硅晶圆研磨用组合物
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106233424B

    公开(公告)日:2018-12-25

    申请号:CN201580020029.9

    申请日:2015-04-07

    IPC分类号: H01L21/02 C09K3/14 C09G1/02

    摘要: 本发明提供一种降低硅晶圆表面的雾度的效果及过滤性优异的硅晶圆研磨用组合物。此处所提供的硅晶圆研磨用组合物含有硅晶圆研磨促进剂、含酰胺基聚合物X、不含酰胺基的有机化合物Y及水。含酰胺基聚合物X在主链中具有源自下述通式(1)所示的单体的结构单元A。另外,含酰胺基聚合物X的分子量Mx与有机化合物Y的分子量My的关系满足下式200≤My

    硅晶圆研磨用组合物

    公开(公告)号:CN106233423A

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201580020002.X

    申请日:2015-04-07

    IPC分类号: H01L21/02

    摘要: 本发明提供一种降低硅晶圆表面的雾度的效果优异的硅晶圆研磨用组合物。此处所提供的硅晶圆研磨用组合物含有磨粒、硅晶圆研磨促进剂、含酰胺基聚合物及水。含酰胺基聚合物在主链中具有源自下述通式(1)所示的单体的结构单元A。另外,磨粒的平均二次粒径为10nm以上且60nm以下。

    研磨用组合物和研磨用组合物套组

    公开(公告)号:CN109673157B

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN201780053523.4

    申请日:2017-08-29

    摘要: 本发明提供对表面缺陷的降低有效的研磨用组合物。根据本发明所提供的研磨用组合物包含磨粒、水溶性高分子和碱性化合物。上述水溶性高分子包含满足下述条件(1)、(2)这两者的聚合物A。(1)在一分子中包含乙烯醇单元和非乙烯醇单元。(2)利用[(C1‑C2)/C1]×100计算出的吸附参数为5以上。此处,C1是包含上述聚合物A 0.017重量%、氨0.009重量%的试验液L1中所包含的有机碳的总量。上述C2是对包含BET直径35nm的胶体二氧化硅0.46重量%、上述聚合物A 0.017重量%、氨0.009重量%的试验液L2离心分离而使上述磨粒沉淀的上清液中所包含的有机碳的总量。

    研磨用组合物和研磨用组合物套组

    公开(公告)号:CN109673157A

    公开(公告)日:2019-04-23

    申请号:CN201780053523.4

    申请日:2017-08-29

    IPC分类号: C09K3/14 B24B37/00 H01L21/304

    摘要: 本发明提供对表面缺陷的降低有效的研磨用组合物。根据本发明所提供的研磨用组合物包含磨粒、水溶性高分子和碱性化合物。上述水溶性高分子包含满足下述条件(1)、(2)这两者的聚合物A。(1)在一分子中包含乙烯醇单元和非乙烯醇单元。(2)利用[(C1-C2)/C1]×100计算出的吸附参数为5以上。此处,C1是包含上述聚合物A 0.017重量%、氨0.009重量%的试验液L1中所包含的有机碳的总量。上述C2是对包含BET直径35nm的胶体二氧化硅0.46重量%、上述聚合物A 0.017重量%、氨0.009重量%的试验液L2离心分离而使上述磨粒沉淀的上清液中所包含的有机碳的总量。

    硅晶圆研磨用组合物
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106233424A

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201580020029.9

    申请日:2015-04-07

    IPC分类号: H01L21/02 C09K3/14 C09G1/02

    摘要: 本发明提供一种降低硅晶圆表面的雾度的效果及过滤性优异的硅晶圆研磨用组合物。此处所提供的硅晶圆研磨用组合物含有硅晶圆研磨促进剂、含酰胺基聚合物X、不含酰胺基的有机化合物Y及水。含酰胺基聚合物X在主链中具有源自下述通式(1)所示的单体的结构单元A。另外,含酰胺基聚合物X的分子量Mx与有机化合物Y的分子量My的关系满足下式200≤My