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公开(公告)号:JP5086083B2
公开(公告)日:2012-11-28
申请号:JP2007534588
申请日:2005-08-15
Applicant: 東京エレクトロン株式会社
Inventor: チェン、リー , 神原弘光 , ティアン、カイズ・ホン , 西塚哲也 , 野澤俊久
IPC: H01L21/3065 , C23C16/455 , C23C16/511 , H01L21/205 , H05H1/46
CPC classification number: H01J37/32706 , H01J37/32211 , H01J37/3244 , H01L21/31116
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公开(公告)号:JP2008515161A
公开(公告)日:2008-05-08
申请号:JP2007534578
申请日:2005-08-10
Applicant: 東京エレクトロン株式会社
Inventor: チェン、リー , ティアン、カイズ・ホン , 神原弘光 , 西塚哲也 , 野澤俊久
IPC: H05H1/46 , C23C16/452 , C23C16/50 , H01L21/3065
CPC classification number: H01J37/32211 , H01J37/32082 , H01J37/32192
Abstract: 【課題】 基板を処理するためのプラズマ処理システムを提供することである。
【解決手段】 基板を処理するためのプラズマ処理システムは、プラズマ空間を提供するために、第1のガスを受けるように構成された第1のチャンバ部分と、基板を処理するためのプロセス化学を有する処理空間を提供するために、第2のガスを受けるように構成された第2のチャンバ部分とを有する処理チャンバを含む。 基板ホルダは、処理チャンバの第2のチャンバ部分に結合され、処理空間に隣接して基板を支持するように構成され、プラズマソースは、処理チャンバの第1のチャンバ部分に結合され、プラズマ空間にプラズマを形成するように構成される。
【選択図】-
公开(公告)号:JP4861329B2
公开(公告)日:2012-01-25
申请号:JP2007534578
申请日:2005-08-10
Applicant: 東京エレクトロン株式会社
Inventor: チェン、リー , ティアン、カイズ・ホン , 神原弘光 , 西塚哲也 , 野澤俊久
IPC: H05H1/46 , C23C16/452 , C23C16/50 , H01L21/3065
CPC classification number: H01J37/32211 , H01J37/32082 , H01J37/32192
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公开(公告)号:JP2008515221A
公开(公告)日:2008-05-08
申请号:JP2007534588
申请日:2005-08-15
Applicant: 東京エレクトロン株式会社
Inventor: チェン、リー , ティアン、カイズ・ホン , 神原弘光 , 西塚哲也 , 野澤俊久
IPC: H01L21/3065 , C23C16/455 , C23C16/511 , H01L21/205 , H05H1/46
CPC classification number: H01J37/32706 , H01J37/32211 , H01J37/3244 , H01L21/31116
Abstract: 【課題】 基板を処理するための方法を提供することである。
【解決手段】 基板を処理する方法は、プラズマ空間を規定するために構成される第1のチャンバ部分と、処理空間を規定するように構成された第2のチャンバ部分とを有する処理チャンバに基板を配置することと、プラズマ空間に第1のガスを導入することと、処理空間に第2のガスを導入することとを含む。 プラズマは、上部チャンバ部分に結合されたプラズマソースを使用して第1のガスからプラズマ空間に形成される。 プラズマがプラズマ空間から処理空間へと拡散することができるように、基板を処理するためのプロセス化学は、第1のチャンバ部分と、第2のチャンバ部分との間に配置されたグリッドを提供することによって処理空間に形成される。
【選択図】
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