光学形状传感器及其感测方法、光学形状感测控制台和系统

    公开(公告)号:CN111684331B

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN201980011074.6

    申请日:2019-01-24

    摘要: (OI)处以实质上不与在所述光学耦合构件本发明涉及一种光学形状传感器(OS),包 (OCM2)的所述第二端面(IF2)处反射的光的反射括:光纤(F2),其具有定义纵向方向的长度,所述 强度分布交叠的反射强度分布被反射。光纤(F2)具有沿着所述光纤(F2)的所述长度延伸的至少两个纤芯(C21、C22);光学耦合构件(OCM2),其被布置在所述光纤(F2)的近侧光纤端处,所述耦合构件(OCM2)具有第一远侧端面(OF2)和近侧第二端面(IF2),所述第一远侧端面被光学地连接到所述近侧光纤端,所述近侧第二端面在所述光纤(F2)的所述纵向方向上与所述第一远侧端面(OF2)间隔开,所述光学耦合构件(OCM2)被配置为将光耦合到所述纤芯(C21、C22、C23)中的每一个内。从所述光学耦合构件(OCM2)到所述近侧光纤端的过渡处的光学界面(OI)是

    用于确定相关联对象的位置和/或形状的光学感测系统

    公开(公告)号:CN104169678B

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201380014555.5

    申请日:2013-03-11

    IPC分类号: G01B11/16

    摘要: 本发明涉及一种用于确定相关联对象(O)的位置和/或形状的光学感测系统(1),所述系统包括具有一个或多个光纤芯(9)的光纤(10),所述一个或多个光纤芯(9)具有一个或多个光纤布拉格光栅(FBG,8),所述一个或多个光纤布拉格光栅(FBG,8)沿完整长度延伸,在所述完整长度上,所述对象(O)的所述位置和/或形状要被确定。反射计(REFL,12)测量在沿所述光纤芯的多个采样点处的应变,并且处理器(PROC,14)基于从所述多个光纤芯所测量的应变来确定所述位置和/或形状。所述(一个或多个)光纤布拉格光栅(FBG,8)沿所述光纤芯(9)的所述完整长度延伸,所述光纤芯具有沿所述光纤芯的所述完整长度的空间调制的反射(r),使得对应的反射谱在所述波长扫描中能被检测。因此,所述(一个或多个)光纤布拉格光栅可以沿所述光纤有效地连续而无间隙,使得每个位置均产生能检测的反射,并且实现了所述反射谱可以包含等于所述反射计中的光源的所述波长扫描或“扫掠”的波长跨度。

    光学形状传感器、光学形状感测控制台和系统、以及光学形状感测方法

    公开(公告)号:CN111684331A

    公开(公告)日:2020-09-18

    申请号:CN201980011074.6

    申请日:2019-01-24

    摘要: 本发明涉及一种光学形状传感器(OS),包括:光纤(F2),其具有定义纵向方向的长度,所述光纤(F2)具有沿着所述光纤(F2)的所述长度延伸的至少两个纤芯(C21、C22);光学耦合构件(OCM2),其被布置在所述光纤(F2)的近侧光纤端处,所述耦合构件(OCM2)具有第一远侧端面(OF2)和近侧第二端面(IF2),所述第一远侧端面被光学地连接到所述近侧光纤端,所述近侧第二端面在所述光纤(F2)的所述纵向方向上与所述第一远侧端面(OF2)间隔开,所述光学耦合构件(OCM2)被配置为将光耦合到所述纤芯(C21、C22、C23)中的每一个内。从所述光学耦合构件(OCM2)到所述近侧光纤端的过渡处的光学界面(OI)是部分反射并且大幅度透射的,其中,所述光学界面(OI)从所述近侧第二端面(IF2)远侧以这种距离被布置并且被配置为使得光在所述光学界面(OI)处以实质上不与在所述光学耦合构件(OCM2)的所述第二端面(IF2)处反射的光的反射强度分布交叠的反射强度分布被反射。

    光学频域反射计(OFDR)系统

    公开(公告)号:CN104782063A

    公开(公告)日:2015-07-15

    申请号:CN201380053894.4

    申请日:2013-09-16

    IPC分类号: H04B10/071 G01M11/00

    摘要: 提出了一种光学频域反射计(OFDR)系统(100),所述光学频域反射计系统包括第一耦合点(15),所述第一耦合点被布置为将辐射分裂为两部分,使得辐射可以被发射到参考路径(16)以及测量路径(17)中。所述系统还包括光学探测单元(30),所述光学探测单元能够经由所述第二耦合点(25)获得来自从所述参考路径和所述测量路径组合的光学辐射的信号。所述测量路径(17)包括依赖偏振的光学路径长度移位器(PDOPS、PDFS、10),所述依赖偏振的光学路径长度移位器可以创建针对在所述测量路径中的所述辐射的第一偏振(P1)和第二偏振(P2),其中,对于所述测量路径中的所述第一偏振(P1)和所述第二偏振(P2)而言,所述光学路径长度不同。这对于获得改进的光学频率反射计(OFDR)系统而言可以是有利的,在所述光学频率反射计系统中,例如,可以在辐射源的相同扫描中执行针对输入偏振的两个测量。