減少嵌段共聚物有序膜中缺陷之方法
    3.
    发明专利
    減少嵌段共聚物有序膜中缺陷之方法 审中-公开
    减少嵌段共聚物有序膜中缺陷之方法

    公开(公告)号:TW201734103A

    公开(公告)日:2017-10-01

    申请号:TW105141872

    申请日:2016-12-16

    CPC classification number: G03F7/0002 C08F297/02

    Abstract: 本發明係關於用於減少沉積於表面上的含有嵌段共聚物(BCP)之組成物的有序膜中缺陷數量而不降低其他臨界結構化參數(動力學、厚度、臨界尺寸一致性),其奈米域取向不拘(垂直於基板、平行於基板等),的方法;此組成物具有介於10.5與40間之乘積χ effective*N(其中χ effective=在研究的該嵌段間之弗洛里-赫金斯參數(Flory-Huggins parameter),且N為這些嵌段之總聚合度)。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明系关于用于减少沉积于表面上的含有嵌段共聚物(BCP)之组成物的有序膜中缺陷数量而不降低其他临界结构化参数(动力学、厚度、临界尺寸一致性),其奈米域取向不拘(垂直于基板、平行于基板等),的方法;此组成物具有介于10.5与40间之乘积χ effective*N(其中χ effective=在研究的该嵌段间之弗洛里-赫金斯参数(Flory-Huggins parameter),且N为这些嵌段之总聚合度)。

    用於改善嵌段共聚物之有序膜的臨界尺寸均勻性之方法
    4.
    发明专利
    用於改善嵌段共聚物之有序膜的臨界尺寸均勻性之方法 审中-公开
    用于改善嵌段共聚物之有序膜的临界尺寸均匀性之方法

    公开(公告)号:TW201734101A

    公开(公告)日:2017-10-01

    申请号:TW105141869

    申请日:2016-12-16

    CPC classification number: G03F7/0002 C08F297/02

    Abstract: 本發明係關於下述方法:用於改善沉積於表面上的含有嵌段共聚物之組成物的有序膜之臨界尺寸均勻性而不會降低其他臨界結構化參數(動力學、結構化缺陷、週期、厚度),此取決於方向(垂直於基板、平行於基板等);此組成物具有介於10.5與40間之乘積χ effective*N(其中χ effective=在考慮的二個嵌段之間的弗洛里-赫金斯參數(Flory-Huggins parameter),且N為這二個嵌段之總聚合度)。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明系关于下述方法:用于改善沉积于表面上的含有嵌段共聚物之组成物的有序膜之临界尺寸均匀性而不会降低其他临界结构化参数(动力学、结构化缺陷、周期、厚度),此取决于方向(垂直于基板、平行于基板等);此组成物具有介于10.5与40间之乘积χ effective*N(其中χ effective=在考虑的二个嵌段之间的弗洛里-赫金斯参数(Flory-Huggins parameter),且N为这二个嵌段之总聚合度)。

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