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    検体処理システム
    3.
    发明专利
    検体処理システム 审中-公开
    样品处理系统

    公开(公告)号：JPWO2014112259A1

    公开(公告)日：2017-01-19

    申请号：JP2014557364

    申请日：2013-12-13

    申请人： 株式会社日立ハイテクノロジーズ

    发明人： 望 長谷川 ,  望 長谷川 ,  邦昭 鬼澤 ,  邦昭 鬼澤

    IPC分类号： G01N35/00

    CPC分类号： H02J4/00 ,  G01N35/00584 ,  Y10T307/461

    摘要： 本発明は、検体処理システムにおいて、オペレーションを継続し、1つまたはそれ以上の任意に指定した特定の機構部位のみの電源供給および停止することが出来る検体処理システムを提供することを目的としたものである。具体的には、検体を投入する検体投入部と、検体を処理する検体処理部と、処理された検体を回収する検体回収部と、該検体投入部、検体処理部、検体回収部の間で検体を搬送する検体搬送ラインのそれぞれが、複数の処理(分析)ユニットで接続されている検体処理システムにおいて、前記処理(分析)ユニットは、動作を制御するCPUを備え、CPUからの電気信号を受けて、処理ユニット内の機構部位を稼働させる機構制御部を備え、機構部位制御部は、CPUからの電気信号により、1つまたはそれ以上の任意に指定した特定の機構部位の電源の供給、停止が可能となる手段を有する。

    摘要翻译： 本发明提供一种检体处理系统继续操作，意在提供对一个或一个特定的样本处理系统，其能够仅在多个可选的指定的机构部的功率供给和停止的 它是。 具体而言，检测体投入单元用于引入试样，以及用于处理样本的样本处理单元，以及用于回收该处理的样品，将样品装载部，所述试样处理单元的样本回收单元，样本回收单元之间 每个标本传送线，用于输送试样，在由多个处理（分析）单元连接在所述检体处理系统，所述处理（分析）单元包括用于控制操作，来自CPU的电信号的CPU 接收，操作处理单元，机构站点控制器，从所述CPU，1个或多个任选的电信号的机构部的机构控制单元来驱动指定的特定机构部， 包括装置停止是可能的。

    電池制御システム、電池パック、電子機器および充電機器
    5.
    发明专利
    電池制御システム、電池パック、電子機器および充電機器 有权
    电池控制系统，电池组，电子设备和充电装置

    公开(公告)号：JPWO2013128808A1

    公开(公告)日：2015-07-30

    申请号：JP2014501992

    申请日：2013-02-08

    申请人： Necエナジーデバイス株式会社

    发明人： 忠大 吉田 ,  忠大 吉田

    IPC分类号： H02J7/04 ,  H02J7/02 ,  H02J7/10

    CPC分类号： H02J7/0021 ,  G06F1/324 ,  H01M10/0525 ,  H01M10/425 ,  H01M10/441 ,  H01M10/443 ,  H01M10/482 ,  H01M10/486 ,  H01M2010/4271 ,  H01M2010/4278 ,  H02J7/0026 ,  H02J7/0029 ,  H02J7/0091 ,  H04M1/0202 ,  H04M2001/0204 ,  H05B37/0209 ,  Y02D10/126 ,  Y02T10/7055 ,  Y10T307/461 ,  Y10T307/549

    摘要： 複数の電池セル(100)は、直列に接続している。温度測定部(300)は、二つ以上の電池セル(100)の温度を測定する。電池制御部(400)は、温度測定部(300)が測定した温度に基づいて、電池セル(100)の充電および放電を制御する。また、電池制御部(400)は、電池セル(100)に充電を行っている場合または電池セル(100)が放電を行っている場合に、温度測定部(300)が測定した温度に基づいて、温度が最低である温度最低セルと、温度が最高である温度最高セルを特定する。また、電池制御部(400)は、温度最高セルと温度最低セルとの温度差&Dgr;Tが基準値T1以上であるとする第1条件を満たさないとき、充電または放電をそのまま継続させる。一方、温度差&Dgr;Tが第1条件を満たすとき、電池制御部(400)は、第1信号を出力する。

    摘要翻译： 多个蓄电池单元（100）的串联连接。 温度测量单元（300）测量所述两个或多个电池单元（100）的温度。 电池控制单元（400），基于在所述温度测量单元（300）测量的温度，控制所述电池单元（100）的充电和放电。 电池控制单元（400），当壳体或电池单元被充电电池单元（100），（100）执行放电，基于所述温度测量单元时的温度（300）进行测量 指定温度最低电池温度是最低的，最高温度电池温度是最高的。 电池控制单元（400），所述温度最大电池温度最小电池之间的温度差和DGR;当不满足第一条件至T为基准值T1以上时，继续为充电或放电。 在另一方面，温差＆DGR;当T为满足第一条件时，电池控制单元（400）输出的第一信号。

    Power supply system
    9.
    发明专利
    Power supply system 有权
    电源系统

    公开(公告)号：JP2013219759A

    公开(公告)日：2013-10-24

    申请号：JP2013044861

    申请日：2013-03-07

    申请人： Semiconductor Energy Lab Co Ltd ,  株式会社半導体エネルギー研究所

    发明人： YAMAZAKI SHUNPEI

    IPC分类号： H03K17/687 ,  H01L29/786 ,  H02J1/00

    CPC分类号： H02J4/00 ,  H02J1/08 ,  Y10T307/461

    摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a power supply system which consumes less power by reducing leak current that flows through a switch element.SOLUTION: The power supply system includes a command unit and a plurality of components each including a power supply line, a load, and a switch which switches electrical connection between the power supply line and the load. The command unit separately controls on/off of the switches, and the switches are transistors including a semiconductor having a wider band gap than silicon in channel formation regions.

    摘要翻译： 要解决的问题：提供一种通过减少流过开关元件的泄漏电流来消耗较少功率的电源系统。解决方案：电源系统包括命令单元和多个组件，每个组件包括电源线，负载 以及切换电源线与负载之间的电连接的开关。 指令单元分别控制开关的开/关，并且开关是包括在沟道形成区域中具有比硅更宽的带隙的半导体的晶体管。

    Semiconductor device
    10.
    发明专利
    Semiconductor device 有权

    公开(公告)号：JP5322346B2

    公开(公告)日：2013-10-23

    申请号：JP2008141179

    申请日：2008-05-29

    申请人： 株式会社半導体エネルギー研究所

    发明人： 隆之 池田

    IPC分类号： H01L21/822 ,  G06F1/26 ,  H01L27/04

    CPC分类号： G06K19/0723 ,  G06K19/0701 ,  Y10T307/406 ,  Y10T307/461

    摘要： A semiconductor device including a redundant circuit which can operate even when power source in a circuit in part of the redundant circuit is short-circuited. A power source circuit, a power source control circuit to which a power source potential is input from the power source circuit, and a first functional circuit and a second functional circuit connected to the power source control circuit are provided for a semiconductor device. The power source control circuit selects one of the first functional circuit and the second functional circuit and judges whether power source is short-circuited or not. When power source is short-circuited, power source supply stops and other functional circuits are supplied with power source.