VERFAHREN, MINFLUX-MIKROSKOP UND COMPUTERPROGRAMM FÜR DIE LOKALISIERUNG ODER FÜR DAS VERFOLGEN VON EMITTERN

    公开(公告)号:EP4435490A1

    公开(公告)日:2024-09-25

    申请号:EP23163585.5

    申请日:2023-03-22

    IPC分类号: G02B21/00 G01N21/64

    摘要: Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein MINFLUX-Mikroskop (1) für die Lokalisierung oder für das Verfolgen eines Emitters (E), wobei die Probe (2) in einem Nahbereich (22) des Emitters (E) durch einen Beleuchtungslichtstrahl (B) mit einer Intensitätsverteilung von Beleuchtungslicht beleuchtet wird, die ein zentrales Minimum aufweist, wobei die Intensitätsverteilung in einem Messzyklus mittels eines Strahlscanners (6) mit mindestens einer optischen Komponente (61,62,63,64) an Abtastpositionen (21) verlagert wird, und wobei zu den Abtastpositionen (21) Emissionen des Emitters (E) erfasst und den Abtastpositionen (21) zugeordnet werden, wobei der Strahlscanner (6) mit Ansteuersignalen gesteuert wird, die Ansteuersignale und/oder Sollbewegungen der mindestens einen optischen Komponente (61,62,63,64) als Funktion der Zeit jeweils durch eine Sinusfunktion oder durch eine gewichtete Summe von Sinusfunktionen mit endlich vielen Summanden beschrieben werden können.

    LICHTBLATTMIKROSKOP SOWIE VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINES LICHTBLATTMIKROSKOPS

    公开(公告)号:EP3244249A2

    公开(公告)日:2017-11-15

    申请号:EP17161551.1

    申请日:2017-03-17

    摘要: Die Erfindung betrifft ein Mikroskop (1) umfassend ein zur Erzeugung eines Lichtblatts (6) ausgebildetes Beleuchtungsobjektiv (2) mit einer ersten optischen Achse (A1) und ein zur Detektion von aus der Probenebene (4) kommenden Lichts ausgebildetes Detektionsobjektiv (3) mit einer zweiten optischen Achse (A2). Das Beleuchtungsobjektiv (2) und das Detektionsobjektiv (3) sind derart zueinander und zur Probenebene (4) ausgerichtet, dass sich die erste optische Achse (A1) und die zweite optische Achse (A2) in der Probenebene (4) schneiden und miteinander einen im Wesentlichen rechten Winkel einschließen. Die optischen Achsen (A1, A2) schließen mit einer orthogonal zur Probenebene (4) gerichteten Bezugsachse (B) jeweils einen von Null verschiedenen Winkel ein. Ferner ist eine zur Weitfeld-Beleuchtung der Probenebene (4) ausgebildete Übersichtsbeleuchtungsvorrichtung aufweisend eine Beleuchtungsoptik (9) mit einer dritten optischen Achse (A3) vorhanden. Kennzeichnend ist, dass das Detektionsobjektiv (3) zur Detektion sowohl von Licht des Lichtblatts (6) als auch von Licht der Beleuchtungsoptik (9) vorgesehen und ausgebildet ist.
    Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zum Betreiben eines Lichtblattmikroskops.

    LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS
    5.
    发明公开
    LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS 审中-公开
    激光细,MIKROSKOPVORRICHTUNG

    公开(公告)号:EP3086156A1

    公开(公告)日:2016-10-26

    申请号:EP16165808.3

    申请日:2016-04-18

    IPC分类号: G02B21/00

    摘要: A laser scanning microscope apparatus includes an irradiation unit (1) including an objective lens (13), a photodetector unit (3), an XY-scanning unit (12), and a Z-scanning unit (1, 2, 41). The irradiation unit (1) focuses a laser beam with the objective lens (13) to a specimen (6). The photodetector unit (3) detects light (L) generated from a position (S) irradiated with the laser beam. The XY-scanning unit (12) scans the laser beam in an X-direction perpendicular to an optical axis of the objective lens (13) and in a Y-direction perpendicular to the optical axis and the X-direction. The Z-scanning unit (1, 2, 41) scans the laser beam in a Z-direction parallel to the optical axis. When acquiring XY-two-dimensional image data by detecting the light (L) while scanning the irradiated position (S) in the X-direction and the Y-direction, the apparatus detects the light (L) while scanning the irradiated position (A) also in the Z-direction.

