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公开(公告)号：CN117934844A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410112494.6
申请日：2024-01-25
申请人： 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心 , 湖南大学
IPC分类号： G06V10/26 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06V10/80 , G06V10/52 , G06V10/70 , G06N3/0464 , G06N3/0455 , G06N3/08
摘要： 本发明公开了一种颗粒图像细化分割方法、装置、计算设备及存储介质，涉及图像分割技术领域。方法包括：获取原始颗粒图像，原始颗粒图像包括多个原始颗粒像素；通过细化分割模型对原始颗粒图像进行分割处理，得到粗分割颗粒图像，粗分割颗粒图像包括多个粗分割颗粒像素的第一分类信息，任一粗分割颗粒像素的第一分类信息用于表示任一粗分割颗粒像素属于各个包覆层区域或背景之一的第一概率预测值；通过细化分割模型对粗分割颗粒图像进行细化处理，得到最终细化分割颗粒图像，最终细化分割颗粒图像的分辨率和分割精度分别高于粗分割颗粒图像的分辨率和分割精度。本发明实现了对包覆燃料颗粒图像的精细化分割，能够精确提取包覆层区域。
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公开(公告)号：CN115829945A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211440854.2
申请日：2022-11-17
申请人： 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心 , 湖南大学
摘要： 本发明公开了一种图像中包覆燃料颗粒的检测方法，包括：获取包含包覆燃料颗粒的切片的输入图像；将输入图像输入到结合特征金字塔结构的主干网络中进行特征提取，得到第一特征图；将第一特征图输入锚框生成网络，得到锚框，并通过锚框对第一特征图进行修正，得到修正后的第二特征图；将锚框和第二特征图输入到建议提案网络中，得到建议区域；对建议区域在第二特征图上的映射进行感兴趣区域对齐操作，得到固定尺寸的第三特征图；将第三特征图输入到全卷积网络中，得到输入图像中包覆燃料颗粒的类别和位置。
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公开(公告)号：CN117095207A
公开(公告)日：2023-11-21
申请号：CN202311032475.4
申请日：2023-08-16
申请人： 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心 , 江苏优普纳科技有限公司
IPC分类号： G06V10/764 , G06V10/774 , G06V10/80 , G06V10/82 , G06T7/11 , G06T7/136 , G06V10/762 , G06N3/0464
摘要： 本发明公开了一种芯片图像标注方法、装置、计算设备及存储介质，涉及视觉检测技术领域。方法包括：接收对芯片图像的标注数据，根据标注数据确定芯片图像中的类别数为第一数量；将标注后的芯片图像输入全卷积网络模型进行处理，并通过计算芯片图像样本中的各像素的类别损失来调整所述全卷积网络模型的网络参数，以使类别数达到第二数量，得到训练后的全卷积网络模型；将待标注芯片图像输入训练后的全卷积网络模型，以基于第二数量个类别输出对应的第二分割图像；根据第二分割图像中的各区域的平均像素值和各区域位置，将第二分割图像中的各区域合并为第一数量个类别，得到第一分割图像。根据本发明的技术方案，实现了自动标注效果，且标注精度高。
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公开(公告)号：CN115728312B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202211503985.0
申请日：2022-11-28
申请人： 湖南大学
摘要： 本发明公开了一种激光二极管的检测成像系统，系统包括：水平运动滑台组件，适于驱动激光二极管的载盘水平运动；光源成像装置，包括竖直间隔布置的第一环形光源和第二环形光源，第一环形光源和第二环形光源适于对激光二极管进行打光；第一成像装置，包括沿竖直方向安装的第一相机和第一镜头，并适于调节第一相机和第一镜头的位置，以便通过第一相机和第一镜头采集激光二极管的第一图像；第二成像装置，包括沿倾斜方向安装的第二相机和第二镜头，并适于调节第二相机和第二镜头的位置，以便通过第二相机和第二镜头采集激光二极管的第二图像。根据本发明的技术方案，提高了待检测的激光二极管的成像效果，有利于提高检测精度和检测效率。
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公开(公告)号：CN115452667B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202211063334.4
申请日：2022-08-31
IPC分类号： G01N15/075
摘要： 本发明公开了一种颗粒物同步追踪装置和基于其的颗粒物同步追踪方法，装置包括：点光源、两个凹面镜、两组平面镜、刀口、CCD相机和平面镜伸缩控制系统；所述两组平面镜包括相同数量个平面镜，且一一对应构成平面镜对；每个平面镜对对称设置于颗粒物流场的两侧，所有平面镜对之间的距离相等；每个平面镜对均受所述平面镜伸缩控制系统的控制，与所述点光源、两个凹面镜、刀口、CCD相机一起，构成对应的纹影观测平台。通过伸缩控制系统控制各平面镜对沿颗粒物运动方向依次构成纹影观测平台，实现对颗粒物观测区域的延伸，确保可以在较大范围内观测颗粒物的需求。
