公开(公告)号：EP3385800A1

公开(公告)日：2018-10-10

申请号：EP16870411.2

申请日：2016-11-10

申请人： Omron Corporation

发明人： OKA, Minoru

IPC分类号： G05B19/418 ,  G05B23/02 ,  H05K13/00

CPC分类号： G05B19/41875 ,  G05B19/418 ,  G05B23/02 ,  G05B2219/32187 ,  G05B2219/32194 ,  G05B2219/32221 ,  H05K13/083 ,  Y02P90/18 ,  Y02P90/22 ,  Y02P90/28

摘要： Provided is a management system for performing quality management on production equipment. A management system that includes: an acquisition means that acquires status information for production equipment that is subject to management; a detection means that, on the basis of the acquired status information, detects the occurrence of some event; and a display means that displays, separated according to inclusion in the four perspectives Machine, Man, Material, and Method, a plurality of factors that could be presumed to have caused the detected event in a manner in which the details thereof and a probability of having caused the event can be compared.

公开(公告)号：EP3070547A3

公开(公告)日：2016-10-05

申请号：EP16160602.5

申请日：2016-03-16

申请人： Rockwell Automation Technologies, Inc.

发明人： STROHMENGER, John ,  KORPELA, Jessica L. ,  FORDENWALT, Matthew W. ,  PINGEL, Jan ,  HICKOX, Stephen L. ,  WEBER, Douglas B.

IPC分类号： G05B15/02 ,  G05B23/02 ,  G06Q10/06

CPC分类号： G05B19/0428 ,  G05B15/02 ,  G05B23/0237 ,  G05B2219/23026 ,  G05B2219/23068 ,  G05B2219/24015 ,  G05B2219/32187 ,  G06Q10/06 ,  Y02P90/22 ,  Y02P90/86

摘要： A cloud-based analytics engine that analyzes data relating to an industrial automation system(s) to facilitate enhancing operation of the industrial automation system(s) is presented. The analytics engine can interface with the industrial automation system(s) via a cloud gateway(s) and can analyze industrial-related data obtained from the industrial automation system(s). The analytics engine can determine correlations between respective portions or aspects of the system(s), between a portion(s) or aspect(s) of the system(s) and extrinsic events or conditions, or between an employee(s) and the system(s). The analytics engine can determine and provide recommendations or instructions in connection with the industrial automation system(s) to enhance system performance based on the determined correlations. The analytics engine also can determine when there is a deviation or potential of deviation from desired system performance by an industrial asset or employee, and provide a notification, a recommendation, or an instruction to rectify or avoid the deviation.

公开(公告)号：EP2286447A2

公开(公告)日：2011-02-23

申请号：EP09751428.5

申请日：2009-05-20

申请人： KLA-Tencor Corporation

发明人： IZIKSON, Pavel ,  ADEL, Michael, E. ,  KANDEL, Daniel

IPC分类号： H01L21/66

CPC分类号： G03F7/70641 ,  G05B19/41845 ,  G05B2219/32187 ,  G05B2219/36307 ,  H01L22/20 ,  Y02P90/16 ,  Y02P90/22

摘要： A method of characterizing a process by selecting the process to characterize, selecting a parameter of the process to characterize, determining values of the parameter to use in a test matrix, specifying an eccentricity for the test matrix, selecting test structures to be created in cells on a substrate, processing the substrate through the process using in each cell the value of the parameter as determined by the eccentric test matrix, measuring a property of the test structures in the cells, and developing a correlation between the parameter and the property.

公开(公告)号：EP2260358A1

公开(公告)日：2010-12-15

申请号：EP09718781.9

申请日：2009-02-20

申请人： MKS Instruments, Inc.

