公开(公告)号：CN104501946B

公开(公告)日：2018-01-16

申请号：CN201410364162.3

申请日：2014-07-29

申请人： 超科技公司

发明人： S·阿尼基谢威 ,  D·盖恩斯

IPC分类号： G01J1/42

CPC分类号： G01J1/0407 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/0477 ,  G01J1/4257 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/4261 ,  G02B5/04 ,  G02B27/108

摘要： 本发明涉及用于测量高强度光束的系统和方法，公开了用于测量光束的强度特性的系统和方法。所述方法包括将光束引导到包括由两个透明板夹在中间的薄棱镜的棱镜组件中，以及由全内反射表面将光束的一部分反射到积分球，同时将光束的剩余部分通过两个透明板发射到光束收集器。方法还包括检测由积分球捕获的光束并且根据所检测的光束确定光束的强度特性。

公开(公告)号：CN107264474A

公开(公告)日：2017-10-20

申请号：CN201610884312.2

申请日：2016-10-10

申请人： 现代自动车株式会社 ,  起亚自动车株式会社

发明人： 朴钟旼 ,  孔珞敬 ,  陈建秀 ,  李骐泓 ,  李晋相

IPC分类号： B60S1/08 ,  G01W1/14

CPC分类号： B60S1/0837 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/08 ,  G01J1/42 ,  G01J1/4228 ,  B60S1/0833 ,  G01W1/14

摘要： 本发明提供一种带有多个灵敏度区的雨水传感器，起包括：被配置成输出光的至少一个发光单元；反射板，其被设置成在与至少一个发光单元间隔预定距离的位置处对应于至少一个发光单元；玻璃部件，其被配置成反射由反射板反射的光并形成多个感测区；和光接收单元，其被配置成接收由玻璃部件反射的光。反射板包括形成第一感测区的至少一个第一反射单元和形成第二感测区的至少一个第二反射单元，该第二感测区具有的单位面积光量比第一感测区单位面积光量大，且该至少一个发光单元设置在对应于至少一个第一反射单元和至少一个第二反射单元中的每个的焦距的位置。

公开(公告)号：CN104166193B

公开(公告)日：2017-04-12

申请号：CN201410191089.4

申请日：2014-05-07

申请人： 恩普乐股份有限公司

发明人： 森冈心平

IPC分类号： G02B6/42

CPC分类号： G01J1/0425 ,  G01J1/0204 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0414 ,  G02B6/4214 ,  G02B6/4249 ,  G02B6/4286

摘要： 本发明涉及光插座及光模块。光插座(300)具有：使从发光元件(220)射出的光(L)入射的第一光学面(310)；使光(L)向受光元件(230)反射的反射面(320、330)；将光(L)分离为朝向受光元件(230)的监视光(Lm)和朝向光纤(400)的端面的信号光(Ls)的光分离部(340)；以及使信号光(Ls)向光纤(400)的端面射出的第二光学面(350)。光分离部(340)具有分割透射面(342)和分割反射面(341)。分割反射面(341)为相对于由反射面(320、330)反射的光(L)的光轴倾斜的倾斜面。

公开(公告)号：CN104054266B

公开(公告)日：2016-11-23

申请号：CN201280048647.0

申请日：2012-05-14

申请人： 中国科学院空间科学与应用研究中心

发明人： 翟光杰 ,  俞文凯 ,  刘雪峰 ,  姚旭日 ,  王超 ,  孙志斌

IPC分类号： H03K21/00

CPC分类号： G01N21/255 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/4228 ,  G01N21/17 ,  G01N21/6456 ,  G01S7/4816 ,  G01S7/486 ,  G01S17/89 ,  G02B26/0833 ,  H03K21/38

摘要： 本发明提供一种时间分辨单光子或极弱光多维成像光谱系统及方法，一方面为了实现粗略时间分辨本发明提供了一种时间分辨单光子计数二维成像系统，用于进行彩色或灰色图像的成像；此外，为了实现高精度时间分辨本发明提供的多维成像的系统主要由光源、成像光谱测量单元、电学探测单元、系统控制单元、算法单元组成，其中，携带物体信息的光成像在空间光调制器上，按压缩传感理论对其随机调制，并利用点及阵列单光子探测器收集光栅出射光，同时记录下光子数和光子到达时间，运用压缩传感算法和成像光谱相关算法进行重建，具有单光子探测灵敏度、高空时分辨率、宽光谱范围，可广泛应用于单细胞生物物理学、材料缺陷检测等众多新兴高科技产业领域。

公开(公告)号：CN105698926A

公开(公告)日：2016-06-22

申请号：CN201511035919.5

申请日：2015-11-25

申请人： 贺利氏特种光源美国有限责任公司

发明人： K·A·赫尔姆斯 ,  T·A·都姆布科夫斯基 ,  J·R·埃利奥特

IPC分类号： G01J1/42

CPC分类号： G01J1/429 ,  B05D3/061 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/0448 ,  G01J1/0462 ,  G01J1/42 ,  G01J2001/4247

摘要： 一种可调节光探测器装置，可以包括具有底面的基板。光探测器装置可以还包括固定至基板底面的光电池。光探测器装置可以还包括具有固定至基板底面以封闭光电池的顶部的金属块，其中在金属块内形成从金属块的顶部延伸至金属块的底部的开口，以形成用于光传输通过金属块到达光电池的孔。光探测器装置可以还包括可插入金属块中以改变孔的开口区域的构件。

