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公开(公告)号：EP1279069A2
公开(公告)日：2003-01-29
申请号：EP01933046.3
申请日：2001-05-04
CPC分类号： G03F7/039 , G03F7/0045 , G03F7/0046 , G03F7/038
摘要： Nitrile/vinyl ether-containing polymers for photoresist compositions and microlithography methods employing the photoresist compositions are described. These photoresist compositions comprise 1) at least one ethylenically unsaturated compound comprised of a vinyl ether and 2) a nitrile-containing compound, e.g., acrylonitrile, which together impart high ultraviolet (UV) transparency and developability in basic media. In some embodiments, these photoresist compositions further comprise a fluoroalcohol group. The photoresist compositions of this invention have high UV transparency, particularly at short wavelengths, e.g., 157 nm and 193 nm, which property makes them useful for lithography at these short wavelengths.
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公开(公告)号：EP1141777A2
公开(公告)日：2001-10-10
申请号：EP99971104.7
申请日：1999-10-26
CPC分类号： G03F7/039 , G03F7/0045 , G03F7/0046
摘要： Positive photoresists and associated processes for microlithography in the ultraviolet (UV) and violet are disclosed. The photoresists comprise (a) a branched polymer containing protected acid groups and (b) at least one photoacid generator. The photoresists have high transparency throughout the UV, good development properties, high plasma etch resistance and other desirable properties, and are useful for microlithography in the near, far, and extreme UV, particularly at wavelengths less than or equal to 365 nm.
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公开(公告)号：EP1141777B1
公开(公告)日：2009-01-07
申请号：EP99971104.7
申请日：1999-10-26
CPC分类号： G03F7/039 , G03F7/0045 , G03F7/0046
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4.发明公开NITRILE/FLUOROALCOHOL POLYMER-CONTAINING PHOTORESISTS AND ASSOCIATED PROCESSES FOR MICROLITHOGRAPHY 审中-公开腈/氟醇聚合物包含微光刻光刻胶和相关方法
公开(公告)号：EP1240554A2
公开(公告)日：2002-09-18
申请号：EP00978579.1
申请日：2000-11-14
IPC分类号： G03F7/039 , G03F7/038 , C08F216/02 , C08F216/04 , C08F220/42 , C08F220/44
CPC分类号： G03F7/0046 , C08F216/02 , C08F220/44 , G03F7/0045 , G03F7/038 , G03F7/039 , G03F7/0392 , G03F7/0395 , Y10S430/106 , Y10S430/108
摘要： Nitrile/fluoroalcohol-containing photoresists and associated processes for microlithography are described. These photoresists are comprised of a fluoroalcohol functional group and a nitrile-containing compound which together simultaneously impart high ultraviolet (UV) transparency and developability in basic media to these materials. The materials of this invention have high UV transparency, particularly at short wavelengths, e.g., 157 nm, which makes them highly useful for lithography at these short wavelengths.
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公开(公告)号：EP1888516B1
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：EP06784653.5
申请日：2006-06-07
发明人： JUNK, Christopher, P. , HARMER, Mark, Andrew , FEIRING, Andrew, Edward , SCHADT, Frank, Leonard, III , SCHNEPP, Zoe
IPC分类号： C07C309/10 , C07C303/32 , C07C381/12 , G03F7/004
CPC分类号： G03F7/0045 , C07C303/32 , C07C309/10 , C07C381/12 , G03F7/0046 , G03F7/0392 , G03F7/0397
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公开(公告)号：EP0573609A1
公开(公告)日：1993-12-15
申请号：EP92908676.0
申请日：1992-02-28
CPC分类号： G03F7/033 , C08F290/04
摘要： Nouvelle classe de compositions polymères à structure en peigne particulièrement utiles comme compositions photosensibles tels que les masques à souder photorésistants et matières analogues. Ces compositions comprennent un produit polymère ramifié contenant des groupes hydrophiles, c'est-à-dire un polymère à structure en peigne comprenant un ou plusieurs segment(s) polymères de ramification reliés à un segment squelette polymère linéaire. Le segment de squelette polymère linéaire a une masse moléculaire moyenne (Mw) se situant entre 10 000 et environ 500 000 et les segments polymères ramifiés ont une masse moléculaire moyenne (Mw) d'environ 40 000 ou moins, de telle sorte que le rapport massique du segment squelette aux segments ramifiés se situe entre 200/1 et 1/4, et de telle sorte que les segments ramifiés comportent 30 à 100 % de groupes hydrophiles. Les polymères à structure en peigne de cette invention sont particulièrement utiles en tant que liants dans des compositions photosensibles renfermant des monomères réticulés tels que des masques de soudure. Sous l'effet d'une exposition à une radiation actinique, les revêtements de masque de soudure élaborés à partir de telles compositions photosensibles forment des masques protecteurs permanents présentant une dureté et une flexibilité supérieures.
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