发明人： HENDLER, Lawrence ,  LIN, Kuo-chin ,  WOLD, Svante, Bjarne

IPC分类号： G05B23/02

CPC分类号： G05B23/0254 ,  G05B17/02 ,  G05B2219/11 ,  G05B2219/1112 ,  G05B2219/32187 ,  G05B2219/32201 ,  G05B2219/45031 ,  Y02P90/22 ,  Y02P90/86

摘要： A method for monitoring a manufacturing process features acquiring metrology data for semiconductor wafers at the conclusion of a final process step for the manufacturing process ('Step a'). Data is acquired for a plurality of process variables for a first process step for manufacturing semiconductor wafers ('Step b'). A first mathematical model of the first process step is created based on the metrology data and the acquired data for the plurality of process variables for the first process step ('Step c'). Steps b and c are repeated for at least a second process step for manufacturing the semiconductor wafers ('Step d'). An nth mathematical model is created based on the metrology data and the data for the plurality of process variables for each of the n process steps ('Step e'). A top level mathematical model is created based on the metrology data and the models created by steps c, d and e ('Step f ')• The top level mathematical model of Step f is based on those process variables that have a substantial effect on the metrology data.

公开(公告)号：EP1260892A2

公开(公告)日：2002-11-27

申请号：EP02011299.1

申请日：2002-05-22

申请人： G.D SOCIETA' PER AZIONI

发明人： Valentini, Antonio ,  Draghetti, Fiorenzo

IPC分类号： G05B19/418

CPC分类号： G05B19/41875 ,  G05B2219/32187 ,  G05B2219/32191 ,  G05B2219/32196 ,  G05B2219/32201 ,  G05B2219/32212 ,  G05B2219/45048 ,  Y02P90/22 ,  Y02P90/86

摘要： A method of evaluating the efficiency of an automatic machine (1), whereby, upon completion of a given production lot, a current performance index (I) achieved by the automatic machine (1) during manufacture of the production lot is calculated; and the current performance index (I) is memorized in a nonvolatile memory, together with various characteristic parameters relating to the processing performed. To evaluate the efficiency of the automatic machine (1), the current performance index (I) is compared with historic performance indexes (I) memorized previously during operation of the automatic machine (1) and having characteristic parameters substantially similar to the characteristic parameters of the current performance index (I).

摘要翻译： 一种评价自动机器（1）的效率的方法，其中，在给定生产批次完成时，计算在生产批次的制造期间由自动机器（1）实现的当前性能指标（I） 并且将当前性能指标（I）连同与所执行的处理相关的各种特征参数一起存储在非易失性存储器中。 为了评估自动机器（1）的效率，将当前性能指标（I）与先前在自动机器（1）的操作期间记忆的历史性能指标（I）进行比较，并且具有与特征参数基本相似的特征参数 目前的业绩指标（一）。

公开(公告)号：EP1235270A2

公开(公告)日：2002-08-28

申请号：EP02003676.0

申请日：2002-02-18

申请人： Infineon Technologies AG

发明人： Pöppel, Gerhard, Dr. ,  Wachtmeister, Frank

IPC分类号： H01L21/66

CPC分类号： H01L22/20 ,  G05B2219/32187 ,  Y02P90/22

摘要： Erläutert wird unter anderem ein Verfahren, bei dem ein Halbzeug (12) eine Vielzahl von Bearbeitungsstufen (PS1 bis PS201) durchläuft. Es werden auf die Fertigungseinheiten (12) bezogene Werte für eine Gütegröße zur Bewertung der Fertigung ermittelt, z.B. für die Ausbeute. Außerdem wird eine Untersuchungsgröße vorgegeben, z.B. die für die Fertigung verwendete Maschine (M1 bis M3) in einer bestimmten Bearbeitungsstufe (PS1). Signifikanztests werden automatisch (30) für mindestens zwei Bearbeitungsstufen (PS1, PS2) ausgeführt. Anschließend wird automatisch eine Bearbeitungsstufe (PS1) ausgewählt, in der die Ursache für einen Fertigungs- und/oder Prozessierungsfehler gesucht wird.

