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    KR102233780B1 - Jig for testing performance of chip set
    1.
    发明专利
    KR102233780B1 - Jig for testing performance of chip set 有权

    公开(公告)号：KR102233780B1

    公开(公告)日：2021-03-30

    申请号：KR1020200104938A

    申请日：2020-08-20

    申请人： 주식회사 비아이피

    发明人： 박경남

    IPC分类号： G01R29/10 ,  G01R1/073 ,  G01R29/08 ,  G01R31/28

    CPC分类号： G01R29/10 ,  G01R1/073 ,  G01R29/0871 ,  G01R29/0878 ,  G01R31/2867 ,  G01R31/2884 ,  G01R31/2886

    摘要： 본 발명에 따른 칩셋 성능 테스트용 지그는, 베이스와, 상기 베이스의 상부의 소정 위치에 형성되며, 테스트 대상인 한 개 이상의 칩셋이 안착되는 안착부가 형성된 테스트 보드와, 상기 테스트 보드 상부에 결합되어, 상기 안착부에 안착된 상기 한 개 이상의 칩셋을 가이드하는 칩셋 안착 가이드와, 상기 칩셋 안착 가이드를 아래 방향으로 누르기 위한 누름 부재가 하부에 형성되고, 상기 누름 부재를 누름 압력을 제공하기 위한 압력판이 상기 누름 부재에 대응하는 상부 위치에 형성된 압력 부재와, 상기 압력 부재의 일단에 형성되어 상기 압력 부재가 아래 방향으로 압력을 가하도록 기능하는 압력 도구를 포함하고, 상기 압력판은 대기 상태의 조건에 상응하도록 유전율이 2.0 이하인 물질로 구성되며, 상기 테스트 보드 상의 피딩 패드는 칩셋의 입력 임피던스와 동일한 임피던스 라인을 이용하여 제작되는 상기 칩셋의 안테나 피딩부와 연결될 수 있다.

    静電気分布計測装置および静電気分布計測方法
    6.
    发明专利
    静電気分布計測装置および静電気分布計測方法 有权
    静态分布测定装置和静电分布测量方法

    公开(公告)号：JPWO2015011942A1

    公开(公告)日：2017-03-02

    申请号：JP2015528162

    申请日：2014-03-13

    申请人： 国立研究開発法人産業技術総合研究所

    发明人： 和也 菊永 ,  一洋 野中

    IPC分类号： G01R29/14

    CPC分类号： G01R29/24 ,  G01H11/06 ,  G01R29/0878 ,  G01R29/14 ,  G01V3/088 ,  G06F1/00 ,  G06T11/206 ,  H01L21/00 ,  H01L2221/00

    摘要： 本発明の静電気分布計測装置1は、計測対象物200の計測面における静電気分布を計測する静電気分布計測装置1であって、振動によって計測面における複数領域211のそれぞれで生じる電界を受信するアレイアンテナ2と、計測対象物200もしくはアレイアンテナ2を振動させる振動手段3と、アレイアンテナ2が受信した複数領域211のそれぞれでの電界の強度、周波数および位相の少なくとも一つを計測する計測手段4と、計測手段4での計測結果に基づいて、複数領域211のそれぞれでの静電気量を算出する算出手段5と、複数領域211のそれぞれでの静電気量に基づいて、計測面における静電気分布を描画する描画手段6と、を備え、アレイアンテナ2は、複数領域211のそれぞれに対応する複数のアンテナ素子21を有する。

    摘要翻译： 静态分布测量本发明的装置1是用于测量在测量对象200，用于通过振动接收在每个所述多个在测量平面区211的产生的电场的阵列天线的测量平面中的静电分布的静态分布测定装置1 如图2所示，振动在每个多个区域211阵列天线2接收的测量的振动测量对象200或阵列天线如图2所示，电场强度是指3装置4，用于测量频率和相位中的至少一个 的基础上，测量的测量结果是指如图4所示，用于计算在每个所述多个区域211的静电的量，基于静电的在每个所述多个区域211的量是指5，绘制在测量平面的静电分布 绘图装置6，具备阵列天线2具有多个对应于每个所述多个区域211的天线元件21的。

