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公开(公告)号：CN118473345A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410648367.8
申请日：2024-05-23
Applicant: 西安电子科技大学广州研究院 , 西安电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种基于共面波导的金刚石基功率放大器和电子设备，包括依次连接的驱动级放大器、级间匹配网络和输出级放大器；驱动级放大器、级间匹配网络和输出级放大器的衬底材料均为金刚石；驱动级放大器、级间匹配网络和输出级放大器中的传输线采用共面波导结构，该功率放大器采用金刚石材料作为衬底，可以有效散热，进而提高功率放大器的效率和高温工作能力，另一方面使用共面波导结构，解决了金刚石衬底难以进行背通孔接地的问题，同时简化了制作工艺。
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公开(公告)号：CN115000168A
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN202210721922.6
申请日：2022-06-24
Applicant: 西安电子科技大学广州研究院 , 西安电子科技大学
IPC: H01L29/778 , H01L29/66 , H01L21/335
Abstract: 一种P型氮化物增强型HEMT器件及其制备方法，用传统制备方法淀积氮化镓帽层并进行Mg杂质掺杂后，不再进一步刻蚀掉非栅极下的氮化物帽层，而是继续经过淀积刻蚀形成一层n型掺杂的GaN保护层，然后再对栅极下方的氮化镓帽层进行退火，使得Mg杂质被激活，形成P型氮化物帽层。栅电极下方激活的原Mg掺杂氮化物帽层耗尽了栅下沟道中的二维电子气，提高了器件的阈值电压，实现增强型器件。同常规P型氮化物增强型HEMT器件采用的干法刻蚀工艺相比，该制备方法避免制作时的干法刻蚀步骤，减少了刻蚀对势垒层表面的损伤，极少了表面态引起的动态电阻退化和可靠性退化；增大了产品的片内均匀性和批次重复性，提高了产品良率。
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公开(公告)号：CN118629868A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202310220045.9
申请日：2023-03-07
Applicant: 西安电子科技大学广州研究院 , 西安电子科技大学
IPC: H01L21/335 , H01L29/778 , H01L29/423 , H01L29/417
Abstract: 本发明涉及一种自对准T型栅的GaN高频器件及制备方法，包括：获取外延片；在势垒层上生长第一介质层；刻蚀栅极区域的所述第一介质层至暴露所述势垒层的上表面，以形成栅极窗口；在暴露所述沟道层的所述栅极窗口内和所述势垒层上生长第二介质层；刻蚀部分区域的所述第二介质层和该第二介质层正下方的第一介质层，暴露势垒层，以形成两个有源区区域；在有源区区域内进行离子注入，以形成离子注入区域，之后进行退火处理，形成欧姆接触；在势垒层、离子注入区域和T型的第二介质层上生长第一介质层；去除T型的第二介质层，以在栅极窗口和第一介质层上制备T型的栅电极；去除有源区区域处的第一介质层，之后在离子注入区域上生长源电极和漏电极。本发明提高金了属线与半导体之间的对准精度，改善了器件制造精度，性能更加优越。
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公开(公告)号：CN115148734A
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN202210721926.4
申请日：2022-06-24
Applicant: 西安电子科技大学广州研究院 , 西安电子科技大学
IPC: H01L27/095
Abstract: 砷化镓低噪声放大器和氮化镓功率放大器单片集成电路，自下而上依次包括衬底层、缓冲层、沟道层、势垒层以及位于势垒层上的电极；其中衬底层采用硅材料，衬底层上方为缓冲层，分为左右两个部分，左边为三族氮化物复合缓冲层、右边为三族砷化物缓冲层。氮化镓缓冲层上方为氮化镓晶体管的沟道层和势垒层；三族砷化物缓冲层上方为砷化镓晶体管的沟道层和势垒层，势垒层上方为氮化镓晶体管和砷化镓晶体管的电极，衬底层背面至势垒层上设置有通孔。该集成方法可以在同一个硅衬底上实现氮化镓晶体管和砷化镓晶体管的集成，有效减少低噪声放大器和功率放大器之间的寄生效应，改善电路高频性能，并且可以减少芯片面积，降低成本，增加散热。
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公开(公告)号：CN119789510A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411650458.1
申请日：2024-11-19
Applicant: 西安电子科技大学广州研究院 , 西安电子科技大学
IPC: H10D84/82 , H10D84/05 , H10D62/824
Abstract: 本发明公开了一种氮化镓和砷化镓侧向单片异质集成射频芯片及其制备方法，包括背金属、衬底、氮化镓器件外延层、氮化镓器件电极漏极、氮化镓器件电极栅极、氮化镓器件电极源极、背通孔、砷化镓外延过渡层、砷化镓器件外延层、砷化镓器件电极源极、砷化镓器件电极栅极、砷化镓器件电极漏极；氮化镓和砷化镓外延材料和射频器件共用背金属和衬底，砷化镓射频器件通过在异质衬底氮化镓晶圆上选择区域挖槽外延生长砷化镓材料，并加工砷化镓器件的方式实现水平方向的单片异质集成；本发明可以使氮化镓和砷化镓射频器件具有极小的空间间距，减少了高频下长距离传输信号的损耗和寄生参数的影响，并且减小了芯片面积与芯片体积，减少了封装成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115148734B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202210721926.4
