金屬墨水組合物、導電性圖案、方法及裝置 METAL INK COMPOSITIONS, CONDUCTIVE PATTERNS, METHODS, AND DEVICES
    5.
    发明专利
    金屬墨水組合物、導電性圖案、方法及裝置 METAL INK COMPOSITIONS, CONDUCTIVE PATTERNS, METHODS, AND DEVICES 审中-公开
    金属墨水组合物、导电性图案、方法及设备 METAL INK COMPOSITIONS, CONDUCTIVE PATTERNS, METHODS, AND DEVICES

    公开(公告)号:TW201124492A

    公开(公告)日:2011-07-16

    申请号:TW099138535

    申请日:2010-11-09

    IPC分类号: C09D H01B H05K H01L

    摘要: 本發明係關於在沈積及處理時適於形成導電性金屬膜及線之金屬錯合物。金屬錯合物可為共價錯合物且可包含第一配位體及第二配位體。可使用低溫處理將錯合物轉化為金屬。該金屬膜及線可具有低電阻率及與純金屬類似之功函數。可使用鑄幣金屬(例如Ag、Au、Cu)。配位體可為配位鍵結型配位體,包括胺、不對稱胺及羧酸根配位體。可使用硫錯合物。可使用羧酸根配位體。錯合物可具有高濃度之金屬且可溶於芳烴溶劑中。配位體可適於充分揮發。可進行噴墨印刷。可實現具有高電導率之金屬的高產率。

    简体摘要: 本发明系关于在沉积及处理时适于形成导电性金属膜及线之金属错合物。金属错合物可为共价错合物且可包含第一配位体及第二配位体。可使用低温处理将错合物转化为金属。该金属膜及线可具有低电阻率及与纯金属类似之功函数。可使用铸币金属(例如Ag、Au、Cu)。配位体可为配位键结型配位体,包括胺、不对称胺及羧酸根配位体。可使用硫错合物。可使用羧酸根配位体。错合物可具有高浓度之金属且可溶于芳烃溶剂中。配位体可适于充分挥发。可进行喷墨印刷。可实现具有高电导率之金属的高产率。

    氧化物介電層之形成方法以及具有藉由該形成方法獲致之氧化物介電層之電容層形成材料
    6.
    发明专利
    氧化物介電層之形成方法以及具有藉由該形成方法獲致之氧化物介電層之電容層形成材料 失效
    氧化物介电层之形成方法以及具有借由该形成方法获致之氧化物介电层之电容层形成材料

    公开(公告)号:TW200644003A

    公开(公告)日:2006-12-16

    申请号:TW095115244

    申请日:2006-04-28

    IPC分类号: H01G H05K

    摘要: 本發明之目的在於提供一種氧化物介電層之形成方法,其係使用溶膠–凝膠法形成介電層,該介電層不易受到蝕刻液之損傷,且高電容量等介電特性佳者。為達成該目的,於以溶膠–凝膠法之氧化物介電層之形成方法,採用一種氧化物介電層之形成方法等,其特徵在於:包括以下(a)~(c)之步驟。(a)步驟:調製製造所期望的氧化物介電層之溶膠–凝膠溶液之溶液調製步驟。(b)步驟:將上述溶膠–凝膠塗工於金屬基材之表面,於含氧氣氛中乾燥,於含氧氣氛中進行熱分解之一連步驟為1單位步驟,反覆複數次該1單位步驟,於1單位步驟與1單位步驟之間任意設550℃~1000℃之惰性氣體置換等預備燒處理進行膜厚調整之塗工步驟。(c)步驟:最後進行550℃~1000℃之惰性氣體置換等之燒處理使之成介電層之燒步驟。

    简体摘要: 本发明之目的在于提供一种氧化物介电层之形成方法,其系使用溶胶–凝胶法形成介电层,该介电层不易受到蚀刻液之损伤,且高电容量等介电特性佳者。为达成该目的,于以溶胶–凝胶法之氧化物介电层之形成方法,采用一种氧化物介电层之形成方法等,其特征在于:包括以下(a)~(c)之步骤。(a)步骤:调制制造所期望的氧化物介电层之溶胶–凝胶溶液之溶液调制步骤。(b)步骤:将上述溶胶–凝胶涂工于金属基材之表面,于含氧气氛中干燥,于含氧气氛中进行热分解之一连步骤为1单位步骤,反复复数次该1单位步骤,于1单位步骤与1单位步骤之间任意设550℃~1000℃之惰性气体置换等预备烧处理进行膜厚调整之涂工步骤。(c)步骤:最后进行550℃~1000℃之惰性气体置换等之烧处理使之成介电层之烧步骤。

