公开(公告)号：CN1610834A

公开(公告)日：2005-04-27

申请号：CN02802313.7

申请日：2002-06-27

申请人： 英特泰克公司

发明人： 米歇尔·里凯蒂 ,  克里斯托弗·J·克拉克

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318563 ,  G01R31/318516 ,  G01R31/318555 ,  G11C29/56 ,  G11C2029/2602

摘要： 提供一种并行测试结构(PTA)，便于同时访问多个电子电路(即并行)，用于优化电路的测试、调试或可编程配置。PTA包括并行测试总线(PTB)、连接到PTB的测试控制器、和连接到PTB的多个可寻址PTB控制器，其中每个可寻址PTB控制器可耦合到被访问的相应电子电路上。测试控制器被构成以在PTB上向相应的可寻址PTB控制器发送至少一个控制信号、以启动由相应的可寻址PTB控制器进行对与其耦合的电子电路的并行扫描访问。此外，每个可寻址PTB控制器被构成以采用扫描协议、以便根据由测试控制器在PTB上发送的控制信号访问可与其耦合的相应电子电路，并响应于访问相应电子电路而在PTB上向第一控制器发送结果扫描数据。

公开(公告)号：CN100416288C

公开(公告)日：2008-09-03

申请号：CN02802313.7

申请日：2002-06-27

申请人： 英特泰克公司

发明人： 米歇尔·里凯蒂 ,  克里斯托弗·J·克拉克

IPC分类号： G01R31/3185 ,  G11C29/56

CPC分类号： G01R31/318563 ,  G01R31/318516 ,  G01R31/318555 ,  G11C29/56 ,  G11C2029/2602

摘要： 提供一种并行测试结构(PTA)，便于同时访问多个电子电路(即并行)，用于优化电路的测试、调试或可编程配置。PTA包括并行测试总线(PTB)、连接到PTB的测试控制器、和连接到PTB的多个可寻址PTB控制器，其中每个可寻址PTB控制器可耦合到被访问的相应电子电路上。测试控制器被构成以在PTB上向相应的可寻址PTB控制器发送至少一个控制信号、以启动由相应的可寻址PTB控制器进行对与其耦合的电子电路的并行扫描访问。此外，每个可寻址PTB控制器被构成以采用扫描协议、以便根据由测试控制器在PTB上发送的控制信号访问可与其耦合的相应电子电路，并响应于访问相应电子电路而在PTB上向第一控制器发送结果扫描数据。