Abstract:
A spectroscopic assembly (165) may include a spectrometer (110). The spectrometer may include an illumination source to generate a light to illuminate a sample. The spectrometer may include a sensor to obtain a spectroscopic measurement based on light, reflected by the sample, from the light illuminating the sample. The spectroscopic assembly may include a light pipe (120) to transfer the light reflected from the sample. The light pipe may include a first opening (146) to receive the spectrometer. The light pipe may include a second opening (148) to receive the sample, such that the sample is enclosed by the light pipe and a base surface when the sample is received at the second opening. The light pipe may be associated with aligning the illumination source and the sensor with the sample.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Terahertz(THz)-Spektrometer, das einen einfachen und kompakten Aufbau aufweist und mit kostengünstigen Standardkomponenten realisierbar ist. Es ist mit einem verschiebbaren Strahlumlenker ausgestattet, der es gestattet, die Längen von THz-Emitterpfad und THz-Detektorpfad gleichzeitig zu ändern.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Aufnahme eines Hyperspektralbildes eines Untersuchungsgebietes mit - einer Lichtquelle (3) zur Bestrahlung des Untersuchungsgebietes, - einem Eingangsobjektiv (2) zur Erzeugung eines Bildes des Untersuchungsgebietes in einer Bildebene, - einem Spektrometer (11), das eine in der Bildebene angeordnete schlitzförmige Blende (7) zur Selektion eines schlitzförmigen Bereichs des Bildes, ein dispersive Element (9), das so aufgebaut und angeordnet ist, dass die dispersive Auffächerung des durch die Blende hindurch tretenden Lichts in einer von der Längsrichtung der Blende verschiedenen Richtung erfolgt, und einen Kamerasensor (10) zur Aufnahme des Beugungsbildes aufweist, und - einer Datenverarbeitungseinrichtung zur Aufnahme der Kamerasensorsignale als eine Vielzahl von Spektren mit jeweils zugeordneter Ortskoordinate x entlang der Längsrichtung X der Blende, - wobei die Vorrichtung dazu eingerichtet ist, in einer von der Längsrichtung X verschiedenen zweiten Richtung Y aufeinanderfolgende schlitzförmige Bereiche des Bildes des Untersuchungsgebietes mit zugeordneter Ortskoordinate y aufzunehmem, - dadurch gekennzeichnet, dass das Spektrometer (11) in der zweiten Richtung Y verfahrbar relativ zum Eingangsobjektiv (2) gelagert ist, eine Antriebseinrichtung zum gesteuerten Verfahren und Einstellen der Position des Spektrometers (11) in der zweiten Richtung Y vorhanden ist und dass die Datenverarbeitungseinrichtung dazu eingerichtet ist, das Spektrometer (11) schrittweise zu verfahren, um so sukzessive aufeinanderfolgende schlitzförmige Bereiche mit Spektren mit zugeordneten Ortskoordinaten x, y aufzunehmen und zu dem Hyperspektralbild zusammenzusetzen.
Abstract:
A system and method of high-speed microscopy using a two-photon microscope with spectral resolution. The microscope is operable to provide two- to five-dimensional fluorescence images of samples, including two or three spatial dimensions, a spectral dimension (for fluorescence emission), and a temporal dimension (on a scale of less than approximately one second). Two-dimensional (spatial) images with a complete wavelength spectrum are generated from a single scan of a sample. The microscope may include one of a multi-beam point scanning microscope, a single beam line scanning microscope, and a multi-beam line scanning microscope. The line scans may be formed using one or more of curved mirrors and lenses. The multiple beams may be formed using one of a grating, an array of lenses, and a beam splitter.
Abstract:
An apparatus and source arrangement for filtering an electromagnetic radiation can be provided which may include at least one spectral separating arrangement (200) configured to physically separate one or more components (320, 340) of the electromagnetic radiation based on a frequency of the electromagnetic radiation. The apparatus and source arrangement may also have at least one continuously rotating optical arrangement, e.g., a spinning reflector disk scanner (500), which is configured to receive at least one signal that is associated with the one or more components (320, 340). Further, the apparatus and source arrangement can include at least one beam selecting arrangement configured to receive the signal. Rotating disk (500) may comprise reflecting patterns (520) to generate a wavelength scan depending on the rotation frequency of the disk (500).
Abstract:
An and source arrangement for filtering an electromagnetic radiation can be provided which may include at least one spectral separating arrangement (200) configured to physically separate one or more components (320, 340) of the electromagnetic radiation based on a frequency of the electromagnetic radiation. The apparatus and source arrangement may also have at least one continuously rotating optical arrangement, e.g., a spinning reflector disk scanner (500), which is configure to receive at least one signal that is associated with the one or more components (320, 340). Further, the apparatus and source arrangement can include at least one beam selecting configured to receive the signal. Rotating disk (500) may comprise reflecting patterns (520) to generate a wavelength scan depending on the rotation frequency of the disk (500).
Abstract:
An and source arrangement for filtering an electromagnetic radiation can be provided which may include at least one spectral separating arrangement (200) configured to physically separate one or more components (320, 340) of the electromagnetic radiation based on a frequency of the electromagnetic radiation. The apparatus and source arrangement may also have at least one continuously rotating optical arrangement, e.g., a spinning reflector disk scanner (500), which is configure to receive at least one signal that is associated with the one or more components (320, 340). Further, the apparatus and source arrangement can include at least one beam selecting configured to receive the signal. Rotating disk (500) may comprise reflecting patterns (520) to generate a wavelength scan depending on the rotation frequency of the disk (500).