一种垂直腔面发射半导体发光结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN114899707A

    公开(公告)日:2022-08-12

    申请号:CN202210812724.0

    申请日:2022-07-12

    IPC分类号: H01S5/183 H01S5/02

    摘要: 本发明提供一种垂直腔面发射半导体发光结构及其制备方法,其中半导体器件包括:半导体衬底层;位于半导体衬底层上的第一布拉格反射镜;位于第一布拉格反射镜背向半导体衬底层一侧的有源层;位于有源层背向第一布拉格反射镜一侧的第二布拉格反射镜,第二布拉格反射镜的反射率大于第一布拉格反射镜的反射率;位于第二布拉格反射镜、有源层和第一布拉格反射镜中的若干开口,相邻的开口之间构成发光柱,发光柱的数量为若干个;光栅层,光栅层位于半导体衬底层背向第一布拉格反射镜的一侧,光栅层至少位于若干个发光柱的底部以及相邻的发光柱之间区域的底部。所述垂直腔面发射半导体发光结构的阵列光束为单模相干且其相位分布可控。

    半导体激光器接触电极及其制备方法

    公开(公告)号:CN116316055B

    公开(公告)日:2023-09-01

    申请号:CN202310547285.X

    申请日:2023-05-16

    IPC分类号: H01S5/042 C23C14/35 C23C14/18

    摘要: 本申请公开了半导体激光器接触电极及其制备方法,其中半导体激光器接触电极包括衬底层、接触层、第一扩散阻挡层、第二扩散阻挡层和上盖层;其中,第一扩散阻挡层包括从下至上依次设置的第一粘结金属、难熔金属或难熔合金以及第二粘结金属,第一粘结金属与难熔金属或难熔合金形成有第一互溶异质界面区域,第二粘结金属与难熔金属或难熔合金形成有第二互溶异质界面区域。本申请公开的半导体激光器接触电极及其制备方法,能够提高整个电极的耐高温性能,提升半导体激光器制造的效率和良率;能够使电极电阻仍能保持在较低的量级,提升半导体激光器的性能;有效降低电极厚度,降低应力,进而降低由于电极厚度增加产生的碎裂风险,提高产品质量。

    一种超高真空解理镀膜装置及其工作方法

    公开(公告)号:CN114498289B

    公开(公告)日:2022-07-01

    申请号:CN202210336910.1

    申请日:2022-04-01

    IPC分类号: H01S5/028 C23C14/50

    摘要: 一种超高真空解理镀膜装置及其工作方法,超高真空解理镀膜装置包括:解理腔体;解理平台;半导体发光器件载具;半导体发光器件载具包括:第一承载平台,第一承载平台中具有在第一方向上相对设置的第一定位槽、以及第二方向上相对设置的第二定位槽;分别位于第一定位槽中的第一定位销;分别位于第二定位槽中的第二定位销;第一定位销适于沿着第一定位槽在第一方向上移动;第二定位销适于沿着第二定位槽在第二方向上移动;第一定位销和第二定位销适于对从解理平台掉落至第一承载平台的若干垂直堆叠的半导体发光器件进行限位。超高真空解理镀膜装置的工作效率高且可长时间维持较高的真空环境。

    半导体激光器接触电极及其制备方法

    公开(公告)号:CN116316055A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310547285.X

    申请日:2023-05-16

    IPC分类号: H01S5/042 C23C14/35 C23C14/18

    摘要: 本申请公开了半导体激光器接触电极及其制备方法,其中半导体激光器接触电极包括衬底层、接触层、第一扩散阻挡层、第二扩散阻挡层和上盖层;其中,第一扩散阻挡层包括从下至上依次设置的第一粘结金属、难熔金属或难熔合金以及第二粘结金属,第一粘结金属与难熔金属或难熔合金形成有第一互溶异质界面区域,第二粘结金属与难熔金属或难熔合金形成有第二互溶异质界面区域。本申请公开的半导体激光器接触电极及其制备方法,能够提高整个电极的耐高温性能,提升半导体激光器制造的效率和良率;能够使电极电阻仍能保持在较低的量级,提升半导体激光器的性能;有效降低电极厚度,降低应力,进而降低由于电极厚度增加产生的碎裂风险,提高产品质量。

    一种垂直腔面发射半导体发光结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN114899707B

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210812724.0

    申请日:2022-07-12

    IPC分类号: H01S5/183 H01S5/02

    摘要: 本发明提供一种垂直腔面发射半导体发光结构及其制备方法,其中半导体器件包括:半导体衬底层;位于半导体衬底层上的第一布拉格反射镜;位于第一布拉格反射镜背向半导体衬底层一侧的有源层;位于有源层背向第一布拉格反射镜一侧的第二布拉格反射镜,第二布拉格反射镜的反射率大于第一布拉格反射镜的反射率;位于第二布拉格反射镜、有源层和第一布拉格反射镜中的若干开口,相邻的开口之间构成发光柱,发光柱的数量为若干个;光栅层,光栅层位于半导体衬底层背向第一布拉格反射镜的一侧,光栅层至少位于若干个发光柱的底部以及相邻的发光柱之间区域的底部。所述垂直腔面发射半导体发光结构的阵列光束为单模相干且其相位分布可控。

    一种超高真空解理镀膜装置及其工作方法

    公开(公告)号:CN114498289A

    公开(公告)日:2022-05-13

    申请号:CN202210336910.1

    申请日:2022-04-01

    IPC分类号: H01S5/028 C23C14/50

    摘要: 一种超高真空解理镀膜装置及其工作方法,超高真空解理镀膜装置包括:解理腔体;解理平台;半导体发光器件载具;半导体发光器件载具包括:第一承载平台,第一承载平台中具有在第一方向上相对设置的第一定位槽、以及第二方向上相对设置的第二定位槽;分别位于第一定位槽中的第一定位销;分别位于第二定位槽中的第二定位销;第一定位销适于沿着第一定位槽在第一方向上移动;第二定位销适于沿着第二定位槽在第二方向上移动;第一定位销和第二定位销适于对从解理平台掉落至第一承载平台的若干垂直堆叠的半导体发光器件进行限位。超高真空解理镀膜装置的工作效率高且可长时间维持较高的真空环境。