基于北斗定位的智能农机作业面积计量方法

    公开(公告)号:CN118424167A

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202410882882.2

    申请日:2024-07-03

    发明人: 赵盼 曲晓 林玲龙

    IPC分类号: G01B15/00 G01S19/42 G06F17/10

    摘要: 本发明涉及一种基于北斗定位的智能农机作业面积计量方法,属于智慧农业技术领域,包括对不规则农机作业区域进行路径规划,让农机按照规划的轨迹行驶并收集北斗卫星定位系统所记录的轨迹点数据;对收集到的轨迹点数据进行预处理,根据处理后的轨迹点数据构建垄宽轨迹作业面;将农机作业区域栅格化,叠加上轨迹点形成的垄宽作业面,根据叠置结果,计算农机作业面积、重作面积和漏作面积。本发明提供的基于北斗定位的智能农机作业面积计量方法,通过采用上述的技术方案,能够提升农机计亩精度,可以获得比较精确的作业路径及作业面积,有利于降低劳动强度、提高作业质量和提升劳动效率,为今后的研究及应用提供了一定的技术指导。

    基于透射成像的检测装置和检测方法

    公开(公告)号:CN115201230B

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202210801737.8

    申请日:2022-07-07

    IPC分类号: G01N23/04 G01B15/00

    摘要: 本申请公开了一种基于透射射线的检测装置和检测方法。基于本申请,检测装置中可以设置有位姿可切换的射线屏蔽构件,其中,在该射线屏蔽构件堆叠在用于承载待检测对象的承载平面之内时,可以得到包含射线屏蔽构件对应的射线屏蔽区域的校准图像,并且,利用该射线屏蔽构件的构件物理尺寸和射线屏蔽区域的区域图像尺寸,可以将尺寸转换系数校准为与当前的选定成像倍率相适配,从而,对于在射线屏蔽构件避让在待检测对象的承载平面之外时获取的检测图像,利用校准后的尺寸转换系数对待检测对象在检测图像中的目标构造影像的构造图像尺寸进行转换,即可得到待检测对象的构造物理尺寸,从而能够基于透射成像实现对待检测对象的构造物理尺寸的测量。

    一种耐火材料抗熔渣和蒸汽侵蚀性试验方法及试验装置

    公开(公告)号:CN114459985B

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202210165560.7

    申请日:2022-02-23

    摘要: 本发明属于耐火材料技术领域,涉及一种耐火材料抗熔渣和蒸汽侵蚀性试验方法及试验装置。涉及的一种耐火材料抗熔渣和蒸汽侵蚀性试验方法是将周围填充有渣样的待检测耐火材料圆柱体试样固定在密封组件中,将密封组件一端置于炉膛加热区,另一端伸出炉墙,对耐热钢密封组件进行加热过程中形成熔渣及其蒸汽并在耐火材料试样上产生温度梯度,以评价特定温度和时间范围内熔渣及蒸汽对耐火材料的侵蚀性;所述的密封组件为由2段圆筒构成的L型拼接体,包括相互连通的垂直段和水平段,垂直段装入的耐火待测试样浸入渣液中进行熔体抗渣侵蚀,水平段装入的试样进行抗蒸汽渗入侵蚀。本发明易操作、直观,试验装置简单、安全。

    一种斜飞姿态昆虫体长参数反演算法

    公开(公告)号:CN118294915A

    公开(公告)日:2024-07-05

    申请号:CN202410389215.0

    申请日:2024-04-02

    摘要: 本发明公开了一种斜飞姿态昆虫体长参数反演算法,旨在提供一种昆虫非平飞姿态下的体长估计方法,以解决垂直监测昆虫雷达对迁飞昆虫体型反演统一采用平飞假设导致反演精度低下的问题。该方法在已知雷达测量的昆虫姿态角度的情况下,可将平飞昆虫的体长‑拐点波长拟合曲线进行补偿得到昆虫当前姿态角度下的斜飞拟合曲线;然后获取昆虫的多频点散射截面积RCS数据,并基于最小二乘思想搜索昆虫多频RCS曲线的最高峰值拐点对应的频率值f0,并计算对应的波长λ0;接下来将λ0代入经补偿得到的斜飞拟合曲线,可获得当前非平飞姿态角度下昆虫的体长估计值。

