公开(公告)号：CN103033736A

公开(公告)日：2013-04-10

申请号：CN201210349012.6

申请日：2012-09-19

Applicant: 飞思卡尔半导体公司

Inventor： M·E·斯坦雷 ,  J·S·瓦卡罗

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/3185

CPC classification number: G01R31/318555 ,  G01R31/318513 ,  G01R31/318572 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明涉及测试多集成电路器件的方法及装置。实施例包括的系统包括至少一个集成电路（IC）以及用于对它们进行测试的方法。每个IC包含用于接收输入信号的输入互联体，用于接收测试启用信号的测试启用互联体，以及用于执行该集成电路测试的控制器（例如，TAP控制器），其中该执行是基于至少在寄存器（对应于输入信号的值）中的值进行的。每个IC还包括输入端口和耦接于第一输入互联体的多路复用器，至少一个寄存器，和输入端口。该多路复用器可控制为将输入信号传送到输入端口以响应测试启用信号的非断言，并且将输入信号传送到至少一个控制器以响应测试启用信号的断言。当系统包括多个控制器时，每个控制器可执行不同的操作码至指令映射。

公开(公告)号：CN103033736B

公开(公告)日：2017-05-03

申请号：CN201210349012.6

申请日：2012-09-19

Applicant: 飞思卡尔半导体公司

Inventor： M·E·斯坦雷 ,  J·S·瓦卡罗

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/3185

CPC classification number: G01R31/318555 ,  G01R31/318513 ,  G01R31/318572 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明涉及测试多集成电路器件的方法及装置。实施例包括的系统包括至少一个集成电路（IC）以及用于对它们进行测试的方法。每个IC包含用于接收输入信号的输入互联体，用于接收测试启用信号的测试启用互联体，以及用于执行该集成电路测试的控制器（例如，TAP控制器），其中该执行是基于至少在寄存器（对应于输入信号的值）中的值进行的。每个IC还包括输入端口和耦接于第一输入互联体的多路复用器，至少一个寄存器，和输入端口。该多路复用器可控制为将输入信号传送到输入端口以响应测试启用信号的非断言，并且将输入信号传送到至少一个控制器以响应测试启用信号的断言。当系统包括多个控制器时，每个控制器可执行不同的操作码至指令映射。