記憶體電路以及用於操作三維交叉點記憶體陣列的方法
    2.
    发明专利
    記憶體電路以及用於操作三維交叉點記憶體陣列的方法 审中-公开
    内存电路以及用于操作三维交叉点内存数组的方法

    公开(公告)号:TW202008357A

    公开(公告)日:2020-02-16

    申请号:TW107134197

    申请日:2018-09-27

    IPC分类号: G11C8/16 G11C11/40

    摘要: 一種積體電路,包括三維交叉點記憶體陣列,此三維交叉點記憶體陣列具有設置在N個第一存取線層和P個第二存取線層的交叉點處的M層的記憶胞。此積體電路還包括第一和第二組的第一存取線驅動器。第一組第一存取線驅動器可操作地耦接以將共第一操作電壓施加到奇數的第一存取線層中所選擇的第一存取線。第二組第一存取線驅動器可操作地耦合以將共第一操作電壓施加到偶數的第一存取線層中所選擇的第一存取線。多組的第二存取線驅動器可操作地配置來將第二操作電壓施加到所選擇的第二存取線層中所選擇的第二存取線。

    简体摘要: 一种集成电路,包括三维交叉点内存数组,此三维交叉点内存数组具有设置在N个第一存取线层和P个第二存取线层的交叉点处的M层的记忆胞。此集成电路还包括第一和第二组的第一存取线驱动器。第一组第一存取线驱动器可操作地耦接以将共第一操作电压施加到奇数的第一存取线层中所选择的第一存取线。第二组第一存取线驱动器可操作地耦合以将共第一操作电压施加到偶数的第一存取线层中所选择的第一存取线。多组的第二存取线驱动器可操作地配置来将第二操作电压施加到所选择的第二存取线层中所选择的第二存取线。

    記憶體裝置與其操作方法
    6.
    发明专利
    記憶體裝置與其操作方法 审中-公开
    内存设备与其操作方法

    公开(公告)号:TW201642272A

    公开(公告)日:2016-12-01

    申请号:TW104117258

    申请日:2015-05-28

    IPC分类号: G11C29/42

    摘要: 一種記憶體裝置與其操作方法,且所述記憶體裝置的操作方法包括下列步驟。執行程式化操作以將原始資料寫入至記憶體裝置中的第一記憶體陣列。驗證第一記憶體陣列中的原始資料,並依據驗證結果而決定是否產生寫入訊號。依據原始資料產生錯誤校正碼,並將錯誤校正碼與寫入位址暫存在記憶體裝置中的緩衝電路。以及,當寫入訊號被產生時,將緩衝電路中的錯誤校正碼與寫入位址寫入至記憶體裝置中的第二記憶體陣列。

    简体摘要: 一种内存设备与其操作方法,且所述内存设备的操作方法包括下列步骤。运行进程化操作以将原始数据写入至内存设备中的第一内存数组。验证第一内存数组中的原始数据,并依据验证结果而决定是否产生写入信号。依据原始数据产生错误校正码,并将错误校正码与写入位址暂存在内存设备中的缓冲电路。以及,当写入信号被产生时,将缓冲电路中的错误校正码与写入位址写入至内存设备中的第二内存数组。