公开(公告)号：JP2011502278A

公开(公告)日：2011-01-20

申请号：JP2010531093

申请日：2008-08-26

Applicant: ジーイー・インスペクション・テクノロジーズ,エルピー

Inventor： カーペン，トーマス・ダブリュー ,  スコット，ジョシュア・リン ,  デルモニコ，ジェームズ・ジェイ ,  バークル，マージョリー・エル ,  ロペス，ジョセフ・ヴィー

IPC: G02B23/24 ,  A61B1/00 ,  A61B1/04 ,  A61B1/06 ,  H01L23/34

CPC classification number: G02B23/2476 ,  G01N21/88 ,  G01N21/954 ,  G01N29/043 ,  G01N29/326 ,  G01N2201/0221 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/0612 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/0634 ,  G01N2201/0693 ,  G01N2201/0694 ,  G01N2201/0826 ,  G03B2205/0046 ,  G03B2205/0053 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 検査装置は、ハンドセット部（３０２）と、このハンドセット部から延在する細長い検査チューブ（１１２）とを含む。 この装置の、１つまたは複数のコンポーネントから放出される熱エネルギーを削減するために、この装置は、特別設計のヒートシンクアセンブリ（９２８）を含む。
【選択図】図８

Abstract translation: 检查装置可以包括手机和从手机延伸的细长检查管。 为了减少从设备的一个或多个部件辐射的热能，该设备可以包括特别设计的散热器组件。

公开(公告)号：JP2010008099A

公开(公告)日：2010-01-14

申请号：JP2008164896

申请日：2008-06-24

Applicant: Ja Woollam Japan Kk ,  National Institute Of Advanced Industrial & Technology ,  Tokyo Institute Of Technology ,  ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社 ,  国立大学法人東京工業大学 ,  独立行政法人産業技術総合研究所

Inventor： KUWABARA MASASHI ,  FUKAYA TOSHIO ,  SHIMA TAKAYUKI ,  TOMINAGA JUNJI ,  ENDO RIE ,  SUSA MASAHIRO ,  SUZUKI MICHIO ,  TSUTSUMI KOICHI

IPC: G01N21/41 ,  G01N21/47 ,  G01N21/59

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01N21/0332 ,  G01N2201/0227 ,  G01N2201/023 ,  G01N2201/0231

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical measuring instrument for easily and optically measuring a flat measuring surface even if the amount of a liquid or molten material being a measuring target is little and for measuring the physical properties of the liquid or molten material by causing no transpiration or no reaction with another substance, and an optical measuring method.
SOLUTION: The optical measuring instrument includes a base transparent container 6 which houses a measuring target material and keeps at least the base 6a flat and transparent and an optical device which projects light on the base 6a of the container 6 and detects and measures the reflected light 11 from the base. The base of the transparent container 6 housing the liquid or molten material 13 is irradiated with incident light 10 from a light source 1 and the reflected light component from the liquid or molten material 13 in the reflected light 11 is detected and measured.
COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Abstract translation: 要解决的问题：即使用作测量对象的液体或熔融材料的量很少并且用于测量液体的物理性能或熔融的物理性能来提供用于容易且光学地测量平坦测量表面的光学测量仪器 材料不产生蒸发或与其他物质无反应，以及光学测量方法。 解决方案：光学测量仪器包括容纳测量目标材料并且至少保持基座6a平坦和透明的基部透明容器6以及将光投射到容器6的基座6a上并检测并测量的光学装置 来自基座的反射光11。 容纳液体或熔融材料13的透明容器6的底部被来自光源1的入射光10照射，并且检测和测量来自反射光11中的液体或熔融材料13的反射光分量。 版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

公开(公告)号：JP6247426B2

公开(公告)日：2017-12-13

申请号：JP2017515347

申请日：2015-04-30

Applicant: 株式会社日立製作所

Inventor： 岡野定 雅弘 ,  野田 英之

IPC: G01N35/04 ,  G01N35/10 ,  C12M1/34 ,  G01N21/76

CPC classification number: G01N21/76 ,  C12Q1/02 ,  G01N21/763 ,  G01N35/00871 ,  G01N35/025 ,  G01N35/04 ,  G01N35/1004 ,  G01N35/1009 ,  G01N2035/00277 ,  G01N2035/00306 ,  G01N2035/00356 ,  G01N2035/0422 ,  G01N2035/0432 ,  G01N2035/0444 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/064

公开(公告)号：JP5669449B2

公开(公告)日：2015-02-12

申请号：JP2010134868

申请日：2010-06-14

Applicant: メトラー−トレド アクチェンゲゼルシャフト ,  メトラー−トレド アクチェンゲゼルシャフト

Inventor： クリスティアン・フォーラー ,  エルヴィン，ボッザルト ,  フェーリクス，ベヒェイラツ

IPC: G01N21/41

CPC classification number: G01N21/41 ,  B01L3/508 ,  B01L7/00 ,  B01L2200/04 ,  B01L2300/043 ,  B01L2300/046 ,  B01L2300/048 ,  B01L2300/0809 ,  G01N2201/0224 ,  G01N2201/0231

公开(公告)号：JP5553374B2

公开(公告)日：2014-07-16

申请号：JP2008164896

申请日：2008-06-24

Applicant: 独立行政法人産業技術総合研究所 ,  ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社

Inventor： 正史 桑原 ,  俊夫 深谷 ,  隆之 島 ,  淳二 富永 ,  理恵 遠藤 ,  匡裕 須佐 ,  道夫 鈴木 ,  浩一 堤

IPC: G01N21/41 ,  G01N21/47 ,  G01N21/59

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01N21/0332 ,  G01N2201/0227 ,  G01N2201/023 ,  G01N2201/0231

