LICHTBLATTMIKROSKOP SOWIE VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINES LICHTBLATTMIKROSKOPS

    公开(公告)号:EP3244249A2

    公开(公告)日:2017-11-15

    申请号:EP17161551.1

    申请日:2017-03-17

    摘要: Die Erfindung betrifft ein Mikroskop (1) umfassend ein zur Erzeugung eines Lichtblatts (6) ausgebildetes Beleuchtungsobjektiv (2) mit einer ersten optischen Achse (A1) und ein zur Detektion von aus der Probenebene (4) kommenden Lichts ausgebildetes Detektionsobjektiv (3) mit einer zweiten optischen Achse (A2). Das Beleuchtungsobjektiv (2) und das Detektionsobjektiv (3) sind derart zueinander und zur Probenebene (4) ausgerichtet, dass sich die erste optische Achse (A1) und die zweite optische Achse (A2) in der Probenebene (4) schneiden und miteinander einen im Wesentlichen rechten Winkel einschließen. Die optischen Achsen (A1, A2) schließen mit einer orthogonal zur Probenebene (4) gerichteten Bezugsachse (B) jeweils einen von Null verschiedenen Winkel ein. Ferner ist eine zur Weitfeld-Beleuchtung der Probenebene (4) ausgebildete Übersichtsbeleuchtungsvorrichtung aufweisend eine Beleuchtungsoptik (9) mit einer dritten optischen Achse (A3) vorhanden. Kennzeichnend ist, dass das Detektionsobjektiv (3) zur Detektion sowohl von Licht des Lichtblatts (6) als auch von Licht der Beleuchtungsoptik (9) vorgesehen und ausgebildet ist.
    Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zum Betreiben eines Lichtblattmikroskops.

    VERFAHREN ZUR LICHTBLATTMIKROSKOPISCHEN UNTERSUCHUNG EINER PROBE

    公开(公告)号:EP3234679A1

    公开(公告)日:2017-10-25

    申请号:EP15795201.1

    申请日:2015-11-18

    摘要: The invention relates to a method for examining a specimen (1) by means of light sheet microscopy, wherein a plurality of illumination wavelengths is selected, of which examination light for the specimen (1) is composed. For a center wavelength, the modulation depth of a phase-selective element is set at π. A specified phase distribution is applied to the phase-selective element, and a specified aperture structure is applied to an aperture (24) in the aperture plane, which specified aperture structure makes it possible to compose the illumination light of a plurality of illumination wavelengths and thus to illuminate the specimen (1) by means of a light sheet composed of a plurality of colors. For this purpose, a preferred wavelength is selected and, for a light sheet of specified form, the electric field of said light sheet is determined in the focal plane of the illumination objective (10) by means of light of the preferred wavelength. The phase distribution to be specified is calculated therefrom. The phase-selective element is illuminated by means of illumination light and the illumination light is structured by the phase-selective element. The structured illumination light is imaged into an aperture plane and the zeroth orders of the multi-colored, structured light are removed, such that a structured light sheet is formed in a focal plane of an illumination objective (10) arranged downstream, said light sheet having a light sheet plane that lies perpendicular to the focal plane of the illumination objective (10). The specimen (1) is illuminated by means of the structured light sheet in the light sheet plane and light emitted by the specimen is detected in a detection direction that includes an angle with the light sheet plane, which angle is different from zero.

    摘要翻译: 本发明涉及一种借助光片显微镜检查样本(1)的方法,其中选择多个照射波长,其中组成了样本(1)的检查光。 对于中心波长,相位选择元件的调制深度设为π。 对相位选择元件施加指定的相位分布,并且将特定的孔径结构施加到孔径平面中的孔径(24),该孔径结构使得可以组成多个照明波长的照明光,并且 从而借助于由多种颜色组成的光片照亮样本(1)。 为此目的,选择优选的波长,并且对于特定形式的光片,借助于优选波长的光在照明物镜(10)的焦平面中确定所述光片的电场。 由此计算要指定的相位分布。 相位选择元件通过照明光照亮,并且照明光由相位选择元件构成。 结构化照明光被成像到孔平面中,并且去除多色结构光的零阶,使得结构化光片形成在布置在下游的照明物镜(10)的焦平面中,所述光片 具有垂直于照明物镜(10)的焦平面的光片平面。 借助于光片平面中的结构化光片来照射样本(1),并且在包括与光片平面成角度的检测方向上检测样本发出的光,该角度不同于零。

