公开(公告)号：JP6892163B1

公开(公告)日：2021-06-23

申请号：JP2020047445

申请日：2020-03-18

申请人： NECプラットフォームズ株式会社

发明人： 秋山 英樹

IPC分类号： H01L21/82 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04 ,  H03K19/177

摘要： 【課題】SRAMにソフトエラーが発生した場合に、SRAMにおけるソフトエラーに関連するできるだけ小規模な回路へのクロック信号のみを停止させることのできる制御装置を提供する。 【解決手段】制御装置は、SRAMが記憶するCRC情報に基づいて前記SRAMにおけるソフトエラーを検出する障害検出回路と、前記障害検出回路が前記ソフトエラーを検出した場合に、前記ソフトエラーに関連するブロック単位でクロック信号を停止させる伝搬抑制回路と、を備える。 【選択図】図7

公开(公告)号：JP6883972B2

公开(公告)日：2021-06-09

申请号：JP2016208295

申请日：2016-10-25

申请人： 株式会社半導体エネルギー研究所

发明人： 上妻 宗広 ,  黒川 義元

IPC分类号： H03K19/173 ,  H03K19/177 ,  H01L21/8234 ,  H01L27/088 ,  H01L29/786 ,  H03K3/356

公开(公告)号：JP2021015357A

公开(公告)日：2021-02-12

申请号：JP2019128505

申请日：2019-07-10

申请人： 株式会社日立製作所

发明人： 鎌塚 友幸 ,  仲川 和志 ,  田中 一成

IPC分类号： H03K19/177 ,  G06F11/14 ,  G06F11/22

摘要： 【課題】障害の検出に要する時間を抑制しつつ、信頼性を確保することを可能にする。 【解決手段】 FPGA1は、回路構成を定義するコンフィグレーションデータを記録するCRAM11と、コンフィグレーションデータに応じて回路構成が決定される主回路部12と、コンフィグレーションデータのエラーの有無を検出するメモリチェック処理を実行するエラー検出部13と、を有する。制御部6は、所定の処理の実行を要求するクエリを受信した場合、主回路部12に対して、所定の処理を分割した複数のサブ処理を順番に実行させることで、所定の処理を実行させ、かつ、エラー検出部13に対して、サブ処理ごとにメモリチェック処理を有効化させる。 【選択図】図1

公开(公告)号：JP6751442B2

公开(公告)日：2020-09-02

申请号：JP2018548759

申请日：2017-02-15

申请人： ザイリンクス インコーポレイテッド ,  XILINX INCORPORATED

发明人： カンダラ,アニル・クマール ,  クルマッジ,スリニバサ・エル ,  ヤチャレニ,サントシュ ,  ブンダバッリ,サンディープ ,  ボッビリ,ウダヤ・クマール ,  プラサド,ゴッラ・ブイ・エス・アール・ケイ

IPC分类号： H01L21/82 ,  H03K19/177

公开(公告)号：JP6699249B2

公开(公告)日：2020-05-27

申请号：JP2016044669

申请日：2016-03-08

申请人： 富士通株式会社

发明人： 山崎 博信

IPC分类号： H03K19/173 ,  H01L21/82 ,  H03K19/177

公开(公告)号：JP2020048022A

公开(公告)日：2020-03-26

申请号：JP2018173577

申请日：2018-09-18

申请人： 株式会社東芝 ,  東芝デバイス&ストレージ株式会社

发明人： 普入 正美

IPC分类号： H01L21/822 ,  H01L27/04 ,  H01L21/82 ,  G01R31/28 ,  H03K19/00 ,  H03K19/177

摘要： 【課題】半導体集積回路内の一部のロジック回路が故障しても、救済できる。 【解決手段】半導体集積回路は、再構成可能なロジック機能をそれぞれ有する複数のロジック回路と、複数のロジック回路のロジック機能を設定するためのコンフィグレーション情報を記憶するメモリと、複数のロジック回路の故障の有無をテストするテスト制御回路と、テスト制御回路によるテスト結果に基づいて、複数のロジック回路の故障の有無を示す情報を出力するテスト結果出力制御回路と、を備える。 【選択図】図1

公开(公告)号：JP6656811B2

公开(公告)日：2020-03-04

申请号：JP2015038015

申请日：2015-02-27

IPC分类号： H03K19/177

公开(公告)号：JP2020010354A

公开(公告)日：2020-01-16

申请号：JP2019150973

申请日：2019-08-21

申请人： SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD

发明人： KUROKAWA YOSHIMOTO

IPC分类号： H03K19/177 ,  H03K19/173

摘要： 【課題】リコンフィギャラブル回路(RC回路)の駆動方法を提供する。【解決手段】RC回路を有するプロセッサにおいて、RC回路によってテスト回路を構成し、コアやキャッシュメモリ等をテストし、その後、RC回路の一部を補助のキャッシュメモリとして用いる。また、メモリが電源遮断後も記憶を保持できるものであれば、プロセッサのスタートアップルーチンプログラム(SRP)を保持することに用いる。テスト終了後に、外部のROM等からSRPをRC回路に設けられたメモリにロードし、次にプロセッサに電源が投入された後は、ロードされたSRPを用いて開始操作を行う。また、プロセッサが通常動作の状態となると、このメモリは補助のキャッシュメモリとして用いられるので、SRPは上書きされる。プロセッサの使用が終了する際には、再度、SRPがメモリにロードされる。【選択図】図2

公开(公告)号：JP6594762B2

公开(公告)日：2019-10-23

申请号：JP2015245493

申请日：2015-12-16

申请人： 三星電子株式会社 ,  Samsung Electronics Co.,Ltd.

发明人： ガオ, ミンギュ ,  ゼン, 宏 忠 ,  マラディ,クリシュナ ティ

IPC分类号： G06F15/78 ,  H03K19/173 ,  H01L21/82 ,  G06F7/57 ,  H03K19/177

公开(公告)号：JP2019140290A

公开(公告)日：2019-08-22

申请号：JP2018023415

申请日：2018-02-13

申请人： 日立オートモティブシステムズ株式会社

发明人： 水橋 嘉章

IPC分类号： H01L21/822 ,  H01L27/04 ,  H03K19/177 ,  G01R31/28 ,  H01L21/82

摘要： 【課題】短時間で通常動作が可能な自己診断を実行するデータ処理装置を実現する。 【解決手段】回路機能を変更可能な集積回路を搭載したデータ処理装置において、 電源投入時、回路機能を変更可能な集積回路の構成要素を診断するための 少なくとも1種類の診断用回路情報を書き込む(ステップS101、S102)。自己診断を行い(ステップS103)、欠陥領域が有ればその領域座標を記録し、これを最後の診断用回路データまで行う(ステップS102〜S106)。欠陥領域座標のダイ領域未使用の回路データが存在するか否かを判断し、ダイ領域未使用の回路データが存在する場合は、LSI300に実際の動作用の回路情報を書き込んで処理を行う(ステップS107、S108)。ダイ領域未使用の回路データが存在しない場合はマイクロコントローラ200がアラートを通知する(ステップS109)。 【選択図】図2