公开(公告)号：US06781889B2

公开(公告)日：2004-08-24

申请号：US10247572

申请日：2002-09-19

申请人： Jörg Kliewer ,  Rupert Lukas ,  Manfred Pröll ,  Stephan Schröder

发明人： Jörg Kliewer ,  Rupert Lukas ,  Manfred Pröll ,  Stephan Schröder

IPC分类号： G11C1604

CPC分类号： G11C29/34 ,  G11C29/26 ,  G11C2029/1204 ,  G11C2029/1802 ,  G11C2029/2602

摘要： An additional test mode is introduced in a semiconductor memory. A multiplicity of word lines are simultaneously activated by a word line decoder in the test mode. After a potential equalization of complementary bit lines, a logic “0” or a logic “1” is applied to an equalization circuit via a voltage generator. It is thus possible for the entire memory cell array to be preallocated an identical data value or, in strip form, alternating data values. Test time is thereby saved.

摘要翻译： 在半导体存储器中引入另外的测试模式。 在测试模式下，字线解码器同时激活多条字线。 在互补位线的电位均衡之后，通过电压发生器将逻辑“0”或逻辑“1”施加到均衡电路。 因此，可以将整个存储单元阵列预先分配相同的数据值，或者以带状形式预分配交替的数据值。 从而节省测试时间。

公开(公告)号：US07428673B2

公开(公告)日：2008-09-23

申请号：US11214482

申请日：2005-08-29

申请人： Jörg Kliewer ,  Martin Versen

发明人： Jörg Kliewer ,  Martin Versen

IPC分类号： G11C29/00 ,  G01R31/28

CPC分类号： G11C29/02 ,  G11C5/04 ,  G11C29/025

摘要： The invention relates to a test method for determining a wire configuration for a circuit carrier having at least one component arranged thereon, where internal lines in the component are connected to component connections in a prescribed order, and where the component connections are wired to connections on the circuit carrier. According to the method, a respective prescribed test signal is applied to each internal line of the component using a controllable test signal generator integrated in the component. Output signals applied to the connections of the circuit carrier are tapped off. Thereafter, the respective output signals tapped off are identified with the corresponding test signals applied to the internal lines of the component using an external test apparatus for determining the wire configuration between the component connections and circuit carrier connections.

摘要翻译： 本发明涉及一种用于确定具有布置在其上的至少一个部件的电路载体的导线配置的测试方法，其中部件中的内部线以规定的顺序连接到部件连接，并且其中部件连接被连接到 电路载体。 根据该方法，使用集成在该部件中的可控测试信号发生器将各个规定的测试信号施加到部件的每条内部线路。 施加到电路载体的连接的输出信号被分接。 此后，使用用于确定部件连接和电路载体连接之间的导线配置的外部测试装置，利用施加到部件的内部线路的相应测试信号来识别各个输出信号。

公开(公告)号：US07068216B2

公开(公告)日：2006-06-27

申请号：US10816662

申请日：2004-04-02

申请人： Jörg Kliewer ,  Georg Weiss

发明人： Jörg Kliewer ,  Georg Weiss

IPC分类号： G01S7/40

CPC分类号： G01S13/343 ,  G01S7/352 ,  G01S7/4021 ,  G01S2007/356

摘要： A method for the linearization of frequency modulated continuous wave (FMCW) radar devices having non-linear, ramp-shaped, modulated transmitter frequency progression x(t). With this invention, a correction phase term for compensation of the phase error in the reception signal q(t) is calculated on the receiver side in this device.

摘要翻译： 一种用于线性化具有非线性，斜坡形调制发射机频率进展x（t）的调频连续波（FMCW）雷达装置的方法。 利用本发明，在该装置中的接收机侧计算用于补偿接收信号q（t）中的相位误差的校正相位项。

公开(公告)号：US06840778B2

公开(公告)日：2005-01-11

申请号：US10340464

申请日：2003-01-10

申请人： Claus Engelhardt ,  Jörg Kliewer ,  Rupert Lukas ,  Jan Spitz

发明人： Claus Engelhardt ,  Jörg Kliewer ,  Rupert Lukas ,  Jan Spitz

IPC分类号： G01R1/04 ,  H01R12/70 ,  H05K7/10 ,  H01R12/00

CPC分类号： G01R1/0466 ,  H01R12/7076 ,  H01R2201/20 ,  H05K7/1023

摘要： A frequent problem that arises in particular with regard to the analysis of memory components is that the memory components have to be tested under realistic conditions in a real application environment. In practice, such components are normally firmly soldered in on a module carrier. Owing to the thermal load during soldering, this solution cannot always be used and, furthermore, the contacts that are made should be detachable. Commercially available contact bases with detachable contacts cannot be used, however, since their dimensions are too large and they do not fit in the available surface area on the module carrier. The novel contact base is sufficiently small that a plurality of contact bases can be arranged closely one next to the other in a row in a very small space on a module carrier. The module carrier has plug contacts to be plugged into a commercial socket in order to make contact.

摘要翻译： 特别是关于存储器组件分析的频繁问题是存储器组件必须在实际应用环境中的现实条件下进行测试。 实际上，这些组件通常牢固地焊接在模块载体上。 由于焊接时的热负荷，该溶液不能总是被使用，此外，制成的触点应该是可拆卸的。 不可以使用具有可拆卸接触件的市售接触基座，但是由于它们的尺寸太大并且它们不适合于模块载体上的可用表面积。 新颖的接触基底足够小，使得多个接触基底可以在模块载体上的非常小的空间中彼此紧邻地布置成一排。 模块托架具有插头接头以插入商业插座以便接触。