申请日：2022-06-24
Applicant: 西安电子科技大学广州研究院 , 西安电子科技大学
IPC: H01L27/095
Abstract: 砷化镓低噪声放大器和氮化镓功率放大器单片集成电路，自下而上依次包括衬底层、缓冲层、沟道层、势垒层以及位于势垒层上的电极；其中衬底层采用硅材料，衬底层上方为缓冲层，分为左右两个部分，左边为三族氮化物复合缓冲层、右边为三族砷化物缓冲层。氮化镓缓冲层上方为氮化镓晶体管的沟道层和势垒层；三族砷化物缓冲层上方为砷化镓晶体管的沟道层和势垒层，势垒层上方为氮化镓晶体管和砷化镓晶体管的电极，衬底层背面至势垒层上设置有通孔。该集成方法可以在同一个硅衬底上实现氮化镓晶体管和砷化镓晶体管的集成，有效减少低噪声放大器和功率放大器之间的寄生效应，改善电路高频性能，并且可以减少芯片面积，降低成本，增加散热。
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公开(公告)号：CN115910781A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202211434356.7
申请日：2022-11-16
Applicant: 西安电子科技大学广州研究院 , 西安电子科技大学
IPC: H01L21/335 , H01L21/56 , H01L21/683 , H01L29/20
Abstract: 本发明公开了大尺寸晶圆透明GaN HEMT器件的制备方法，具体为：在大尺寸硅基氮化镓HEMT晶圆上进行系列器件制备工艺，包括欧姆电极制备、台面隔离和肖特基栅极制备等；在正面工艺结束后将晶圆翻转临时键合到载片上；将硅基氮化镓HEMT晶圆的硅衬底去除；然后将透明衬底与氮化镓异质晶圆紧密地结合起来；最后解晶圆正面的临时键合。本发明的方法，借助硅基氮化镓HEMT晶圆，可以实现6英寸、8英寸或者更大尺寸晶圆制备；在硅衬底上完成外延生长和器件制备后将其转移到透明衬底上，保证了整体透明性，避免了直接在透明衬底晶圆上加工GaN HEMT器件。
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公开(公告)号：CN115117209A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210769781.5
申请日：2022-07-01
Applicant: 西安电子科技大学广州研究院 , 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种氮化镓异质结双极型光子晶体管及其制备方法，包括：衬底；以及依次设置于衬底上的成核层、缓冲层；集电区，设置于缓冲层上；集电极，设置于集电区上的一端；下多量子阱层，设置于集电区上的另一端；集电极与下多量子阱层之间存在间隔；基区，设置于下多量子阱层上；基极，设置于基区上的一端；其中，基极和集电极设置于同一侧；上多量子阱层，设置于基区上的另一端；基极与上多量子阱层之间存在间隔；发射区，设置于上多量子阱层上；发射极，设置于发射区上的一端；发射极与集电极设置于不同侧；其中，集电区、下多量子阱层、基区、上多量子阱层和发射区的材料均为三族氮化物。本发明同时具有晶体管和LED的功能。
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公开(公告)号：CN115001471A
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN202210654437.1
申请日：2022-06-10
Applicant: 西安电子科技大学广州研究院 , 西安电子科技大学
IPC: H03K17/687
Abstract: 本发明公开了一种氮化镓反射式单刀八掷开关，包括：输入端、输入电容、第一微带传输线和八条支路，各支路包括：第二微带传输线、第三微带传输线、氮化镓HEMT、控制电压信号端、隔离电阻、输出电容、隔直电容、输出端和第一节点；其中，第一微带传输线的一端经输入电容连接至输入端、另一端与第二微带传输线连接，第二微带传输线串接第三微带传输线和输出电容，输出电容与输出端连接；第一节点位于第二微带传输线与第三微带传输线之间，氮化镓HEMT的漏电极与第一节点连接、栅电极经隔离电阻连接至控制电压信号端、源电极经隔直电容接地。上述单刀八掷开关工作于24.25GHz～33GHz，具有工作频带宽、在导通状态下插入损耗小的优点。
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公开(公告)号：CN119789509A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411650425.7
申请日：2024-11-19
Applicant: 西安电子科技大学广州研究院 , 西安电子科技大学
IPC: H10D84/82 , H10D84/05 , H10D62/824
Abstract: 本发明公开了一种氮化镓和砷化镓三维异质集成射频芯片及其制备方法，所述结构自下而上包括背金属、衬底、氮化镓器件外延层、键合介质层、砷化镓器件外延层、氮化镓器件电极源极、氮化镓器件电极栅极、氮化镓器件电极漏极、砷化镓器件电极源极、砷化镓器件电极栅极、砷化镓器件电极漏极、氮化镓背通孔、砷化镓背通孔、正面通孔、氮化镓外表面电极源极、氮化镓外表面电极漏极，砷化镓器件外延层上表面的电极根据需要进行互联，形成一定功能的集成电路。本发明可以使氮化镓和砷化镓射频器件的电极具有极小的空间间距，减少了高频下长距离传输信号的损耗和寄生参数的影响，并且减小了芯片面积与芯片体积，减少了封装成本。
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