    LICHTBLATTMIKROSKOP SOWIE VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINES LICHTBLATTMIKROSKOPS
    7.
    发明公开
    LICHTBLATTMIKROSKOP SOWIE VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINES LICHTBLATTMIKROSKOPS 审中-公开
    光片显微镜及其操作光学显微镜的方法

    公开(公告)号:EP3244249A3

    公开(公告)日:2018-01-17

    申请号:EP17161551.1

    申请日:2017-03-17

    摘要: Die Erfindung betrifft ein Mikroskop (1) umfassend ein zur Erzeugung eines Lichtblatts (6) ausgebildetes Beleuchtungsobjektiv (2) mit einer ersten optischen Achse (A1) und ein zur Detektion von aus der Probenebene (4) kommenden Lichts ausgebildetes Detektionsobjektiv (3) mit einer zweiten optischen Achse (A2). Das Beleuchtungsobjektiv (2) und das Detektionsobjektiv (3) sind derart zueinander und zur Probenebene (4) ausgerichtet, dass sich die erste optische Achse (A1) und die zweite optische Achse (A2) in der Probenebene (4) schneiden und miteinander einen im Wesentlichen rechten Winkel einschließen. Die optischen Achsen (A1, A2) schließen mit einer orthogonal zur Probenebene (4) gerichteten Bezugsachse (B) jeweils einen von Null verschiedenen Winkel ein. Ferner ist eine zur Weitfeld-Beleuchtung der Probenebene (4) ausgebildete Übersichtsbeleuchtungsvorrichtung aufweisend eine Beleuchtungsoptik (9) mit einer dritten optischen Achse (A3) vorhanden. Kennzeichnend ist, dass das Detektionsobjektiv (3) zur Detektion sowohl von Licht des Lichtblatts (6) als auch von Licht der Beleuchtungsoptik (9) vorgesehen und ausgebildet ist.
    Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zum Betreiben eines Lichtblattmikroskops.

    摘要翻译: 本发明涉及包括被设计为产生具有第一光轴(A1)的光片(6)的照明物镜(2)和被设计用于检测来自样品平面(4)的光的检测物镜(3)的显微镜(1) 第二光轴(A2)。 照明透镜(2)和检测目标(3)的相对对齐以彼此和样品平面(4)相交的第一光轴(A1)和在样品平面中的第二光学轴线(A2)(4)和另一个在 基本上包含直角。 光轴(A1,A2)各自包括与垂直于样本平面(4)定向的参考轴(B)的非零角度。 此外,存在设计用于样本平面(4)的宽视野照明的概观照明装置,其包括具有第三光轴(A3)的照明光学单元(9)。 检测物镜(3)的特征在于提供并设计成检测光片(6)的光和照明光学系统(9)的光。 本发明还涉及一种用于操作光学显微镜的方法。

    VORRICHTUNG ZUR ABBILDUNG EINER PROBE
    8.
    发明公开
    VORRICHTUNG ZUR ABBILDUNG EINER PROBE 审中-公开
    VORRICHTUNG ZUR ABBILDUNG EINER探头

