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公开(公告)号:TW201841232A
公开(公告)日:2018-11-16
申请号:TW106141146
申请日:2017-11-27
Inventor: 李昆穆 , LI, KUN MU , 陳兩儀 , CHEN, LIANG YI , 蕭文助 , HSIAO, WEN CHU
Abstract: 一種半導體裝置包括閘極結構形成於此半導體裝置之通道區域之上,源極/汲極區域相鄰於此通道區域,以及導電接觸層位於此源極/汲極區域之上。此源極/汲極區域包括第一磊晶層具有第一材料組成,以及第二磊晶層形成於此第一磊晶層之上。此第二磊晶層具有不同於此第一材料組成的第二材料組成。導電接觸層接觸第一及第二磊晶層,且此導電接觸層之底部位於此第一磊晶層之最上部分之下。
Abstract in simplified Chinese: 一种半导体设备包括闸极结构形成于此半导体设备之信道区域之上,源极/汲极区域相邻于此信道区域,以及导电接触层位于此源极/汲极区域之上。此源极/汲极区域包括第一磊晶层具有第一材料组成,以及第二磊晶层形成于此第一磊晶层之上。此第二磊晶层具有不同于此第一材料组成的第二材料组成。导电接触层接触第一及第二磊晶层,且此导电接触层之底部位于此第一磊晶层之最上部分之下。
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公开(公告)号:TW201347049A
公开(公告)日:2013-11-16
申请号:TW102114534
申请日:2013-04-24
Inventor: 蕭文助 , HSIAO, WEN CHU , 庄麗雲 , CHONG, LAI WAN , 王俊傑 , WANG, CHUN CHIEH , 周櫻旻 , CHOU, YING MIN , 葛翔翔 , KO, HSIANG HSIANG , 王英郎 , WANG, YING LANG
IPC: H01L21/336 , H01L21/28
CPC classification number: H01L29/7848 , H01L21/28518 , H01L29/0603 , H01L29/0847 , H01L29/161 , H01L29/165 , H01L29/66515 , H01L29/6653 , H01L29/66636 , H01L29/7845 , H01L29/7847
Abstract: 在一種半導體裝置的製作方法中,於一基板上形成一源極/汲極特徵部件,於源極/汲極特徵部件上形成一含矽層,於含矽層上形成一金屬層,並由金屬層與含矽層之矽形成一金屬矽化物。
Abstract in simplified Chinese: 在一种半导体设备的制作方法中,于一基板上形成一源极/汲极特征部件,于源极/汲极特征部件上形成一含硅层,于含硅层上形成一金属层,并由金属层与含硅层之硅形成一金属硅化物。
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公开(公告)号:TWI671808B
公开(公告)日:2019-09-11
申请号:TW106141146
申请日:2017-11-27
Inventor: 李昆穆 , LI, KUN MU , 陳兩儀 , CHEN, LIANG YI , 蕭文助 , HSIAO, WEN CHU
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公开(公告)号:TWI594332B
公开(公告)日:2017-08-01
申请号:TW102114534
申请日:2013-04-24
Inventor: 蕭文助 , HSIAO, WEN CHU , 庄麗雲 , CHONG, LAI WAN , 王俊傑 , WANG, CHUN CHIEH , 周櫻旻 , CHOU, YING MIN , 葛翔翔 , KO, HSIANG HSIANG , 王英郎 , WANG, YING LANG
IPC: H01L21/336 , H01L21/28
CPC classification number: H01L29/7848 , H01L21/28518 , H01L29/0603 , H01L29/0847 , H01L29/161 , H01L29/165 , H01L29/66515 , H01L29/6653 , H01L29/66636 , H01L29/7845 , H01L29/7847
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