摘要翻译： 该方法包括检测质量参数，调查的参数定义要进行调查和检查，如果有超过一个影响最小的质量参数显著影响质量，其效果是。 的影响的意义/强度是自动确定的开采至少两个处理阶段和/或部分和至少一个阶段或部分被相应地选择寻求缺陷的起源。 该方法涉及通过多个处理级（PS1-PS201）检测质量参数制造评估通过制造单位（12），调查参数（M1-M3）对质量，其效果是可查 - 定义并检查是否 参数对超过的影响最小质量参数的显著影响。 的影响的意义和/或强度是自动确定的开采至少两个处理阶段和/或连续阶段的段和至少一个阶段或部被相应地选择，其中所述缺陷的来源将被寻求。 因此独立权利要求中包括了以下内容：（1）布置用于实现确定性采矿机趋势的​​方法中，（2），用于实现根据本发明的方法的程序，（3）的数据处理系统（4）的制造系统。

公开(公告)号：EP3411763A1

公开(公告)日：2018-12-12

申请号：EP16815804.6

申请日：2016-12-14

申请人： Robert Bosch GmbH

发明人： SCHOEPF, Martin ,  KLECKNER, Josef ,  WALTHER, Michael ,  ARNOLD, Wolfgang ,  HLAVAC, Marcus ,  DIETERLE, Martin ,  KIRCHER, Christian

IPC分类号： G05B19/418

CPC分类号： G05B19/418 ,  G05B2219/32018 ,  G05B2219/32187 ,  G05B2219/32188 ,  G05B2219/43124 ,  G05B2219/49067 ,  Y02P90/02 ,  Y02P90/22 ,  Y02P90/265

摘要： Production plant (1) for producing at least one end product (3) from at least one primary starting material (2), comprising at least one processing station (41-43) which processes at least one starting material (21-23) to form at least one product (31, 32, 33), and a process controller (51-53) which can control at least one variable (71-73), which is a measure of a quality feature of the product (31-33) and/or is correlated with a quality feature of the product (31-33), by influencing at least one manipulated variable (61-63) acting on the processing station (41-43), wherein the process controller (51-53) is additionally designed to control the production rate (31a-33a) of the processing station (41-43) for the product (31-33) and/or the consumption rate (21a-23a) of the processing station (41-43) with regard to starting material (21-23) by acting on the manipulated variable (61-63).

公开(公告)号：EP2572840A3

公开(公告)日：2013-06-05

申请号：EP12006459.7

申请日：2012-09-14

申请人： Weber Maschinenbau GmbH Breidenbach

发明人：

IPC分类号： B26D5/00 ,  B25J9/16 ,  B25J11/00

CPC分类号： B26D5/007 ,  B25J9/0051 ,  B25J9/1674 ,  B25J9/1697 ,  B25J11/0045 ,  B25J11/0055 ,  B26D2210/02 ,  G05B19/41875 ,  G05B2219/32187 ,  G05B2219/32221 ,  Y02P90/22 ,  Y10T83/141 ,  Y10T83/145 ,  Y10T83/202

摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Aufschneiden von einem Lebensmittelprodukt (1), mit einer durch einen Antrieb (4) antreibbaren Schneideinrichtung (3), insbesondere einem rotierendem Schneidmesser (5), einer Produktzufuhr, die das Lebensmittelprodukt (1) der Schneideinrichtung (3) zuführt, und einer Aufnahmeeinrichtung, die ausgelegt ist, Lebensmittelscheiben (7) aufzunehmen, die von dem Lebensmittelprodukt (1) abgeschnitten werden. Die vorliegende Erfindung betrifft weiterhin eine Vorrichtung mit einem Roboter (18) zum Verlagern eines Lebensmittelproduktes, insbesondere von Lebensmittelscheiben, wobei der Roboter (18) wenigstens einen Roboterarm (23, 24) aufweist, an dem sich eine Greifereinheit (21) zum Ergreifen der Lebensmittelprodukte befindet, und wobei der Roboter (18) ausgelegt ist, Lebensmittelprodukte von einer Auflage aufzunehmen, und zu einem gewünschten Ort zu verlagern. Erfindungsgemäß ist wenigstens eine Kamera (15, 16, 17, 30, 31) vorgesehen ist, die ausgelegt ist, wenigstens eine Information bezüglich der Schneideinrichtung (3) oder des Roboters (18) und/oder des Lebensmittelprodukts (1), bzw. der Lebensmittelscheiben (7), zu erfassen.