公开(公告)号：JP2014006213A

公开(公告)日：2014-01-16

申请号：JP2012143686

申请日：2012-06-27

Applicant: Hitachi High-Technologies Corp ,  株式会社日立ハイテクノロジーズ

Inventor： NODA HIDEYUKI ,  OKANOJO MASAHIRO

IPC: G01N21/76 ,  C12M1/34 ,  G01N21/77

CPC classification number: G01N21/76 ,  C12M1/34 ,  G01J1/0252 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/1211 ,  G02B7/008 ,  H01L31/024

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a weak luminescence detecting device, in luminescence measurement, capable of: preventing dark current values or dark current pulse numbers from reducing and from fluctuating relative to temperatures; capturing luminescence signals at a high solid angle; and detecting with high sensitivity luminescence having no directivity such as chemiluminescence or bioluminescence.SOLUTION: A luminescence measuring apparatus comprises: a plate-like member for holding a holder for a container storing a sample; a luminescence detection part for detecting luminescence in the sample; a temperature control part for controlling temperature of the luminescence detection part; and an air blowing part for blowing air to a luminescence receiving surface of the luminescence detection part.

Abstract translation: 要解决的问题：为了提供在发光测量中的弱发光检测装置，其能够：防止暗电流值或暗电流脉冲数量相对于温度的降低和波动; 捕获高立体角的发光信号; 并且检测不具有方向性的高灵敏度发光，例如化学发光或生物发光。解决方案：发光测量装置包括：用于容纳储存样品的容器的保持器的板状构件; 用于检测样品中的发光的发光检测部分; 用于控制所述发光检测部的温度的温度控制部; 以及用于将空气吹送到发光检测部的发光接收表面的吹风部。

公开(公告)号：JP5237809B2

公开(公告)日：2013-07-17

申请号：JP2008527781

申请日：2007-08-02

Applicant: アークレイ株式会社

Inventor： 秀樹 丹治

IPC: G01N35/00 ,  G01N33/49

CPC classification number: G01N35/00712 ,  G01N21/78 ,  G01N31/222 ,  G01N2035/00455 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/0238 ,  G01N2201/1214

公开(公告)号：JPWO2006104006A1

公开(公告)日：2008-09-04

申请号：JP2007510430

申请日：2006-03-23

Applicant: シスメックス株式会社

Inventor： 典正 山本 ,  典正 山本 ,  隆司 山登 ,  隆司 山登 ,  松尾　直彦 ,  直彦 松尾 ,  聖 井口 ,  聖 井口

IPC: G01N35/02

CPC classification number: G01N35/00594 ,  G01N21/0332 ,  G01N21/17 ,  G01N21/31 ,  G01N21/59 ,  G01N33/5302 ,  G01N33/86 ,  G01N35/00603 ,  G01N35/025 ,  G01N2035/00465 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/062 ,  Y10S436/815 ,  Y10S436/817 ,  Y10T436/11 ,  Y10T436/112499 ,  Y10T436/113332 ,  Y10T436/146666

Abstract: 検体の分析に先立って干渉物質の測定が可能な新規な検体分析方法が得られる。この検体分析方法は、検体容器(150)に収容されている検体を吸引し、第1容器(153)に分取するステップと、第1容器中の検体に対して光学測定を行うステップと、検体を第2容器(154)に分取し、第2容器にて検体と試薬とを混和して測定用試料を調製するステップと、検体の光学測定の結果に応じて、測定用試料に対して分析を行うステップとを備えている。

公开(公告)号：JP6347844B2

公开(公告)日：2018-06-27

申请号：JP2016553004

申请日：2015-01-22

Applicant: エイヴィエル エミッション テスト システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ,  AVL Emission Test Systems GmbH

Inventor： シュテファン フェッツナー ,  ウルリヒ ウルマー

IPC: G01N21/3504

CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01N2021/399 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/0621 ,  H01S5/02415 ,  H01S5/0612 ,  H01S5/06804 ,  H01S5/3401

公开(公告)号：JPWO2012176851A1

公开(公告)日：2015-02-23

申请号：JP2013521618

申请日：2012-06-21

Applicant: 株式会社島津製作所

Inventor： 昌秀 軍司 ,  昌秀 軍司

IPC: G01J3/10 ,  F21S2/00 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/18 ,  G01J3/42 ,  G01N30/74 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/1211

Abstract: 記憶手段27に、光源5の点灯状態において分光器3内で光軸が安定している時のサーミスタ23の検出温度が記憶されている。光源5が消灯状態から点灯されたとき、制御部29はヒーター25を動作させるとともに、制御部29はファン21を停止状態にさせておく。これにより、分光器3は、ランプハウス1からの熱によって加熱されるとともに、ヒーター25によっても加熱される。サーミスタ23の検出温度が記憶手段27に記憶された検出温度に到達したとき、制御部29はヒーター25の動作を停止させてヒーター25による分光器3の加熱を停止するとともに、ランプハウス1の温度が安定するようにファン21を所定の回転数で動作させる。

Abstract translation: 在存储单元27中，当光轴在光源5的点亮状态的分光镜3是稳定的热敏电阻23的检测温度被存储。 当光源5从断开状态时，与操作加热器25的控制单元29转动时，控制单元29允许在风扇21处于停止状态。 因此，光谱仪3由从灯室1的热加热，也由加热器25加热。 当热敏电阻23的检测温度达到存储在存储部27，与控制单元29一起的检测温度由加热器25停止分光计3的加热停止加热器25，灯室1的温度的操作 它操作风扇21以预定的旋转速度是稳定的。