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公开(公告)号：CN117218076A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202311153854.9
申请日：2023-09-07
申请人： 江苏优普纳科技有限公司 , 湖南大学
摘要： 本发明公开了一种芯片缺陷检测方法、装置、计算设备及存储介质，涉及缺陷检测技术领域。方法包括：获取芯片图像，其中，所述芯片图像包括基于多种光源组合对芯片进行成像得到的多种光源芯片图像；将所述芯片图像输入语义分割模型进行处理，以预测出所述芯片图像对应的分割掩码图；根据所述芯片图像和对应的分割掩码图，对芯片进行缺陷检测，以确定所述芯片的缺陷类型和缺陷位置。根据本发明的技术方案，多种成像有利于表现芯片上不同区域的多种缺陷类型，扩大了缺陷检测范围，增加了可检测的缺陷种类数，提高了对芯片外观进行缺陷检测的精度和检测效率。
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公开(公告)号：CN116824123A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310825208.6
申请日：2023-07-05
申请人： 江苏优普纳科技有限公司 , 湖南大学
IPC分类号： G06V10/22 , G06T7/11 , G06T3/40 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06N3/09 , G06V10/40 , G06V10/774 , G06N3/0464
摘要： 本申请公开了基于知识蒸馏的LED芯片定位方法及LED芯片定位装置。其中基于知识蒸馏的LED芯片定位方法包括：将待检测的LED芯片图像分割为互相有重叠区域的多个图像区域，并对各图像区域进行放大，对应得到切片图像；将待检测的LED芯片图像与各切片图像分别输入第一目标检测模型进行处理，对应得到各图像中的LED芯片检测结果，所述检测结果包括芯片检测区域及其对应的芯片类型，其中第一目标检测模型通过以第二目标检测模型的检测结果为监督训练得到；以及对各图像中的LED芯片检测区域进行合并，以确定出待检测的LED芯片图像的LED芯片区域及芯片类型。根据本申请，能够在保证检测精度的情况下，提高LED芯片检测和定位的效率，并降低部署时的硬件性能需求。
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公开(公告)号：CN115452667A
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202211063334.4
申请日：2022-08-31
IPC分类号： G01N15/06
摘要： 本发明公开了一种颗粒物同步追踪装置和基于其的颗粒物同步追踪方法，装置包括：点光源、两个凹面镜、两组平面镜、刀口、CCD相机和平面镜伸缩控制系统；所述两组平面镜包括相同数量个平面镜，且一一对应构成平面镜对；每个平面镜对对称设置于颗粒物流场的两侧，所有平面镜对之间的距离相等；每个平面镜对均受所述平面镜伸缩控制系统的控制，与所述点光源、两个凹面镜、刀口、CCD相机一起，构成对应的纹影观测平台。通过伸缩控制系统控制各平面镜对沿颗粒物运动方向依次构成纹影观测平台，实现对颗粒物观测区域的延伸，确保可以在较大范围内观测颗粒物的需求。
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公开(公告)号：CN110501259B
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN201910740884.7
申请日：2019-08-12
申请人： 湖南大学
IPC分类号： G01N9/10
摘要： 本发明公开了一种密度检测系统，包括：机器人，适于夹取待测管并带动待测管运动至预定位置，待测管装有待测颗粒；移液装置，包括驱动组件以及与驱动组件连接的移液泵，移液泵适于吸取基础滴定液，驱动组件适于带动移液泵运动至待测管上方进行基础滴定液的滴加；图像采集装置，包括相机，适于采集滴加基础滴定液后的待测管的图像；以及计算设备，与相机相连，适于获取相机采集的图像，根据图像判断待测管是否达到滴定终点，在确定待测管未达到滴定终点后，指示移液装置向待测管中滴加密度不同于基础滴定液的滴定液，在确定待测管达到滴定终点后，将待测管中的液体的密度作为待测颗粒的密度。此外，本发明还公开了一种密度检测方法。
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公开(公告)号：CN111693546A
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN202010548840.7
申请日：2020-06-16
申请人： 湖南大学
摘要： 本发明公开了一种缺陷检测系统，包括：料台，布置在水平方向，适于放置一个或多个待检测芯片；水平移动滑台，与料台连接，适于带动料台水平运动，以便带动待检测芯片移动至预定位置进行图像采集；第一相机，布置在料台上方，且第一相机的轴线位于竖直方向，第一相机适于采集芯片的第一图像；第二相机，布置在料台上方，且第二相机的轴线位于与水平方向呈预定夹角的预定方向，第二相机适于采集芯片的第二图像；计算设备，与第一相机、第二相机相连，适于获取第一相机、第二相机采集的第一图像、第二图像，基于第一图像、第二图像获取芯片的缺陷信息，并根据缺陷信息确定芯片的损伤状态。此外，本发明还公开了相应的缺陷检测方法和图像采集系统。
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