面和第二表面;检测器,设置在衬底基板的第一表面,用于检测第一频段范围的太赫兹信号;可调谐滤波器,设置在衬底基板的第二表面,用于对第一频段范围的太赫兹信号进行滤波,使检测器检测到第二频段范围的太赫兹信号,第二频段范围通过加载在可调谐滤波器的偏置电压进行调节,以使第二频段范围在第一频段范围内变化。能够解决在增加太赫兹探测频段的情况下,不增加检测器数量,保证检测的可靠性,同时节约硬件成本。

    图像去噪模型的训练方法和装置、图像去噪方法和装置

    公开(公告)号:CN116433498A

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202111680455.9

    申请日:2021-12-30

    摘要: 提供了一种图像去噪模型的训练方法和装置、图像去噪方法和装置。训练方法包括:获取训练样本集,包括第一训练样本和第二训练样本,第一训练样本包括原始图像数据样本和噪声数据样本,第二训练样本包括干净图像数据样本;将原始图像数据样本输入第一卷积神经网络;第一卷积神经网络处理原始图像数据样本,得到图像特征数据;将噪声数据样本输入第二卷积神经网络;第二卷积神经网络处理噪声数据样本,得到噪声特征数据;对图像特征数据和噪声特征数据进行融合,得到融合特征数据;对融合特征数据进行卷积操作,得到用于表征待识别对象的图像特征的增强特征数据;根据干净图像数据样本与增强特征数据之间的差异,调整图像去噪模型的各个参数。

    太赫兹探测装置的制造方法及探测设备

    公开(公告)号:CN113782644A

    公开(公告)日:2021-12-10

    申请号:CN202111335830.6

    申请日:2021-11-12

    摘要: 本发明提供了一种太赫兹探测装置的制造方法和探测设备,可以应用于太赫兹检测技术领域。本发明实施例的太赫兹探测装置包括呈阵列排布的检测器和透镜,该制造方法包括:通过双面光刻工艺在衬底基板的第一表面的第一区域光刻出多个检测器,形成检测器阵列,在衬底基板的第一表面的第二区域设置至少一个第一对准标记;通过双面光刻工艺在衬底基板的第二表面的第三区域光刻出多个透镜安装部,在衬底基板的第二表面的第四区域设置至少一个第二对准标记;将透镜安装至透镜安装部以形成探测装置;通过双面光刻机将第一对准标记与第二对准标记进行对准,以使检测器的中心与透镜安装部的中心的偏移量在设定阈值,有效提高透镜与检测器的安装精度。