    低溫高導電膜層之方法與結構
    8.
    发明专利
    低溫高導電膜層之方法與結構 有权
    低温高导电膜层之方法与结构

    公开(公告)号:TWI243004B

    公开(公告)日:2005-11-01

    申请号:TW092137729

    申请日:2003-12-31

    IPC分类号: H05K H01B

    摘要: 本發明係為一種低溫高導電膜層之方法與結構,該方法係在一基板上製作一低溫高導電膜之方法,該方法包括形成複數個片狀金屬層於該基板上,加入複數個球狀奈米級金屬微粒子於片狀金屬層間,及加入複數個混合金屬前驅物於該複數個片狀金屬層之間。本發明亦提供一結構,該結構係包括一基板,一主架構層,該主架構層係形成於該基板上,該主架構層由複數個片狀金屬及複數個奈米級球狀金屬微粒子所組合而成,及一網狀連續物,係設置於該主架構層內,該網狀連續物係由無機鹽類及金屬前驅物所組成。應用本發明之方法及結構,可創作出一種低溫即可成近純金屬導電率的機構,使應用於一般有機基板或其他材質的基板,在低處理溫度下,具有高導電率的電極材料。

    简体摘要: 本发明系为一种低温高导电膜层之方法与结构,该方法系在一基板上制作一低温高导电膜之方法,该方法包括形成复数个片状金属层于该基板上,加入复数个球状奈米级金属微粒子于片状金属层间,及加入复数个混合金属前驱物于该复数个片状金属层之间。本发明亦提供一结构,该结构系包括一基板,一主架构层,该主架构层系形成于该基板上,该主架构层由复数个片状金属及复数个奈米级球状金属微粒子所组合而成,及一网状连续物,系设置于该主架构层内,该网状连续物系由无机盐类及金属前驱物所组成。应用本发明之方法及结构,可创作出一种低温即可成近纯金属导电率的机构,使应用于一般有机基板或其他材质的基板,在低处理温度下,具有高导电率的电极材料。

    低溫高導電膜層之方法與結構
    10.
    发明专利
    低溫高導電膜層之方法與結構 审中-公开
    低温高导电膜层之方法与结构

    公开(公告)号:TW200522811A

    公开(公告)日:2005-07-01

    申请号:TW092137729

    申请日:2003-12-31

    IPC分类号: H05K H01B

    摘要: 本發明係為一種低溫高導電膜層之方法與結構,該方法係在一基板上製作一低溫高導電膜之方法,該方法包括形成複數個片狀金屬層於該基板上,加入複數個球狀奈米級金屬微粒子於片狀金屬層間,及加入複數個混合金屬前驅物於該複數個片狀金屬層之間。本發明亦提供一結構,該結構係包括一基板,一主架構層,該主架構層係形成於該基板上,該主架構層由複數個片狀金屬及複數個奈米級球狀金屬微粒子所組合而成,及一網狀連續物,係設置於該主架構層內,該網狀連續物係由無機鹽類及金屬前驅物所組成。應用本發明之方法及結構,可創作出一種低溫即可成近純金屬導電率的機構,使應用於一般有機基板或其他材質的基板,在低處理溫度下,具有高導電率的電極材料。

    简体摘要: 本发明系为一种低温高导电膜层之方法与结构,该方法系在一基板上制作一低温高导电膜之方法,该方法包括形成复数个片状金属层于该基板上,加入复数个球状奈米级金属微粒子于片状金属层间,及加入复数个混合金属前驱物于该复数个片状金属层之间。本发明亦提供一结构,该结构系包括一基板,一主架构层,该主架构层系形成于该基板上,该主架构层由复数个片状金属及复数个奈米级球状金属微粒子所组合而成,及一网状连续物,系设置于该主架构层内,该网状连续物系由无机盐类及金属前驱物所组成。应用本发明之方法及结构,可创作出一种低温即可成近纯金属导电率的机构,使应用于一般有机基板或其他材质的基板,在低处理温度下,具有高导电率的电极材料。