基于变积分时间多段校正算法的温度段划分与切换方法

    公开(公告)号:CN114397024A

    公开(公告)日:2022-04-26

    申请号:CN202111364875.6

    申请日:2021-11-17

    发明人: 朱寅非 崔文豪

    IPC分类号: G01J5/48

    摘要: 本发明公开了一种基于变积分时间多段校正算法的温度段划分与切换方法,首先根据红外探测器的输出特性确定探测器的半阱值、高半阱值、低半阱值以及高偏移段、零偏移段和低偏移段;然后根据不同的场景选取积分时间;针对不同产品在不同的应用场景下采取不同的策略;红外探测器焦平面输出的直流电平中间值比四周偏高10%,将此差值作为最小温度区间选取的依据;每一个温度区间的选取都应该对应一个积分时间及Gpol值;当产品上电时进行单点校正,校正各个温度系数段。本发明方法由于采用变积分时间方法,适应的场景温度范围较宽,可在不同场景下达到最佳成像效果。

    一种应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法

    公开(公告)号:CN112729554A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN202011502662.0

    申请日:2020-12-18

    发明人: 朱寅非 魏俊杰

    摘要: 本发明涉及一种应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法,在探测器输出的模拟信号采样位置范围内进行m次采样,得到采样数据gi,对采样数据gi中的m个数据进行处理,再分别以以图像灰度方差Iσ、图像粗糙度ρ和峰值信噪比PSNR进行图像质量评价并调整。有益效果:1、对红外线列探测器输出的模拟信号进行实时可变频率多次采样;2、对红外线列探测器输出的模拟信号的采样区间位置进行选取;3、对多次采样后的数据进行选择性抽取;4、对校正后的图像画面进行图像质量评价,自动判别目前采样方式是否满足需求。由此一是增加有用信号的幅值,另一方法是降低成像组件的噪声。

    温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法

    公开(公告)号:CN108322732B

    公开(公告)日:2020-02-14

    申请号:CN201711245180.X

    申请日:2017-12-01

    IPC分类号: H04N17/00

    摘要: 本发明涉及一种温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法,将温度可变辐射材料引入红外成像领域,在红外热像仪工作环境温度变化后,使用红外辐射基于温度变化的材料,保证非均匀校正时,校正挡板响应在两点校正线性区。在不增加软硬件系统的额外开销、不改变系统积分时间的条件下,消除因环境温度变化造成的非均匀性。在红外热像仪因工作环境温度变化,画面出现非均匀性后,不改变系统积分时间、不增加软硬件系统的额外开销的条件下,消除因环境温度变化造成的画面非均匀性,提高红外热像仪成像质量。

    一种高分辨率红外成像系统预处理方法

    公开(公告)号:CN109410150A

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201811335848.4

    申请日:2018-11-11

    IPC分类号: G06T5/00 G06T1/00 G06T1/60

    摘要: 本发明涉及一种高分辨率红外成像系统预处理方法,标定阶段时通过MicroBlaze软件完成校正参数计算并存储在FLASH中。校正阶段在缓冲区接收1280×1024红外图像数据实现数据同步后,在软核MicroBlaze控制下依次读取32bit同步SRAM中存储的校正参数,然后在逻辑硬件中完成高分辨率红外图像的非均匀校正。本发明利用MicroBlaze软核能够自行定制和PLB总线协议简单的特点,有效和方便地完成对红外图像处理系统数据流的协调和控制,并且贯彻流水线处理的思想。MicroBlaze软核和硬件逻辑软件协同实现非均匀校正处理。该方法不仅完成了对大数据量的高速处理,而且表现出很好的非均匀校正效果和高探测灵敏度。

    温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法

    公开(公告)号:CN108322732A

    公开(公告)日:2018-07-24

    申请号:CN201711245180.X

    申请日:2017-12-01

    IPC分类号: H04N17/00

    摘要: 本发明涉及一种温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法,将温度可变辐射材料引入红外成像领域,在红外热像仪工作环境温度变化后,使用红外辐射基于温度变化的材料,保证非均匀校正时,校正挡板响应在两点校正线性区。在不增加软硬件系统的额外开销、不改变系统积分时间的条件下,消除因环境温度变化造成的非均匀性。在红外热像仪因工作环境温度变化,画面出现非均匀性后,不改变系统积分时间、不增加软硬件系统的额外开销的条件下,消除因环境温度变化造成的画面非均匀性,提高红外热像仪成像质量。

    一种高分辨率制冷型红外热像仪

    公开(公告)号:CN106595869B

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:CN201611063312.2

    申请日:2016-11-28

    IPC分类号: G01J5/00

    摘要: 本发明涉及一种高分辨率制冷型红外热像仪,红外光学系统的输入端接收红外辐射信号,输出连接红外焦平面探测器,红外焦平面探测器的输出端连接探测器驱动模块的模拟信号读出单元,其输出端连接ADC转换模块,ADC转换模块的输出端连接信号处理及成像模块,信号处理及成像模块输出视频信号,同时输出端连接探测器驱动模块的数字驱动信号单元;电源模块的输出端连接各模块的电源端口。本发明具有稳定性好、结构紧凑、功耗小、成本低等优势,能实时完成对图像数据的各种运算、切换、并输出到显示系统。配合显示系统和按键实现人机交互:对探测器阈值的控制和实现拍照、录像、播放、存储、传输等功能。

    一种红外处理ADC电路性能比测方法

    公开(公告)号:CN109387777A

    公开(公告)日:2019-02-26

    申请号:CN201811332187.X

    申请日:2018-11-09

    IPC分类号: G01R31/3181

    摘要: 本发明涉及一种红外处理ADC电路性能比测方法,使被测红外处理ADC电路与标准红外处理ADC电路对同一信号源进行采集,对比分析两个被测ADC电路与标准ADC电路测试结果,进而客观评价被测红外处理ADC电路性能与标准红外处理ADC电路之间的差异。该方法可快速评价红外处理ADC电路的优劣。本发明方法可快速对比被测ADC电路与标准ADC电路测试结果,客观评价被测ADC电路性能与标准ADC电路之间的差异。该方法可快速评价ADC电路的优劣。