一種通過光學顯微鏡觀測奈米結構的方法
    2.
    发明专利
    一種通過光學顯微鏡觀測奈米結構的方法 审中-公开
    一种通过光学显微镜观测奈米结构的方法

    公开(公告)号:TW201534968A

    公开(公告)日:2015-09-16

    申请号:TW103105564

    申请日:2014-02-19

    Abstract: 本發明公開了一種通過光學顯微鏡觀測奈米結構的方法。該方法包括以下步驟:S1,提供一待觀測樣品,該待觀測樣品具有奈米結構;S2,將上述待觀測樣品放置在所述光學顯微鏡系統的光學顯微鏡的載物臺上;以及,S3,向所述待觀測樣品表面通入蒸氣。由於蒸氣可以在載物臺上的樣品的奈米結構表面形成液滴,從可以使得光學顯微鏡直接觀測到該具有奈米結構的樣品形態。該光學顯微鏡系統具有效率高,成本低的優點,從而可以大大提高奈米結構的觀測效率。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明公开了一种通过光学显微镜观测奈米结构的方法。该方法包括以下步骤:S1,提供一待观测样品,该待观测样品具有奈米结构;S2,将上述待观测样品放置在所述光学显微镜系统的光学显微镜的载物台上;以及,S3,向所述待观测样品表面通入蒸气。由于蒸气可以在载物台上的样品的奈米结构表面形成液滴,从可以使得光学显微镜直接观测到该具有奈米结构的样品形态。该光学显微镜系统具有效率高,成本低的优点,从而可以大大提高奈米结构的观测效率。

    一種光學顯微鏡的輔助裝置
    3.
    发明专利
    一種光學顯微鏡的輔助裝置 审中-公开
    一种光学显微镜的辅助设备

    公开(公告)号:TW201534967A

    公开(公告)日:2015-09-16

    申请号:TW103105563

    申请日:2014-02-19

    CPC classification number: G01N21/47 B82Y15/00 G01N21/4738 G02B21/365

    Abstract: 本發明公開了一種光學顯微鏡的輔助裝置,該光學顯微鏡的輔助裝置包括一鼓氣部、一蒸氣發生部以及一導汽管。所述鼓氣部與所述蒸氣發生部的一端相互連接,所述蒸氣發生部的另一端與所述導汽管連接,所述鼓氣部向所述蒸氣發生部通入氣體,從而將蒸氣發生部產生的蒸氣帶入導汽管中。該光學顯微鏡的輔助裝置,用於將蒸氣直接輸送至光學顯微鏡的載物臺上的樣品上。由於蒸氣可以在載物臺上的樣品的奈米結構表面形成液滴,從可以使得光學顯微鏡直接觀測到該具有奈米結構的樣品形態。該光學顯微鏡系統具有效率高,成本低的優點,從而可以大大提高奈米結構的觀測效率。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明公开了一种光学显微镜的辅助设备,该光学显微镜的辅助设备包括一鼓气部、一蒸气发生部以及一导汽管。所述鼓气部与所述蒸气发生部的一端相互连接,所述蒸气发生部的另一端与所述导汽管连接,所述鼓气部向所述蒸气发生部通入气体,从而将蒸气发生部产生的蒸气带入导汽管中。该光学显微镜的辅助设备,用于将蒸气直接输送至光学显微镜的载物台上的样品上。由于蒸气可以在载物台上的样品的奈米结构表面形成液滴,从可以使得光学显微镜直接观测到该具有奈米结构的样品形态。该光学显微镜系统具有效率高,成本低的优点,从而可以大大提高奈米结构的观测效率。

    一種光學顯微鏡系統
    9.
    发明专利
    一種光學顯微鏡系統 审中-公开
    一种光学显微镜系统

    公开(公告)号:TW201534966A

    公开(公告)日:2015-09-16

    申请号:TW103105562

    申请日:2014-02-19

    Abstract: 本發明公開了一種光學顯微鏡系統。該光學顯微鏡系統包括一光學顯微鏡以及一蒸氣提供裝置。該光學顯微鏡包括目鏡、物鏡、載物台、聚光照明系統、和調焦機構。該蒸氣提供裝置包括一導汽管,用於將蒸氣直接輸送至載物臺上的樣品上。由於蒸氣可以在載物臺上的樣品的奈米結構表面形成液滴,從而可以使得光學顯微鏡直接觀測到該具有奈米結構的樣品形態。該光學顯微鏡系統具有效率高,成本低的優點,從而可以大大提高奈米結構的觀測效率。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明公开了一种光学显微镜系统。该光学显微镜系统包括一光学显微镜以及一蒸气提供设备。该光学显微镜包括目镜、物镜、载物台、聚光照明系统、和调焦机构。该蒸气提供设备包括一导汽管,用于将蒸气直接输送至载物台上的样品上。由于蒸气可以在载物台上的样品的奈米结构表面形成液滴,从而可以使得光学显微镜直接观测到该具有奈米结构的样品形态。该光学显微镜系统具有效率高,成本低的优点,从而可以大大提高奈米结构的观测效率。

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