公开(公告)号：EP2572841A3

公开(公告)日：2013-05-22

申请号：EP12006460.5

申请日：2012-09-14

申请人： Weber Maschinenbau GmbH Breidenbach

发明人：

IPC分类号： B26D5/00 ,  B25J9/16 ,  B25J11/00 ,  B25J9/00

CPC分类号： B26D5/007 ,  B25J9/0051 ,  B25J9/1674 ,  B25J9/1697 ,  B25J11/0045 ,  B25J11/0055 ,  B26D2210/02 ,  G05B19/41875 ,  G05B2219/32187 ,  G05B2219/32221 ,  Y02P90/22 ,  Y10T83/141 ,  Y10T83/145 ,  Y10T83/202

摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Aufschneiden von einem Lebensmittelprodukt (1), mit einer durch einen Antrieb (4) antreibbaren Schneideinrichtung (3), insbesondere einem rotierendem Schneidmesser (5), einer Produktzufuhr (2), die das Lebensmittelprodukt (1) der Schneideinrichtung (3) zuführt, einer Aufnahmeeinrichtung, die ausgelegt ist, Lebensmittelscheiben (7) aufzunehmen, die von dem Lebensmittelprodukt (1) abgeschnitten werden, und einem Kontrollsystem in dem wenigstens eine Vorgabe gespeichert wird. Erfindungsgemäß ist das Kontrollsystem ausgelegt, wenigstens einen Zustandsparameter zu überwachen, und in Abhängigkeit des wenigstens einen Zustandsparameters und der wenigstens einen gewählten Vorgabe zu bestimmen, ob eine vorbestimmte Bedingung erfüllt wurde, die insbesondere eine Wartungsmaßnahme bedingt.

摘要翻译： 本发明涉及一种装置，用于通过一个驱动切片的食品（1）与（4）驱动的切削装置（3），特别是旋转切割刀（5），一个产品供应（2），所述食物产品（1） 切割装置（3）供给用于接收从食品（1）切下的食物切片（7）的接收装置以及其中存储至少一个预设的控制系统。 根据本发明，控制系统被设计成监视至少一个状态参数并且取决于至少一个状态参数和至少一个选择的规范来确定是否已经满足预定条件，这尤其需要维护措施。

公开(公告)号：EP1260892A3

公开(公告)日：2003-06-04

申请号：EP02011299.1

申请日：2002-05-22

申请人： G.D SOCIETA' PER AZIONI

发明人： Valentini, Antonio ,  Draghetti, Fiorenzo

IPC分类号： G05B19/418

CPC分类号： G05B19/41875 ,  G05B2219/32187 ,  G05B2219/32191 ,  G05B2219/32196 ,  G05B2219/32201 ,  G05B2219/32212 ,  G05B2219/45048 ,  Y02P90/22 ,  Y02P90/86

摘要： A method of evaluating the efficiency of an automatic machine (1), whereby, upon completion of a given production lot, a current performance index (I) achieved by the automatic machine (1) during manufacture of the production lot is calculated; and the current performance index (I) is memorized in a nonvolatile memory, together with various characteristic parameters relating to the processing performed. To evaluate the efficiency of the automatic machine (1), the current performance index (I) is compared with historic performance indexes (I) memorized previously during operation of the automatic machine (1) and having characteristic parameters substantially similar to the characteristic parameters of the current performance index (I).