    公开(公告)号:EP3198323A1

    公开(公告)日:2017-08-02

    申请号:EP15756911.2

    申请日:2015-08-31

    IPC分类号: G02B21/00 G02B21/08 G02B21/36

    摘要: The invention relates to a device and to a method for imaging a sample (2) arranged in an object plane (1). Such a device comprises an optical transmission system (3), which images a region of the sample (2) from the object plane (1) into an intermediate image plane (4). The object plane (1) and the intermediate image plane (4) together with an optical axis (5) of the transmission system (3) enclose an angle different from 90°. The optical transmission system (3) is constructed of a plurality of lenses. The device additionally comprises an optical imaging system (6), which has a lens, the optical axis (7) of which is perpendicular to the intermediate image plane (4) and which is focused at the intermediate image plane (4) such that the object plane (1) can be imaged onto a detector (8) without distortion. Finally, the device also comprises an illuminating apparatus (10) for illuminating the sample (2) by means of a light sheet (11), wherein the light sheet (11) lies substantially in the object plane (1) and defines an illumination direction, and wherein the normal of the object plane (1) defines a detection direction. In the case of such a device, the object plane (1) encloses an angle together with the optical axis (5) of the transmission system (3), the magnitude of which angle is less than the opening angle of an object-side detection aperture cone (12) of the transmission system (3), and the object plane (1) lies at least partially within the object-side detection aperture cone (12). In addition, the intermediate image plane (4) encloses an angle together with the optical axis (5) of the transmission system (3), the magnitude of which angle is less than the opening angle of an intermediate-image-side detection aperture cone (13) of the transmission system (3), and the intermediate image plane (4) lies at least partially within the intermediate-image-side detection aperture cone (13).

    摘要翻译: 本发明涉及一种用于对布置在物体平面(1)中的样本(2)进行成像的装置和方法。 这种装置包括光学传输系统(3),其将样本(2)的从物平面(1)的区域成像到中间图像平面(4)中。 物平面(1)和中间像平面(4)与传输系统(3)的光轴(5)一起包围不同于90°的角度。 光传输系统(3)由多个透镜构成。 该装置还包括具有透镜的光学成像系统(6),其光轴(7)垂直于中间像平面(4)并且在中间像平面(4)处聚焦,使得 物体平面(1)可以不失真地成像到检测器(8)上。 最后,该装置还包括用于通过光片(11)照射样品(2)的照明装置(10),其中光片(11)基本上位于物面(1)中并且限定照明方向 并且其中物面(1)的法线定义检测方向。 在这种装置的情况下,物面(1)与传输系统(3)的光轴(5)一起包围一个角度,该角度的大小小于物体侧检测的张角 传输系统(3)的孔径锥体(12),并且物面(1)至少部分地位于物体侧检测孔锥体(12)内。 此外,中间像平面(4)与传输系统(3)的光轴(5)一起包围一个角度,该角度的幅度小于中像侧检测孔径锥体 (13),并且所述中间像平面(4)至少部分地位于所述中间像侧检测孔锥体(13)内。

    VERFAHREN ZUR VORBEREITUNG UND DURCHFÜHRUNG DER AUFNAHME VON BILDSTAPELN EINER PROBE AUS VERSCHIEDENEN ORIENTIERUNGSWINKELN
    10.
    发明公开
    VERFAHREN ZUR VORBEREITUNG UND DURCHFÜHRUNG DER AUFNAHME VON BILDSTAPELN EINER PROBE AUS VERSCHIEDENEN ORIENTIERUNGSWINKELN 审中-公开
    方法从不同的定向角的制备与实施的样品的图像栈的记录学报

    公开(公告)号:EP2870500A1

    公开(公告)日:2015-05-13

    申请号:EP13731322.7

    申请日:2013-06-24

    IPC分类号: G02B21/36

    CPC分类号: G02B21/367

    摘要: The invention relates to a method for preparing for and carrying out the microscopic recording of image stacks of a sample (2) from various orientation angles, wherein the sample (2) is retained in a sample retainer (3) and the sample retainer (3) defines a sample coordinate system. The sample retainer (3) itself can be translated and rotated in a space spanned by a detection coordinate system. In a first embodiment, for at least two different orientation angles (α, α 2), a projection image is recorded in the detection coordinate system and a first sample volume (V) and a second sample volume (V 2) are determined in the sample coordinate system. Then the intersection volume of said two sample volumes is determined in the sample coordinate system. The parameters necessary for image stack recording are determined in the sample coordinate system for all other orientation angles on the basis of the intersection volume. Alternatively to determining an intersection volume, a sample volume (V P) can also be defined by determining start and end parameters for image stack recording for an orientation angle. The sample (2) is then positioned in the detection coordinate system accordingly and the image stack recording is carried out. A conversion between the sample coordinate system and the detection coordinate system is carried out by means of corresponding transformation matrices.