    摘要翻译: 激光扫描显微镜装置包括具有物镜(13),光电检测器单元(3),XY扫描单元(12)和Z扫描单元(1,2,3,4)的照射单元(1)。 照射单元(1)将具有物镜(13)的激光束聚焦到样本(6)。 光检测器单元(3)检测从用激光束照射的位置(S)产生的光(L)。 XY扫描单元(12)沿垂直于物镜(13)的光轴的X方向和垂直于光轴和X方向的Y方向扫描激光束。 Z扫描单元(1,2,41)沿与光轴平行的Z方向扫描激光束。 当在X方向和Y方向扫描照射位置(S)时检测光(L)来获取XY-二维图像数据时,该装置在扫描照射位置(A )也在Z方向。

    Imaging method, and system, for obtaining an super-resolution image of an object
    6.
    发明公开
    Imaging method, and system, for obtaining an super-resolution image of an object 审中-公开
    Bildgebungsverfahren und System zum Erhalt eineshochauflösendenBildes eines Objekts

    公开(公告)号:EP3037861A1

    公开(公告)日:2016-06-29

    申请号:EP14307179.3

    申请日:2014-12-23

    IPC分类号: G02B21/00 G02B21/36

    摘要: Method for obtaining an super-resolution image (22) of an object (5), based upon an optical microscope (21) including a support plate (6) for bearing the object, an illumination source (1) for focusing an illumination beam (14) onto a target region of the support plate, a digital camera (9) including a matrix of sensors, comprising :
    - capturing, by the digital camera, a first image of the target region;
    - extracting, from the first image, a first block of pixel values provided by a sub-matrix (B 0 ) of the matrix of sensors;
    - displacing, by a sub-diffraction limited distance, the support plate by the displacement block along a displacement axis;
    - capturing, by the digital camera, a second image of the target region;
    - extracting, from the second image, a second block of pixel values provided by the sub-matrix (B 0 ) of the matrix of sensors;
    - storing said first and second blocks of pixel values as a first and second blocks of pixel values to be placed right next each other in the super-resolution image along the image axis (X, Y) corresponding to the displacement axis.

    摘要翻译: 基于包括用于承载物体的支撑板(6)的光学显微镜(21)获得物体(5)的超分辨率图像(22)的方法,用于聚焦照明光束的照明源(1) 14)到支撑板的目标区域,包括传感器矩阵的数字照相机(9),包括: - 由数字照相机捕获目标区域的第一图像; - 从所述第一图像提取由所述传感器矩阵的子矩阵(B 0)提供的第一像素值块; 通过位移块沿位移轴移动辅助衍射限制距离支撑板; - 通过所述数字照相机捕获所述目标区域的第二图像; - 从所述第二图像提取由所述传感器矩阵的所述子矩阵(B 0)提供的第二像素值块; - 将所述第一和第二像素块存储为沿着与所述位移轴对应的图像轴(X,Y)在所述超分辨率图像中彼此相对放置的第一和第二像素块。

    DEVICE AND METHOD FOR SLIDE CACHING
    8.
    发明公开
    DEVICE AND METHOD FOR SLIDE CACHING 审中-公开
    VORRICHTUNG VERFAHREN ZUR SLIDE-CACHESPEICHERUNG

    公开(公告)号:EP2993478A2

    公开(公告)日:2016-03-09

    申请号:EP15186102.8

    申请日:2010-10-18

    IPC分类号: G01N35/10

    摘要: The application refers to a device for slide caching, comprising: a rack; a buffer; a slide handler that moves a first slide between the rack and the buffer; and an XY stage that moves a second slide in connection with a scan of the second slide, wherein at least one function of the slide handler corresponding to the first slide is performed in parallel with at least one function of the XY stage corresponding to the second slide. Furthermore, a method for slide caching is provided, the method comprising: providing a rack and a buffer; moving a first slide between the rack and the buffer; and moving a second slide into or out of the buffer in connection with a scan of the second slide, wherein moving the first slide between the rack and the buffer is performed in parallel with the scan of the second slide.

