公开(公告)号：CN103003708A

公开(公告)日：2013-03-27

申请号：CN201080066220.4

申请日：2010-04-14

申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司

发明人： 克劳斯-皮特·贝仁斯 ,  马克·毛斯恩格

IPC分类号： G01R31/319

CPC分类号： G01R1/02 ,  G01R31/3191 ,  G01R31/31924

摘要： 本发明的实施例涉及用于测试多个被测器件的装置（10）和方法，其中装置包括：公用器件输出线（5）；驱动器单元（2），被配置为向DUT（DUT1,DUT2,DUT3,…,DUTN）提供激励（ST），其中驱动器单元（2）被配置成使得激励（ST）在不同的时间（T1,T2,T3，…,TN）到达不同的DUT；从而在DUT处产生激励时间偏移（ΔST1,ΔST2,ΔST2,…,ΔSTN-1）；接收器单元（8），电气耦合到公用器件输出线（5）；以及多个DUT连接（C1,C2,C3，…,CN），电气耦合到公用器件输出线（5），使得多个DUT的DUT端子（11）可经由公用器件输出线（5）电气耦合到接收器单元（8），其中DUT输出信号（OS1,OS2,OS3,…,OSN）从DUT连接（C1,C2,C3,…,CN）传播到接收器单元（8）的输出信号传播延迟与激励时间偏移（ΔST1,ΔST2,ΔST2，…,ΔSTN-1）相适应，使得具有相同激励响应延迟的DUT的测试在接收器单元（8）处引起DUT输出信号（OS1,OS2,OS3，…,OSN）的时间上对齐的叠加（SPN-1）。

公开(公告)号：CN103003708B

公开(公告)日：2015-01-07

申请号：CN201080066220.4

申请日：2010-04-14

申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司

发明人： 克劳斯-皮特·贝仁斯 ,  马克·毛斯恩格

IPC分类号： G01R31/319

CPC分类号： G01R1/02 ,  G01R31/3191 ,  G01R31/31924

摘要： 本发明的实施例涉及用于测试多个被测器件的装置（10）和方法，其中装置包括：公用器件输出线（5）；驱动器单元（2），被配置为向DUT（DUT1，DUT2，DUT3，…，DUTN）提供激励（ST），其中驱动器单元（2）被配置成使得激励（ST）在不同的时间（T1，T2，T3，…，TN）到达不同的DUT；从而在DUT处产生激励时间偏移（ΔST1，ΔST2，ΔST2，…，ΔSTN-1）；接收器单元（8），电气耦合到公用器件输出线（5）；以及多个DUT连接（C1，C2，C3，…，CN），电气耦合到公用器件输出线（5），使得多个DUT的DUT端子（11）可经由公用器件输出线（5）电气耦合到接收器单元（8），其中DUT输出信号（OS1，OS2，OS3，…，OSN）从DUT连接（C1，C2，C3，…，CN）传播到接收器单元（8）的输出信号传播延迟与激励时间偏移（ΔST1，ΔST2，ΔST2，…，ΔSTN-1）相适应，使得具有相同激励响应延迟的DUT的测试在接收器单元（8）处引起DUT输出信号（OS1，OS2，OS3，…，OSN）的时间上对齐的叠加（SPN-1）。

公开(公告)号：CN103917880A

公开(公告)日：2014-07-09

申请号：CN201180074738.7

申请日：2011-11-09

申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司

发明人： 乔斯·安东尼奥·艾尔维斯·莫瑞拉 ,  马克·毛斯恩格

IPC分类号： G01R31/319 ,  H05K1/02

CPC分类号： G01R1/067 ,  G01R31/2889 ,  G01R31/31905 ,  G11C29/56016 ,  G11C2029/5602 ,  H05K1/0234 ,  H05K1/0251 ,  H05K1/0268 ,  H05K2201/09254 ,  H05K2201/09809 ,  H05K2203/162

摘要： 本发明提供用于提取在被测器件(124)与自动测试设备(122)之间进行交换的信号的印刷电路板(100)。印刷电路板(100)包括多个第一端子(102)、多个第二端子(104)、多条传输线路(106)以及提取电路(108)。提取电路(108)电耦接到多条传输线路(106)中的一条传输线路并且被配置为提取通过该条传输线路(106)在被测器件(124)与自动测试设备(122)之间进行交换的信号以便提供提取的信号(110)，其中提取电路(108)包括电阻器(112)或电阻器网络，其中由于印刷电路板的存在而附加在通过该条传输线路在被测器件与自动测试设备之间进行交换的信号上的损耗小于6dB。