    電波測定装置
    8.
    发明专利
    電波測定装置 有权
    无线电测量装置

    公开(公告)号：JPWO2014196439A1

    公开(公告)日：2017-02-23

    申请号：JP2015521411

    申请日：2014-05-29

    申请人： 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構

    发明人： 治 田島 ,  秀悟 小栗

    IPC分类号： G01R29/08 ,  G01R29/10 ,  G01S13/00 ,  H01P1/08 ,  H01Q1/42 ,  H01Q15/14

    CPC分类号： G01R27/32 ,  B64G1/105 ,  B64G2001/1042 ,  G01R29/0878 ,  G02B5/208 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

    摘要： 【課題】本発明は、極低温下、電波の高感度測定を可能にする電波測定装置を提供する。【解決手段】真空容器の中に、目的とする電波を透過させる放射遮フィルタ、電波に含まれる目的としない電磁波を反射させる電波透過性材料、及び電波検出器を置き、電波が前記放射遮フィルタを透過し、前記電波に含まれる目的としない電磁波は前記電波透過性材料により前記放射遮フィルタに向けて反射させられ、前記放射遮フィルタに熱として集熱されるとともに、熱伝導により系外に排熱され、前記電波透過性材料を透過した電波が、前記電波検出器により高感度測定される電波測定装置とした。【選択図】図1

    摘要翻译： 公开了一种极低温，提供一种无线电波测量装置，其使得无线电波的高灵敏度的测定。 所述的在真空室中，辐射屏蔽滤光器透射的感兴趣的无线电波中，置于其反映其并不意在被包括在无线电波的电磁波的无线电波发射材料，并且该波检测器，所述过滤器的无线电波的屏蔽所述辐射 通过该不旨在被包括在无线电波被促使朝向由无线电波发射材料，辐射屏蔽滤光器反射的电磁波发送，其中，与所述加热冷凝成热辐射屏蔽滤光片，通过热传导排出到系统外 然后加热，通过无线电波发射材料发射的无线电波具有无线电波测量装置，该装置对由检波器灵敏的测量。 点域1

    磁界プローブ
    10.
    发明专利
    磁界プローブ 有权
    磁场探头

    公开(公告)号：JPWO2013146003A1

    公开(公告)日：2015-12-10

    申请号：JP2014507543

    申请日：2013-02-26

    申请人： 株式会社村田製作所

    发明人： 典子 清水 ,  典子 清水 ,  崇 市村 ,  崇 市村 ,  貴博 東 ,  貴博 東

    IPC分类号： G01R33/02 ,  G01R29/08

    CPC分类号： G01R33/0206 ,  G01R29/0878 ,  G01R33/0023 ,  G01R33/0047

    摘要： 磁界プローブ(1)の検出部(20)は、多層基板(10)の第1の面(16)に形成され、磁界プローブ(1)の軸線(3)方向に対して所定の傾きφを持った第1配線パターン(31)と、第2の面(17)に形成され、軸線(3)方向に対して所定の傾きφを持った第2配線パターン(32)と、多層基板(10)を厚み方向に貫通し、第1配線パターン(31)の先端部(31b)と第2配線パターン(32)の先端部(32b)とを接続する第1貫通ビア(41)とを備える。第1配線パターン(31)の後端部(31a)は、ストリップ線路(80)を構成する導体パターン(84)に接続され、第2配線パターン(32)の後端部(32b)は、ストリップ線路(80)を構成するグランドパターン(82,83)に接続される。

    摘要翻译： 形成于多层基板（10）（16）的第一表面上的磁场探测器（1）（20）的检测，以预定的相对于轴线的倾角φ（3）的磁场探测器的方向（1） 和第一布线图案（31），形成在第二表面（17）上，轴（3）和具有规定的倾斜的方向（32）的第二布线图案φ，在多层基板（10） 在厚度方向上贯通，包括在所述第一配线图案（31）和（31B）的第二布线图案（32）和（32 b）所述第一通孔的远端的远端连接（41）。 第一配线图案（31）（31A）的后端部被连接到构成一个带状线（80），第二配线图案（32）（32 b）中的后端部的导体图案（84），所述条带 它被连接到构成线（80）的接地图案（82，83）。