公开(公告)号：US20150091596A1

公开(公告)日：2015-04-02

申请号：US14564991

申请日：2014-12-09

Applicant: FormFactor, Inc.

Inventor： January Kister ,  Alex Shtarker

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/04

CPC classification number: G01R31/2887 ,  G01R1/0408 ,  G01R1/07314 ,  G01R1/07342 ,  G01R1/07357 ,  G01R1/07371 ,  G01R3/00 ,  Y10T29/49826

Abstract: A retention arrangement that includes one or more templates for securing and aligning probes for testing a device under test.

Abstract translation: 一种保留装置，包括一个或多个模板，用于固定和对准探头以测试被测设备。

公开(公告)号：US09310428B2

公开(公告)日：2016-04-12

申请号：US14564991

申请日：2014-12-09

Applicant: FormFactor, Inc.

Inventor： January Kister ,  Alex Shtarker

IPC: G01R31/20 ,  G01R31/28 ,  G01R1/073 ,  G01R1/04 ,  G01R3/00

CPC classification number: G01R31/2887 ,  G01R1/0408 ,  G01R1/07314 ,  G01R1/07342 ,  G01R1/07357 ,  G01R1/07371 ,  G01R3/00 ,  Y10T29/49826

Abstract: A retention arrangement that includes one or more templates for securing and aligning probes for testing a device under test.

Abstract translation: 一种保留装置，包括一个或多个模板，用于固定和对准探头以测试被测设备。