於芳族聚醯亞胺膜中產生通孔之方法
    3.
    发明专利
    於芳族聚醯亞胺膜中產生通孔之方法 失效
    于芳族聚酰亚胺膜中产生通孔之方法

    公开(公告)号:TW574261B

    公开(公告)日:2004-02-01

    申请号:TW090121227

    申请日:2001-08-28

    IPC分类号: C08G B23K

    摘要: 一種聚醯亞胺膜,其非常適用於在表面上具有經層壓或沈積之金屬膜的芳族聚醯亞胺膜中產生通孔之方法,其係藉由在該聚醯亞胺膜上施加雷射光束進行,該聚醯亞胺膜係由一層高Tg芳族聚醯亞胺層與一層低Tg芳族聚醯亞胺層組成為佳,該高Tg芳族聚醯亞胺層的Tg為300℃或以上,或是沒有顯著的Tg,而且係由一種聯苯四羧酸化合物與一種芳族二胺化合物所製造,該低Tg芳族聚醯亞胺層的 Tg低於375℃但是高於200℃,其先決條件係,該低Tg聚醯亞胺層的Tg低於該高Tg聚醯亞胺層的Tg,而且該金屬膜層壓或是沈積在該低Tg聚醯亞胺層不面向該高Tg聚醯亞胺層一側的表面上。

    简体摘要: 一种聚酰亚胺膜,其非常适用于在表面上具有经层压或沉积之金属膜的芳族聚酰亚胺膜中产生通孔之方法,其系借由在该聚酰亚胺膜上施加激光光束进行,该聚酰亚胺膜系由一层高Tg芳族聚酰亚胺层与一层低Tg芳族聚酰亚胺层组成为佳,该高Tg芳族聚酰亚胺层的Tg为300℃或以上,或是没有显着的Tg,而且系由一种联苯四羧酸化合物与一种芳族二胺化合物所制造,该低Tg芳族聚酰亚胺层的 Tg低于375℃但是高于200℃,其先决条件系,该低Tg聚酰亚胺层的Tg低于该高Tg聚酰亚胺层的Tg,而且该金属膜层压或是沉积在该低Tg聚酰亚胺层不面向该高Tg聚酰亚胺层一侧的表面上。