    摘要翻译: 该应用是指用于滑动缓存的设备,包括:机架; 一个缓冲区 滑架处理器,用于在机架和缓冲器之间移动第一滑块; 以及XY平台,其与第二滑块的扫描相关联地移动第二滑块,其中与第一滑块相对应的滑动处理器的至少一个功能与对应于第二滑块的XY平台的至少一个功能并行执行 滑动。 此外,提供了一种用于滑动缓存的方法,所述方法包括:提供机架和缓冲器; 在机架和缓冲器之间移动第一个滑块; 并且与所述第二幻灯片的扫描相关联地将第二幻灯片移入或移出所述缓冲器,其中在所述第二幻灯片的扫描中并行地执行在所述齿条与所述缓冲器之间移动所述第一滑块。

    OPTICAL MICROSCOPY PROBE FOR SCANNING MICROSCOPY OF AN ASSOCIATED OBJECT
    9.
    发明公开
    OPTICAL MICROSCOPY PROBE FOR SCANNING MICROSCOPY OF AN ASSOCIATED OBJECT 审中-公开
    光学显微镜探针到合适的扫描显微镜点

    公开(公告)号:EP2753967A1

    公开(公告)日:2014-07-16

    申请号:EP12795861.9

    申请日:2012-10-31

    IPC分类号: G02B21/00 A61B1/00

    摘要: The present invention discloses an optical microscopy probe (10) for scanning microscopy imaging of object (O). The probe has an optical window (22), and an optical guide (2) having an objective lens (6) rigidly coupled to an end portion of the optical guide. The optical guide is displaceably mounted in a transverse direction of the housing (21) so as to enable optical scanning in a region of interest (ROI). A relay lens unit (25) is rigidly mounted at the distal end (23) of the probe and it has a first lens (25a), a second lens (25b) and a mirror (25c), the relay lens unit being optically arranged relative to the objective lens for allowing scanning microscopy through the optical window of the housing. The invention is advantageous for obtaining an improvement in the available field of view of the probe because the cooperation between the displaceable objective lens and the relay lens unit may compensate for the relative limited free working distance of the objective lens.

    Operationsmikroskop mit OCT-System
    10.
    发明公开
    Operationsmikroskop mit OCT-System 有权
    操作系统

    公开(公告)号:EP2482113A1

    公开(公告)日:2012-08-01

    申请号:EP12165225.9

    申请日:2007-10-10

    摘要: Die Erfindung betrifft ein Ophthalmo-Operationsmikroskop mit einem Mikroskop-Hauptobjektiv 101, einem Beobachtungsstrahlengang 105, 205, der zur Visualisierung eines Objektbereichs 108 das Mikroskop-Hauptobjektiv 101 durchsetzt und mit einem OCT-System 140, 150, 700, 800 zur Aufnahme von Bildern des Objektbereichs 108. Das OCT-System 140, 150, 700, 800 umfasst einen OCT-Abtaststrahlengang 142, 152, 702, 802, der über eine Scanspiegelanordnung 146, 156, 705, 706, 805 zum Objektbereich 108 geführt ist.
    Erfindungsgemäß ist eine Ophthalmoskopierlupe 132 vorgesehen, die in den Beobachtungsstrahlengang und den OCT-Abtaststrahlengang ein- und ausgeschwenkt werden kann

    摘要翻译: 显微镜(100)具有被推入监视光路(106)的主透镜(101)和用于验证物体区域(108)的光学相干断层摄影(OCT)系统(120),其中OCT系统 具有通过主透镜引导的OCT扫描光路(123)。 耦合单元设置在监视光路中,用于将扫描光路耦合到监视光路中,并且用于将主透镜引导到对象区域。 耦合单元被设计成分束器(150),例如平面镜或分立立方体。