    一种基于线性调频连续波雷达的近距离两目标微动位移检测方法及系统

    公开(公告)号:CN118259274A

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202410425197.7

    申请日:2024-04-09

    发明人: 轩建平 高昂

    IPC分类号: G01S13/32 G01B15/00

    摘要: 本发明属于位移检测相关技术领域,其公开了一种基于线性调频连续波雷达的近距离两目标微动位移检测方法及系统,方法包括:采用雷达对待检测两目标进行检测获得基带信号;对每个基带信号做全相位DTFT处理,并将结果进行累加,获得幅值谱和相位谱;对第一个基带信号的幅值谱和相位谱进行相位极值点识别,获得待检测两目标的频率和相位;将待检测两目标的第一个基带信号的频率作为先验值代入后续各基带信号计算后续基带信号的实部和虚部,通过反正切解调获得后续基带信号的相位值;对相位值进行解缠绕,而后减去相位时间序列的平均值,获得两目标的微动位移。本申请解决了现有谱分析方法无法用于小于一个距离分辨率的两目标检测的技术问题。

    框架结构柱截面尺寸及配筋分布的扫描成像装置

    公开(公告)号:CN118243025A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410660752.4

    申请日:2024-05-27

    申请人: 昆明学院

    摘要: 本发明公开了框架结构柱截面尺寸及配筋分布的扫描成像装置,涉及建筑构件成像技术领域,包括结构柱环抱锁定机构、结构柱截面尺寸测量机构、竖向滑动控制机构和横向滑动控制机构、X射线扫描仪、多功能数据采集控制器和移动式计算机,结构柱环抱锁定机构、结构柱截面尺寸测量机构、竖向滑动控制机构和横向滑动控制机构、X射线扫描仪均与多功能数据采集控制器连接,多功能数据采集控制器与移动式计算机连接。该装置能够自动获取结构柱的截面尺寸信息,同时利用X射线无法穿透钢筋的性质测量扫描测量结构中钢筋的直径和钢筋之间的间隔以及混凝土保护层的厚度,并得到配筋的分布信息、自动绘制出框架结构柱的截面以及截面配筋图。

    一种GaAs基晶圆斜切角度的快速表征方法

    公开(公告)号:CN112326707B

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202011033632.X

    申请日:2020-09-27

    摘要: 本发明涉及化合物半导体外延薄膜及器件技术领域,公开了一种GaAs基晶圆斜切角度的快速表征方法,包括以下步骤:S1、对GaAs基晶圆沿自然解理面进行分割;S2、沿平行于GaAs基晶圆的衬底表面,并与自然解理面法线一侧呈45°方向,观察并测量解理边与GaAs基晶圆上下表面的夹角,记为θ1;S3、若θ1≠90°,则GaAs基晶圆的斜切角为|90°‑θ1|;S4、若θ1=90°,则沿平行于GaAs基晶圆衬底表面、与自然解理面法线另一测呈45°方向,观察并测量解理边与晶圆衬底上、下表面的夹角,记为θ2,则GaAs基晶圆的斜切角为|90°‑θ2|。本发明能够简便、准确、直观的对GaAs基晶圆斜切角度进行表征,并适用于经外延、金属、介电薄膜沉积后的完整器件晶圆。

    一种托盘检测工装、检测方法和半导体工艺设备

    公开(公告)号:CN118213296A

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202410322857.9

    申请日:2024-03-20

    摘要: 本发明公开了一种托盘检测工装、检测方法和半导体工艺设备。托盘检测工装包括:基座,固定于反应腔上,并位于托盘的上方,基座的表面包括若干标尺孔;以及其测距标尺,配合设于标尺孔中,测距标尺在所述托盘升降到第一高度时,提供第一高度对应的各初始标尺数据,用以确定托盘的起始位置,并在多次升降托盘使其重复位于第二高度时,提供各次中的第二高度所对应的各重复标尺数据,用以确定托盘在第二高度的水平度和/或升降重复性。通过本发明能够快速且准确地获得腔体内托盘的位置、水平度以及升降高度的重复性,并且打破了传统检测工装中测量范围的限制。

    一种电路板中的盲孔失效分析方法

    公开(公告)号:CN118032863B

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410444853.8

    申请日:2024-04-15

    摘要: 本发明公开了一种电路板中的盲孔失效分析方法,包括:采用阻抗响应测试技术对待分析电路板进行阻抗响应测试,确定待分析电路板中的失效网络范围;采用三维成像技术确定待分析电路板的立体图像信息,并根据立体图像信息确定待分析电路板的盲孔失效位置;采用聚焦成像技术确定盲孔失效位置的聚焦图像信息,并根据聚焦图像信息确定盲孔失效位置的微观表面结构;采用元素图像采集技术确定至少包括盲孔失效位置的元素采集图像,并根据元素采集图像对微观表面结构进行失效分析。通过上述方法,能够精准的确定并分析出盲孔失效的具体位置及原因,节省了时间成本,极大的提高了电路板中盲孔失效分析的效率和成功率,提高了可靠性测试的成功率。