Luminescence measuring apparatus
    2.
    发明专利
    Luminescence measuring apparatus 有权
    发光测量装置

    公开(公告)号:JP2014006213A

    公开(公告)日:2014-01-16

    申请号:JP2012143686

    申请日:2012-06-27

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a weak luminescence detecting device, in luminescence measurement, capable of: preventing dark current values or dark current pulse numbers from reducing and from fluctuating relative to temperatures; capturing luminescence signals at a high solid angle; and detecting with high sensitivity luminescence having no directivity such as chemiluminescence or bioluminescence.SOLUTION: A luminescence measuring apparatus comprises: a plate-like member for holding a holder for a container storing a sample; a luminescence detection part for detecting luminescence in the sample; a temperature control part for controlling temperature of the luminescence detection part; and an air blowing part for blowing air to a luminescence receiving surface of the luminescence detection part.

    Abstract translation: 要解决的问题:为了提供在发光测量中的弱发光检测装置,其能够:防止暗电流值或暗电流脉冲数量相对于温度的降低和波动; 捕获高立体角的发光信号; 并且检测不具有方向性的高灵敏度发光,例如化学发光或生物发光。解决方案:发光测量装置包括:用于容纳储存样品的容器的保持器的板状构件; 用于检测样品中的发光的发光检测部分; 用于控制所述发光检测部的温度的温度控制部; 以及用于将空气吹送到发光检测部的发光接收表面的吹风部。

    Sensor concentration detector includes a temperature compensation function

    公开(公告)号:JP2010512536A

    公开(公告)日:2010-04-22

    申请号:JP2009540935

    申请日:2007-12-10

    CPC classification number: G01N21/1702 G01N21/274 G01N21/3504 G01N2201/1211

    Abstract: サンプル混合物内のサンプルの濃度を検出するサンプルセンサ200であって、光源101、検出器素子、処理セクション106及びパラメータ測定手段を含む。 光源101は、サンプルの分子を励起させる光ビーム113を生成する。 検出器素子は、サンプルの励起された分子の量を検出し、前記量を指示する検出器電流を供給する。 処理セクション106は、検出器素子103に接続され、濃度を表す出力信号109を生成するために前記検出器電流を処理する。 処理セクション106は、出力波長以外の、光源101の温度依存パラメータの少なくとも1つの測定値に基づいて、光源101の温度依存波長シフトを補償するよう構成された温度補償モジュール112を含む。 パラメータ測定手段は、前記少なくとも1つの測定値を得る。

    Flaw inspection device
    8.
    发明专利
    Flaw inspection device 审中-公开
    FLAW检查设备

    公开(公告)号:JP2007248086A

    公开(公告)日:2007-09-27

    申请号:JP2006068479

    申请日:2006-03-14

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem that the depth of a focus becomes shallow because a fine flaw detection sensitivity is enhanced by raising a detection magnification in a flaw inspection device, an image forming position is shifted by environmental fluctuations and flaw detection sensitivity becomes unstable.
    SOLUTION: The flaw inspection device is equipped with an XY stage loaded with a substrate to be inspected to perform scanning in a predetermined direction and a mechanism for correcting the change of an image forming position with respect to a change in temperature and atmospheric pressure in order to hold an image forming state to the best state in a system for obliquely illuminating the flaw on the substrate to be inspected to detect the same by the detection optical system arranged above the substrate to be inspected.
    COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

    Abstract translation: 解决问题:为了解决由于通过提高探伤装置中的检测倍率而提高精细的探伤灵敏度而使焦点的深度变浅的问题,图像形成位置由于环境波动和缺陷而偏移 检测灵敏度变得不稳定。 解决方案:瑕疵检查装置配备有载置有要检查的基板的XY台,以沿预定方向进行扫描,以及用于校正图像形成位置相对于温度和大气变化的变化的机构 压力,以便在用于倾斜照射待检查的基板上的缺陷的系统中将图像形成状态保持在最佳状态,以通过布置在要检查的基板上方的检测光学系统检测图像形成状态。 版权所有(C)2007,JPO&INPIT

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