基于扩散模型的变电缺陷数据小样本扩充方法及系统

    公开(公告)号:CN117115818A

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202311086012.6

    申请日:2023-08-28

    Abstract: 本发明公开了基于扩散模型的变电缺陷数据小样本扩充方法及系统,涉及变电缺陷数据生成和小样本生成技术领域。包括:S1.数据采集、S2.数据预处理、S3.图像标注、S4.模型训练、S5.训练结束、S6.缺陷预测。本发明使用正常的变电缺陷数据对扩散模型的图像编码器进行训练;随后利用少量缺陷数据对扩散模型进行微调,最后向微调后的扩散模型输入变电缺陷文本描述,获得对应的变电缺陷图像数据;能够实现基于极易获取的大量正常变电缺陷数据与少量变电缺陷数据,生成大量难获取的变电缺陷数据,具有可用性好、通用性高等优点,兼顾模型泛化能力,能够很好应用于变电缺陷数据生成,为变电缺陷检测模型提供数据支撑。

Patent Agency Ranking