公开(公告)号：CN103868936A

公开(公告)日：2014-06-18

申请号：CN201310324343.9

申请日：2013-07-30

申请人： 三星显示有限公司

发明人： 李石柱 ,  全镇弘

IPC分类号： G01N21/956

CPC分类号： G01J1/4257 ,  G01J1/0252 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/0448 ,  G01J1/0477

摘要： 一种激光图案检查装置，包括：固定板；被构造为相对于所述固定板竖向移动并被构造为旋转的旋转板；被连接到所述旋转板的壳体；在所述固定板上方并发出激光束的激光发射单元；在所述壳体上的棱镜单元，所述棱镜单元折射从所述激光发射单元接收的所述激光束的第一部分并透射所述激光束的第二部分；以及在所述壳体上的光束分析仪，所述光束分析仪分析由所述棱镜单元折射的所述第一部分的图案。

公开(公告)号：CN103681712A

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：CN201310386393.X

申请日：2013-08-30

申请人： 索尼公司

发明人： 户田淳

IPC分类号： H01L27/146 ,  H01L27/32 ,  H01L51/52

CPC分类号： F21V7/10 ,  G01J1/0204 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/0422 ,  H01L27/14629 ,  H01L27/14647 ,  H01L27/32 ,  H01L31/0232 ,  H01L51/5271 ,  H05B33/22

摘要： 一种固态成像装置、具有固态成像装置的电子设备及显示装置。该固态成像装置包括光电转换单元和反射板，反射板包括第一部分和第二部分，第一部分设置在关于光电转换单元与光入射侧相反的一侧上，并且形成在聚集光束的区域中心，第二部分形成在相邻区域的边界上以相对于第一部分向该入射侧凸起，并且通过在第一部分的反射光束和第二部分的反射光束之间产生相差而在该区域内聚集反射光束。

公开(公告)号：CN103453395A

公开(公告)日：2013-12-18

申请号：CN201310077344.8

申请日：2013-03-12

申请人： 财团法人工业技术研究院

发明人： 曲昌盛 ,  黎育腾 ,  钟双兆 ,  范植训 ,  李明家 ,  刁国栋

IPC分类号： F21S8/00 ,  F21V13/12 ,  F21V14/04

CPC分类号： G02B26/0808 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/044 ,  G02B5/1861 ,  G02B26/02 ,  G02B26/105 ,  G02B27/4244

摘要： 本发明公开一种光源装置，其包括至少一光源、光学模块、绕射光学元件以及遮光元件。至少一光源发出至少一光束，而此至少一光束具有波长范围。光学模块配置于光束的传递路径上，用以提供多个光学表面，其中这些光学表面分别具有多个不同的倾斜角度，以使光束中具有至少一特定波长的至少一部分光束往多个不同的方向传递。绕射光学元件也配置于光束的传递路径上，以使光束产生绕射。遮光元件具有出光口，其中已产生绕射的部分光束经由出光口传递至外界。

公开(公告)号：CN103339808A

公开(公告)日：2013-10-02

申请号：CN201180066671.2

申请日：2011-12-01

申请人： 康宁股份有限公司

发明人： 王胤 ,  G·P·怀索基 ,  谢峰 ,  C-E·扎

IPC分类号： H01S3/1055 ,  H01S3/101

CPC分类号： H01S5/0042 ,  B82Y20/00 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0414 ,  G01J3/021 ,  G01J3/1804 ,  G01J2001/4247 ,  G01R31/2635 ,  H01S5/141 ,  H01S5/3401

摘要： 一种用于自动表征从半导体晶片分离的半导体条上的多个外腔半导体激光器芯片的系统和过程。该系统包括：衍射光栅，被安装在旋转台上，用于使衍射光栅转动通过衍射角范围；操纵镜，被安装在旋转台上并被定向成垂直于衍射光栅的表面；激光分析仪；以及激光器条定位台。该定位台被自动移动以使平台上的激光器条中的每个激光器芯片与衍射光栅对准（一次一个芯片），使得从激光器条中的激光器芯片发出的激光束的部分被光栅的一阶衍射反射回同一激光器芯片以锁定激射波长，并且激光束被操纵镜反射的余下部分被激光分析仪接收并表征。对于每个激光器芯片，旋转台被自动转动以使衍射光栅相对于激光器芯片所发出的激光束转动通过衍射角范围，并且激光分析仪自动地表征每个衍射角下的激光器光学性质（诸如光谱、功率或空间模式）。

公开(公告)号：CN102023053A

公开(公告)日：2011-04-20

申请号：CN201010284376.1

申请日：2010-09-10

申请人： 思达科技股份有限公司

发明人： 刘俊良 ,  王礼民 ,  刘毅敏 ,  陈和也

IPC分类号： G01J1/06 ,  G01J3/02

CPC分类号： G01J1/02 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/0425 ,  G01J3/505

摘要： 本发明公开一种发光元件的测试装置及其测试模块，该测试装置包含一烤箱以及一感测模块，该烤箱包含一前壁，其具有至少一前开口，该感测模块经配置以将该发光元件的出光从该烤箱内导引至该烤箱外。在本发明的一实施例中，该感测模块包含一基板、一导光元件、一反射器及一光耦合器，该基板具有至少一第一孔洞及一第二孔洞，该第一孔洞连接该第二孔洞，该导光元件设置于该第二孔洞内，该反射器经配置以将该发光元件的出光反射至该导光元件，该光耦合器设置于该基板前端且耦合于该导光元件。本发明的测试模块的可抽换式设计有助于避免光学路径的构件损坏，而光学路径的构件损坏显然会影响测量数据的准确性。